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本发明提供一种用于测量粉末样品或轻质材料样品的X射线荧光分析仪器以及用于X射线荧光分析仪器的样品容器，X射线荧光分析仪器包括X射线发生装置、X射线探测装置和样品容器，样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成，用于存放样品，所述容器盖和所述容...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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