一种电池片测试机构制造技术

技术编号:16699641 阅读:48 留言:0更新日期:2017-12-02 11:39
本发明专利技术公开了一种电池片测试机构,电池片的正反面电极不对应,测试机构包括立板、在立板上上下滑动的上测试探针组件和下测试探针组件,上测试探针组件包括上探针排和固定在上探针排上的上探针,下测试探针组件包括下探针排和固定在下探针排上的下探针,上探针与电池片的正面电极对应,下探针与电池片的反面电极对应;测试机构还包括虚接探针,虚接探针固定在上探针排上并与下探针相对应,或者,虚接探针固定在下探针排上并与上探针相对应,测试时,上探针、下探针和虚接探针均抵在电池片上。该电池片测试机构结构简单,可在电池片进行测试时,使电池片上下表面的受力均衡,从而降低电池片的碎片率。

A battery sheet testing mechanism

The invention discloses a battery testing mechanism does not correspond to positive and negative electrode cell, the test mechanism includes a probe assembly and test probe assembly test vertical plate, the vertical plate slide up and down on the test probe assembly includes a probe fixed on the probe in the row and the row of the test probe. The probe assembly includes a probe and probe in the next row of fixed probe row, positive electrode probe and the cell corresponding to the negative electrode, corresponding probe and cell; testing mechanism also includes a virtual ground probe, the probe is fixed on the probe on the virtual connection line and should, with relatively lower probe or false. The probe is fixed on the probe row and should, with the relative probe, probe, probe and probe are against the virtual connection of solar cell. The testing mechanism of the cell piece is simple in structure, and can balance the force on the upper and lower surfaces of the battery sheet when testing the battery piece, so as to reduce the fragmentation rate of the battery chip.

【技术实现步骤摘要】
一种电池片测试机构
本专利技术涉及电池片制造
,具体涉及一种电池片测试机构。
技术介绍
电池片在正负电极制成之后,需要根据自身的发电效率分成各个等级,以便于后续的组装和确定电池片的价格,经过效率等级区分后才能对成品电池片进行包装,而电池片测试机构能测试出电池片的效率,区分电池片属于哪个效率区间,电池片的定价也是由电池片的效率高低决定的。现有技术中,电池片测试机构包括可上下升降的上测试探针组件和可上下升降的下测试探针组件,上测试探针组件位于电池片的上方,下测试探针组件位于电池片的下方,测试时,上测试探针组件和下测试探针组件相向运动夹紧电池片进行测试,这种电池片测试机构所测试的电池片的正反面电极结构是对应的,测试时,上测试探针组件和下测试探针组件作用在电池片上的力相对应可互相抵消,从而防止电池片破碎。但这种测试机构具有一定的局限性,只能对正反面电极结构对应的电池片进行测试,而对于正反面电极结构不对应的电池片,例如叠瓦电池,由于电池片上下受力不均则容易导致电池片破碎。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术中的问题提供一种可对正反面电极结构不对应的电池片进行测试的电池片测试机构。为达到上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种电池片测试机构,所述电池片的正反面电极结构不对应,所述测试机构包括立板、能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上测试探针组件和下测试探针组件,所述上测试探针组件位于所述电池片的上方,所述下测试探针组件位于所述电池片的下方,所述上测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上探针排和固定设置在所述上探针排上的多个上探针,所述下测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的下探针排和固定设置在所述下探针排上的多个下探针,所述上探针在所述上探针排上的位置与所述电池片的正面的电极相对应,所述下探针在所述下探针排上的位置与所述电池片的反面的电极相对应,测试时,多个所述上探针之间以及所述上探针与所述电池片的正面电极之间相导通,多个所述下探针之间以及所述下探针与所述电池片的负面电极之间相导通;所述测试机构还包括多个虚接探针,多个所述虚接探针之间不导通,所述虚接探针固定设置在所述上探针排上,且所述虚接探针在所述上探针排上的位置与所述下探针的位置相对应,所述虚接探针与所述上探针和所述电池片的正面电极均不导通,或者,所述虚接探针固定设置在所述下探针排上,且所述虚接探针在所述下探针排上的位置与所述上探针的位置相对应,所述虚接探针与所述下探针和所述电池片的负面电极均不导通,当所述电池片进行测试时,所述上探针、所述下探针和所述虚接探针均抵设在所述电池片上。优选地,所述测试机构还包括在所述电池片进行测试时用于放置所述电池片的托盘组件,所述托盘组件能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上,所述托盘组件位于所述上测试探针组件和所述下测试探针组件之间。进一步地,所述电池片经皮带传送机构传送到所述托盘组件上进行测试,所述皮带传送机构包括传送带,所述托盘组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的底板、固定设置在所述底板上的多块托板,多块所述托板依次顺序间隔设置,每相邻两块所述托板之间形成一容纳所述传送带钩槽,所述钩槽的宽度大于所述传送带的宽度,当对所述电池片进行测试时,所述电池片位于所述托板上,所述传送带位于所述钩槽内。更进一步地,所述底板和所述托板上均设有供所述下探针穿过的通孔。更进一步地,所述底板和所述托板均由绝缘材料制成。一种具体的实施方式,所述传送带设有两条,所述托板设有三块,三块所述托板之间形成两个所述钩槽,两个所述沟槽的中心间的距离与两条所述传送带的中心间的距离相同。进一步地,所述测试机构还包括固定设置在所述立板上且沿上下方向延伸的滑轨、能够沿所述滑轨的长度延伸方向滑动地设置在所述滑轨上的滑块,所述滑块设有三组,三组所述滑块沿上下方向依次顺序设置在所述滑轨上,所述上测试探针组件固定设置在上部的所述滑块上,所述托盘组件固定设置在中间的所述滑块上,所述下测试探针组件固定设置在下部的所述滑块上。更进一步地,所述滑轨分别设置在所述立板的两侧,每侧的所述滑轨上分别设有三组所述滑块。进一步地,所述测试机构还包括分别驱动所述上测试探针组件、所述下测试探针和所述托盘组件在所述立板上上下滑动的三组驱动机构。更进一步地,每组所述驱动机构均包括电机和丝杆,所述丝杆与所述电机的电机轴连接,所述测试机构还包括与所述丝杆通过螺纹相配合的连接件,所述上测试探针组件、所述下测试探针组件和所述托盘组件分别与所述连接件相固定连接。由于上述技术方案的运用,本专利技术与现有技术相比具有下列优点:本专利技术的电池片测试机构结构简单,通过在上测试探针组件或下测试探针组件上设置虚接探针,可在电池片进行测试时,使电池片上下表面的受力均衡,从而降低电池片的碎片率。附图说明附图1为本专利技术的电池片测试机构的结构示意图;附图2为本专利技术的电池片测试机构的侧视图;附图3为本专利技术的电池片测试机构的后视图。其中:1、立板;2、上测试探针组件;21、上探针排;22、上探针;3、下测试探针组件;31、下探针排;32、下探针;4、托盘组件;41、底板;42、托板;43、钩槽;5、虚接探针;61、电机;62、丝杆;63、连接件;71、滑轨;72、滑块。具体实施方式下面结合附图来对本专利技术的技术方案作进一步的阐述。本专利技术的电池片测试机构用于对正反面电极结构不对应的电池片进行测试。如图1~图3所示,该电池片测试机构包括立板1、上测试探针组件2、下测试探针组件3和托盘组件4。立板1沿上下方向延伸,上测试探针组件2、下测试探针组件3和托盘组件4均能够沿上下方向滑动地设置在立板1上,上测试探针组件2位于电池片的上方,下测试探针组件3位于电池片的下方,托盘组件4设置在上测试探针组件2和下测试探针组件3之间。上测试探针组件2包括能够沿上下方向滑动地设置在立板1上的上探针排21和固定设置在上探针排21上的多个上探针22,各个上探针22在上探针排21上的位置与电池片的正面的电极相对应,在对电池片进行测试时,各个上探针21之间以及上探针21与电池片的正面电极之间处于相互导通的状态。下测试探针组件3包括能够沿上下方向滑动地设置在立板1上的下探针排31和固定设置在下探针排31上的多个下探针32,各个下探针32在下探针排31上的位置与电池片的反面的电极相对应,在对电池片进行测试时,各个下探针32之间以及下探针32与电池片的负面电极之间处于相互导通的状态。由于电池片正反面电极不对应,使得上探针22和下探针32的位置不对应,为避免在对电池片测试时由于上探针22和下探针32的位置不对应而引起的电池片的碎片,该电池片测试机构还包括多个虚接探针5,多个虚接探针5之间不导通,虚接探针5可固定设置在上探针排21或下探针排31上,这根据电池片的正反面的电极结构来设定。当虚接探针5设置在上探针排21上时,其在上探针排21上的位置与下探针32的位置相对应,以抵消下探针32作用在电池片上的作用力,此时虚接探针5与上探针22和电池片的正面电极均不导通。当虚接探针5固定设置在下探针排31上时,其在下探针排31上的位置与上探针22的位置相对应,以抵消上探针22作用在电池片上的作用力,此时虚接探针5与下探针32和电池片本文档来自技高网...
一种电池片测试机构

【技术保护点】
一种电池片测试机构,其特征在于:所述电池片的正反面电极结构不对应,所述测试机构包括立板、能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上测试探针组件和下测试探针组件,所述上测试探针组件位于所述电池片的上方,所述下测试探针组件位于所述电池片的下方,所述上测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上探针排和固定设置在所述上探针排上的多个上探针,所述下测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的下探针排和固定设置在所述下探针排上的多个下探针,所述上探针在所述上探针排上的位置与所述电池片的正面的电极相对应,所述下探针在所述下探针排上的位置与所述电池片的反面的电极相对应,测试时,多个所述上探针之间以及所述上探针与所述电池片的正面电极之间相导通,多个所述下探针之间以及所述下探针与所述电池片的负面电极之间相导通;所述测试机构还包括多个虚接探针,多个所述虚接探针之间不导通,所述虚接探针固定设置在所述上探针排上,且所述虚接探针在所述上探针排上的位置与所述下探针的位置相对应,所述虚接探针与所述上探针和所述电池片的正面电极均不导通,或者,所述虚接探针固定设置在所述下探针排上,且所述虚接探针在所述下探针排上的位置与所述上探针的位置相对应,所述虚接探针与所述下探针和所述电池片的负面电极均不导通,当所述电池片进行测试时,所述上探针、所述下探针和所述虚接探针均抵设在所述电池片上。...

【技术特征摘要】
1.一种电池片测试机构,其特征在于:所述电池片的正反面电极结构不对应,所述测试机构包括立板、能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上测试探针组件和下测试探针组件,所述上测试探针组件位于所述电池片的上方,所述下测试探针组件位于所述电池片的下方,所述上测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上探针排和固定设置在所述上探针排上的多个上探针,所述下测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的下探针排和固定设置在所述下探针排上的多个下探针,所述上探针在所述上探针排上的位置与所述电池片的正面的电极相对应,所述下探针在所述下探针排上的位置与所述电池片的反面的电极相对应,测试时,多个所述上探针之间以及所述上探针与所述电池片的正面电极之间相导通,多个所述下探针之间以及所述下探针与所述电池片的负面电极之间相导通;所述测试机构还包括多个虚接探针,多个所述虚接探针之间不导通,所述虚接探针固定设置在所述上探针排上,且所述虚接探针在所述上探针排上的位置与所述下探针的位置相对应,所述虚接探针与所述上探针和所述电池片的正面电极均不导通,或者,所述虚接探针固定设置在所述下探针排上,且所述虚接探针在所述下探针排上的位置与所述上探针的位置相对应,所述虚接探针与所述下探针和所述电池片的负面电极均不导通,当所述电池片进行测试时,所述上探针、所述下探针和所述虚接探针均抵设在所述电池片上。2.根据权利要求1所述的电池片测试机构,其特征在于:所述测试机构还包括在所述电池片进行测试时用于放置所述电池片的托盘组件,所述托盘组件能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上,所述托盘组件位于所述上测试探针组件和所述下测试探针组件之间。3.根据权利要求2所述的电池片测试机构,其特征在于:所述电池片经皮带传送机构传送到所述托盘组件上进行测试,所述皮带传送机构包括传送带,所述托盘...

【专利技术属性】
技术研发人员:李强陆瑜
申请(专利权)人:苏州迈为科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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