一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板；本实用新型专利技术能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性，以及对产品的防护性；不仅大大提高了测试的准确性，而且操作也十分简单方便，提高了测试效率。

A multi function fixture for electrical performance testing of chip capacitors

The utility model discloses a multifunctional clamp for chip capacitor electrical performance test, including the protection cover and the lower cover, the upper cover is arranged on the lower side of the PCB plate shielding, the first probe fixing plate is in the lower side of the PCB board; the first probe fixed plate inserted into a plurality of spring the probe extends to the PCB board; the protective cover is provided with a PCB plate with shield, second probe fixed plate arranged on the PCB board; the second probe fixed plate four is provided with a fixed angle screw, insert a plurality of probes extending to PCB probe plate and the fixing plate; the utility model can ensure the in the process of detection capacitor has good contact performance, as well as the protection products; not only greatly improves the accuracy of the test, and the operation is very simple and convenient, improves the test efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具
本技术属于一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具。
技术介绍
芯片电容器在生产过程中需要对产品进行电容量、损耗角正切、绝缘电阻、介质耐电压及温度特性等电性能测试，以保证产品的质量一致性、环境适应性及可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到测试基板上，再进行试验。这种做法易对产品易造成破坏，且无法重复利用、测试精确度低等缺点。同时，旧测试夹具只能进行单项电性能试验，无法进行切换。在电容器进行电性能测试过程中，传统夹具不易安放电容且易损伤电容表面的金层电极，影响测试的可靠性及结果；且在高低温测试过程中测试顶端与电容器容易发生接触不良，导致测量失效，从而无法准确测试电容器的各项电性能。每次测试失效，需要重复进行，甚至重新焊接产品，影响了测试效率。尤其是，无法准确有效地测试小尺寸产品。因电容器体积过小，最小尺寸仅0.15mm×0.15mm×0.05mm，产品电极表面为金电极，传统测试夹具易损伤其镀金层，影响其电性能，同时产品焊接到测试基板上，完成某项性能测试后，无法取下进行其他项目的测试，需要重新焊接。因此，传统夹具存在极大的缺陷及不完善。
技术实现思路
技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特征在于：包括上保护盖和下保护盖，所述上保护盖下侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板下侧设有第一探针固定板；所述第一探针固定板上插入若干个弹簧探针延伸至PCB板；所述下保护盖上侧设有带屏蔽的PCB板，在该PCB板上侧设有第二探针固定板；所述第二探针固定板四个角上设有固定螺杆，且探针固定板上插入若干个探针延伸至PCB板。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片电容器电性能测试的多功能夹具，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘甲东，韩玉成，王利凯，刘剑林，严勇，
申请(专利权)人：中国振华集团云科电子有限公司，
类型：新型
国别省市：贵州,52