阵列基板检测设备和阵列基板检测方法技术

本发明专利技术实施例提供了一种阵列基板检测设备和阵列基板检测方法，解决了现有阵列基板检测方式的检测准确度不高的问题。该阵列基板检测设备包括：光发射装置、光束导向装置、透镜组、液晶调制器和图像采集装置；其中，所述光发射装置构造为向所述光束导向装置发射光束；所述液晶调制器包括液晶材料和设置于所述液晶材料一侧的反射面；所述光束导向装置构造为将所述光发射装置所发射的光束导向至所述液晶调制器，并将所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束导向至所述图像采集装置。

Array substrate detection device and array substrate detection method

The embodiment of the invention provides an array substrate detection device and an array substrate detection method, and solves the problem that the detection accuracy of the existing array substrate detection mode is not high. The array substrate detecting device includes: a light emitting device, light guiding device and a lens group, a liquid crystal modulator and image acquisition device; wherein, the light emitting device for emitting beam structure to the beam guiding device; the liquid crystal modulator includes a reflective liquid crystal material and arranged on one side of the surface of the liquid crystal material; beam guiding device structure for the light emitting device emitted light beam directed to the liquid crystal modulator, and the beam directed to the liquid crystal modulator of the reflecting surface is reflected back to the image acquisition device.

【技术实现步骤摘要】
阵列基板检测设备和阵列基板检测方法
本专利技术涉及显示检测
，具体涉及一种阵列基板检测设备和阵列基板检测方法。
技术介绍
随着显示技术的不断发展，消费者对于显示器产品的良品率要求也越来越高。阵列基板作为显示器的核心器件，阵列基板上用于起到显示作用的像素区域是否存在缺陷是衡量显示器产品良品率的重要因素。图1所示为现有技术提供的一种阵列基板检测方式的原理示意图。光源所发出的光束在经过分光镜11反射后，直接通过物镜12照射在液晶调制器13上。液晶调制器13包括液晶材料和设置于液晶材料一侧的反射面。在阵列基板14通电后，会在阵列基板14与液晶调制器13之间形成电场。液晶调制器13中的液晶材料根据电场强度的大小而发生不同的偏转，液晶材料偏转方向的不同从而使得反射面反射回去的反射光也就不同。再通过图像采集装置15采集该反射回去的反射光以得到图像信息，基于该图像信息来判断阵列基板14的像素区域361’是否存在缺陷。如果阵列基板14的像素区域361’存在缺陷，缺陷位置处的图像信息就会存在显示异常，例如呈现出点缺陷或线缺陷等。然而，阵列基板14除了包括像素区域361’外，还包括其他的电路结构区域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板检测设备，其特征在于，包括：光发射装置、光束导向装置、透镜组、液晶调制器和图像采集装置；其中，所述光发射装置构造为向所述光束导向装置发射光束；所述液晶调制器包括液晶材料和设置于所述液晶材料一侧的反射面；所述光束导向装置构造为将所述光发射装置所发射的光束导向至所述液晶调制器，并将所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束导向至所述图像采集装置；其中，所述透镜组设置在所述光束导向装置与所述液晶调制器之间的光学路径上，构造为将所述光束导向装置导向至所述液晶调制器的光束的光照范围聚集在与待检测的阵列基板的像素区域等效的区域范围，以及扩散所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板检测设备，其特征在于，包括：光发射装置、光束导向装置、透镜组、液晶调制器和图像采集装置；其中，所述光发射装置构造为向所述光束导向装置发射光束；所述液晶调制器包括液晶材料和设置于所述液晶材料一侧的反射面；所述光束导向装置构造为将所述光发射装置所发射的光束导向至所述液晶调制器，并将所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束导向至所述图像采集装置；其中，所述透镜组设置在所述光束导向装置与所述液晶调制器之间的光学路径上，构造为将所述光束导向装置导向至所述液晶调制器的光束的光照范围聚集在与待检测的阵列基板的像素区域等效的区域范围，以及扩散所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束。2.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述透镜组包括：至少两个透镜以及伸缩驱动机构；其中，所述至少两个透镜的光轴相互重合，所述伸缩驱动机构构造为分别驱动所述至少两个透镜沿着所述光轴移动。3.根据权要求2所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述伸缩驱动机构包括外筒、至少两个内筒以及至少两个驱动电机；其中，所述至少两个内筒以螺纹配合的方式套接于所述外筒内部，所述至少两个透镜分别设置于所述至少两个内筒中；其中，所述至少两个驱动电机分别驱动所述至少两个内筒旋转，以使得所述至少两个透镜沿着所述光轴移动。4.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述光束导向装置为第一分光镜。5.根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，进一步包括：设置在所述光发射装置和所述光束导向装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗昌，刘瑞翔，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32