X射线荧光分析仪器及用于其的样品容器制造技术
X - ray fluorescence analyzer and sample container for it
The present invention provides a method for X ray fluorescence powder samples or light material sample analysis instrument and used in X ray fluorescence analysis of the sample container instrument, X ray fluorescence analysis instrument including X ray generator, X ray detection device and a sample container, the sample container from the container cover, the side wall of the container and the bottom of the container, for storage of samples, at least one embedded polycrystalline powder material of the container cover and the side wall of the container. The primary X samples will be ray diffraction in the sample container, some diffraction of X again excited X ray fluorescence, return sample therefore from X ray fluorescence signal emitted from the sample will be strengthened, so as to improve the sensitivity of X ray fluorescence analysis instrument.
【技术实现步骤摘要】
X射线荧光分析仪器及用于其的样品容器
本专利技术涉及一种用于测量粉末样品或轻质材料样品中元素成分及其含量的X射线荧光分析仪器以及用于该X射线荧光分析仪器的样品容器。
技术介绍
X射线荧光分析仪器是利用X射线管发射的初级X射线激发分析样品中被分析元素的特征X射线，并采用能量色散或波长色散的方法对特征X射线进行检测的一种元素分析仪器。在分析粉末样品或轻质材料(如食品或生物材料)样品时，X射线荧光分析仪器的结构如图1所示。该X射线荧光分析仪器10包括用于存放样品的样品杯11、X射线发生装置12以及X射线探测装置13。样品杯11包括样品盖110、圆筒形侧壁111、以及利用夹具113被固定在圆筒形侧壁111下方的麦拉膜112。X射线探测装置可以是基于分光晶体的波长色散型检测系统也可以是基于固体探测器的能量色散型的检测系统。X射线发生装置12中的X射线管(有时还采用X射线滤光片和准直器)发射初级X射线a1和a2等。初级X射线可穿过麦拉膜112而照射(激发)在样品杯11中的样品(图未视)上，被照射的样品发射出X射线荧光，并且一部分荧光(如图1所示的Y1和Y2等)可被X射线探测装...
【技术保护点】
一种用于X射线荧光分析仪器的样品容器，其特征在于，所述样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成，用于存放样品，其中，所述容器盖和所述容器侧壁中的至少一个镶嵌有多晶粉末材料。
【技术特征摘要】
1.一种用于X射线荧光分析仪器的样品容器，其特征在于，所述样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成，用于存放样品，其中，所述容器盖和所述容器侧壁中的至少一个镶嵌有多晶粉末材料。2.如权利要求1所述的样品容器，其特征在于，所述容器盖具有可与所述样品接触的内表面和可与外界接触的外表面，所述容器盖在所述内表面和所述外表面之间的部分镶嵌有所述多晶粉末材料；所述容器侧壁具有可与所述样品接触的内侧面和可与外界接触的外侧面，所述容器侧壁在所述内侧面和所述外侧面之间的部分镶嵌有所述多晶粉末材料。3.如权利要求2所述的样品容器，其特征在于，所述多晶粉末材料中所含元素的特征X射线能量位置与所述样品中的被分析元素的特征X射线能量位置不相同。4.如权利要求3所述的样品容器，其特征在于，所述多晶粉末材料是氟化锂多晶粉末或氮化硼多晶粉末。5....
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。