一种多通道微波组件测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种多通道微波组件测试系统，具体包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件；所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块；所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。该测试模块操作简单、测试效率高、通用性强，有利于多通道微波组件的批量测试。

A multi-channel microwave component testing system

The invention discloses a multi channel microwave component test system, including the channel control module and test module for testing requirements to be tested according to the control of multi channel microwave component of each channel opening and closing the channel control module, the test module for testing the microwave components; the channel control module comprises a control signal transmission module. RF input module, microwave component placement module and RF output module, the RF input module and RF output module can be detachable connected with the mobile channel control module, the microwave module detachable components placed fixedly connected with the channel control module; the control signal transmission module is connected with the corresponding RF input module. The microwave component is connected to the RF module corresponding to the input module and the RF output module, the RF output module Correspond to the test module of the connection. The test module is simple in operation, high in test efficiency and strong in versatility, and is beneficial to the batch test of multi-channel microwave components.

【技术实现步骤摘要】
一种多通道微波组件测试系统
本专利技术涉及微波组件测试领域，尤其是一种多通道微波组件测试系统。
技术介绍
微波组件通过测试模块进行自动测试已经是当下高效工作效率的方法。专利技术专利“微波器件自动测试模块及方法”(CN105699826A)中提出了将微波组件通过测试夹具与测试模块相连，实现自动测试的方法，但是没有控制待测多通道微波组件各通道闭合模块的构造以及使用通道控制模块测试微波组件的方法。专利技术专利“多通道微波组件自动测试方法”(CN104076214A)中提出了通过虚拟仪器软件，虚拟仪器硬件，实现测试测量数据的采集、传输、分析处理、显示、储存等功能，但是没有提到采用在仪器和软件之间加入通道控制模块提效的方法，在实际操作中测试效率依旧不高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：针对上述存在的问题，提供一种利用通道控制模块控制待测多通道微波组件各通道闭合、测试效率高、通用性强的多通道微波组件测试系统。本专利技术采用的技术方案如下：一种多通道微波组件测试系统，具体包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件，所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块，所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。进一步地，所述射频输入模块和射频输出模块分别连接位于所述通道控制模块两端的杠杆。进一步地，所述射频输入模块和射频输出模块可在所述通道控制模块的导轨上移动。进一步地，可通过操作所述杠杆控制所述射频输入模块和射频输出模块在所述通道控制模块导轨上的移动。进一步地，可通过操作所述杠杆控制所述射频输入模块和射频输出模块与微波组件的连接和分离。综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：利用通道控制模块控制待测多通道微波组件各通道的开闭，测试模块根据测试要求对特定微波组件进行测试，测试人员不需要对微波组件进行单通道测试；射频输入/出模块和微波组件放置模块可拆卸连接在通道控制模块上，可根据不同类型待测微波组件硬件要求选择符合要求的模块，解决了测试模块通用性问题，节约了生产和管理成本；射频输入/出模块与设置在通道控制模块两端的杠杆相连，通过操作杠杆控制射频输入/出模块在通道控制模块上的移动，便于控制射频输入/出模块与微波组件的连接和分离，有效提高了测试效率，降低了生产成本，有利于多通道微波组件的批量测试。附图说明本专利技术将通过例子并参照附图的方式说明，其中：图1为本专利技术实施例提供的通道控制模块结构图其中1-射频输入模块、2-微波组件放置模块、3-射频输出模块、4-导轨、5-杠杆、6-通信控制模块图2为本专利技术实施例提供的射频输入/出模块的接口结构图其中7-接口、8-快插头、9-固定模块插入口具体实施方式本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。一种多通道微波组件测试系统，具体包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件；所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块；所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。图1为本专利技术实施例提供的通道控制模块结构图，如图1所示，所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块1、微波组件放置模块2和射频输出模块3，通道控制模块两端设置有杠杆5，射频输入模块1和射频输出模块3连接所述杠杆5。射频输入模块1、微波组件放置模块2和射频输出模块3可拆卸连接通道控制模块，可根据不同类型待测微波组件的具体硬件要求选择符合要求的模块。例如有两个待测微波组件，一个组件有8个输入接口，8个输出接口，另一个组件有8个输入接口，16个输出接口，测试完成第一个微波组件继续测试第二个微波组件时，只需把通道控制模块的8接口射频输出模块换成16接口射频输出模块即可。同时，微波组件放置模块2也可根据不同类型待测微波组件的规格和尺寸进行更换。该种设计提高了测试模块的通用性，节约了测试模块的生产和管理成本。射频输入模块1和射频输出模块3可在通道控制模块的导轨4上移动，优化地，可通过操作杠杆5控制射频输入模块1和射频输出模块3在通道控制模块导轨4上的移动。同时也可通过操作杠杆5控制射频输入模块1和射频输出模块3与微波组件的连接和分离。可通过撬动通道控制模块两端的杠杆5控制射频输入模块1和射频输出模块3与微波组件的分离，解决了多通道微波组件由于通道数量较多难以与通道控制模块进行分离的问题。进行通道控制时，操作人员只需将待测微波组件固定在微波组件放置模块2上，操作人员扳动通道控制模块两端杠杆5，控制射频输入模块1和射频输出模块3与微波组件连接。通过操作杠杆控制射频输入/出模块的移动，提高了系统的测试效率。如图2所示，射频输入模块1和射频输出模块3设置有接口7排布分列的接口板，接口7中设置有快插头8，快插头8连接微波组件和射频输入/出模块，所述接口板和快插头可拆卸更换。同时，可从接口7侧面固定模块插入口9插入固定模块控制快插头8在接口7中的活动余量，确保射频输入/出模块接口能更好地与待测组件相连，能够有效避免出现接口固定后待测微波组件难以与通道固定模块连接的情况。射频输入模块1和射频输出模块3连接待测微波组件，在进行多通道微波组件测试时，控制信号发送模块根据测试要求发送高低电平控制信号给射频输入模块1，射频输入模块1控制待测微波组件各通道的开闭。优化地，所述测试模块设置有通信控制模块6，通信控制模块6固定连接所述通道控制模块，通信控制模块6中设置有开关矩阵，快插头8一端连接待测微波组件，另一端通过电缆连接位于通信控制模块6中的开关矩阵。通信控制模块6连接外设仪器，通信控制模块6接收到外设仪器发送的信号时，控制信号发送模块发送高低电平控制信号给开关矩阵，控制通信控制模块6将信号发送至微波组件的特定通道，从而实现微波组件与外设仪器的选定通道通信，从而实现微波组件的自动控制。本专利技术并不局限于前述的具体实施方式。本专利技术扩展到任何在本说明书中披露的新特征或任何新的组合，以及披露的任一新的方法或过程的步骤或任何新的组合。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多通道微波组件测试系统，其特征在于包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件，所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块，所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。

【技术特征摘要】
1.一种多通道微波组件测试系统，其特征在于包括通道控制模块和测试模块，所述通道控制模块用于根据测试要求控制待测多通道微波组件各通道开闭，所述测试模块用于测试待测微波组件，所述通道控制模块包括控制信号发送模块、射频输入模块、微波组件放置模块和射频输出模块，所述射频输入模块和射频输出模块可拆卸可移动连接所述通道控制模块，所述微波组件放置模块可拆卸固定连接所述通道控制模块，所述控制信号发送模块对应连接所述射频输入模块，所述微波组件放置模块对应连接所述射频输入模块和所述射频输出模块，所述射频输出模块对应连接所述测试模块。2.根据权利要求1所述的一种多通道微波组件测试系统，其特征在于，所述射频输入模块和射频输出模块分别连接位于所述通道控制模块两端的杠杆。3.根据权利要求1所述的一种多通道微波组件测试系统，其特征在于，所述射频输入模块和射频输出模块可在所述通道控制模块的导轨上移动。4.根据权利要求2所述的一种多通道微波组件测试系统，其特征在于，可通过操作所述杠杆控...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹铁城，陈忠睿，丁义超，马识途，肖玉林，金涛，侯奇峰，秦跃利，孙毅，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：四川,51