一种基于SOPC的液晶模组测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于SOPC的液晶模组测试系统，包括启动存储单元、电源生成单元和至少一个SOPC处理单元；每个所述SOPC处理单元包括控制处理模块和至少一个信号生成模块；所述SOPC处理单元集成了传统液晶模组测试系统中PC和PG的功能，可脱离PC对液晶模组进行测试；在获取液晶模组显示参数的基础上，通过在SOPC处理单元上设置检测算法处理模块可实现对显示参数的调节优化。本发明专利技术简化了测试系统的交互流程，提高了数据处理速度，并可实现多个液晶模组的并行测试调节；同时能根据用户需求添加外设设备，应用场景多变，布局布线简单，节约硬件成本。

A liquid crystal module testing system based on SOPC

The invention discloses a LCD module test system based on SOPC, including the start power generation unit and a storage unit, at least one SOPC processing unit; each of the SOPC processing unit comprises a control module and at least one signal generation module; the SOPC processing unit integrates PC and PG traditional LCD module test system the function can be used for testing the liquid crystal module from PC; based on obtaining the parameters of the liquid crystal display module, through the SOPC processing unit is arranged on the detection algorithm module can realize the optimization of adjusting display parameters. The invention simplifies the interactive process of the testing system, improves the speed of data processing, and realizes the parallel test adjustment of the plurality of liquid crystal module; meanwhile, the peripheral equipment can be added according to the user's demand, the application scene is changeable, the layout and wiring are simple, and the hardware cost is saved.

【技术实现步骤摘要】
一种基于SOPC的液晶模组测试系统
本专利技术属于液晶模组测试
，更具体地，涉及一种基于SOPC的液晶模组测试系统。
技术介绍
液晶模组作为LCD液晶显示屏的关键组件，在出厂前需要进行一系列严格的性能调试，用以确定该模组是否为合格品。目前常用的液晶模组测试系统由PC(台式电脑+显示屏)、PG(信号发生器)和光学检测设备组成。上述液晶模组测试系统存在以下弊端：1、测试过程中PC与PG之间、PC与光学检测设备之间交互频繁，系统中软硬件交互接口数目多，数据交互量大且传输速率慢，因此影响液晶模组测试速度。2、PC的架构决定了PC流程处理只能串行执行，对多个液晶模组的测试只能依次轮流执行，实时性较差、测试效率低。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种基于可编程片上系统(System-on-a-Programmable-Chip，SOPC)的液晶模组测试系统，该系统将传统液晶模组测试系统中PC和PG的功能集成在SOPC处理单元中，可脱离PC对液晶模组进行测试；此外，该系统可实现多个液晶模组实时并行测试，解决了传统液晶模组测试系统只能分时测试的弊端。为实现上述目的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于SOPC的液晶模组测试系统，其特征在于，包括启动存储单元、电源生成单元和至少一个SOPC处理单元；所述启动存储单元用于存储SOPC处理单元的启动程序和图像数据；所述电源生成单元用于为SOPC处理单元提供工作电压，并根据SOPC处理单元的控制指令为待测液晶模组提供工作电压；所述SOPC处理单元用于控制液晶模组的初始化和测试流程，并用于管理初始化信息和测试图像数据，将所述测试图像数据转换为待测液晶模组能够识别的图像信号，以及生成待测液晶模组能识别的控制指令。

【技术特征摘要】
1.一种基于SOPC的液晶模组测试系统，其特征在于，包括启动存储单元、电源生成单元和至少一个SOPC处理单元；所述启动存储单元用于存储SOPC处理单元的启动程序和图像数据；所述电源生成单元用于为SOPC处理单元提供工作电压，并根据SOPC处理单元的控制指令为待测液晶模组提供工作电压；所述SOPC处理单元用于控制液晶模组的初始化和测试流程，并用于管理初始化信息和测试图像数据，将所述测试图像数据转换为待测液晶模组能够识别的图像信号，以及生成待测液晶模组能识别的控制指令。2.如权利要求1所述的液晶模组测试系统，其特征在于，每个所述SOPC处理单元包括控制处理模块和至少一个信号生成模块；所述控制处理模块用于控制液晶模组的初始化和测试流程，并用于管理初始化信息和测试图像数据，生成待测液晶模组控制指令；所述信号生成模块将所述测试图像数据转换为待测液晶模组能识别的图像信号，并将所述控制指令根据液晶模组协议标准进行封装组包，输出待测液晶模组能识别的控制指令。3.如权利要求2所述的液晶模组测试系统，其特征在于，还包括至少一个光学检测设备，每个光学检测设备对应采集一个待测液晶模组在工作状态下的显示参数。4.如权利要求3所述的液晶模组测试系统，其特征在于，每个所述SOPC处理单元还包括至少一个检测算法处理模块，用于根据光学检测设备采集的参数信息进行算法运算；控制处理模块根据算法运...

【专利技术属性】
技术研发人员：阳芬，郑增强，刘斌，许恩，
申请(专利权)人：武汉精测电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42