探针座的改良结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种探针座的改良结构，该下基板及上基板表面上分别穿设有复数下通孔及复数上通孔，并在下基板及上基板间定位有具复数孔隙的绝缘材料，当复数下通孔及复数上通孔形成对正状态时，可将复数探针从复数上通孔处穿入，并通过绝缘材料的复数孔隙，再从复数下通孔穿出，且待复数探针穿设完成后，再使下基板及上基板朝相对内侧推移，以使复数下通孔及复数上通孔形成错位状态，同时，复数探针二端间即形成出限位于孔隙内的倾斜部，其因下基板与上基板间设有绝缘材料，所以可使复数探针顺畅地插设于绝缘材料的复数孔隙中，且各孔隙仅能供一根探针穿入，可避免相邻探针间产生相互接触，以防止发生电性导通而形成短路的情况。

Improved structure of probe holder

The utility model provides an improved structure of probe seat, the lower substrate and the substrate surface are respectively penetrated with a plurality of through holes and a plurality of through holes, and an insulating material with a plurality of pores in the substrate and on the substrate position, when plural through holes through holes and a plurality of form of state when the probe from the plural plural through holes on the entrance, and through the complex pore of insulating material, from plural through holes penetrating, and plural probe penetrating completed, then the lower substrate and the upper substrate toward the opposite inner side goes on, in order to make complex through holes and a plurality of through holes on the formation of dislocation the state, at the same time, plural probe two is formed in the end limit of inclined section within the pores, the lower substrate and the upper substrate is arranged between the insulating material, so that the plural probe smoothly inserted into the insulating material in the pore and the pore complex. Only one probe can be penetrated so as to avoid mutual contact between adjacent probes, so as to prevent the formation of short circuit due to electrical conduction.

【技术实现步骤摘要】
探针座的改良结构
本技术涉及一种探针座的改良结构，尤指探针座的下基板与上基板间定位有具复数孔隙的绝缘材料，当复数探针穿设于下基板、绝缘材料及上基板中时，可通过绝缘材料来达到便于穿设的效用，且也可避免相邻探针间产生相互接触，而发生短路的情况。
技术介绍
按，目前电路板上由复数配线来构成的配线图案(pattern)，其必须向电路板所搭载的IC、半导体或电阻器等电子部件传递正确的电子信号，以往，针对未安装半导体或电子部件等印刷电路板、柔性(flexible)基板、多层配线基板、液晶屏(LCDpanel)或等离子显示屏(plasmadisplaypanel)等所使用的形成配线图案的电路配线基板，或半导体芯片等基板上所形成的配线图案来作为检测对象，以检测配线图案上所设置的复数检测点间的电阻值，用以判断出其电气特性的良否。再者，现今为了检测电路板上的配线图案是否按设计完成，便提出了实际应用于各种电路板的检测治具，其一般检测治具大都具有用于处理电气信号的导通状态的检测装置，且检测装置为通过复数导线来电性连接于一检测平台，而该检测平台上方可供放置有测试针座，其测试针座具有利用复数支撑杆来呈上、下间隔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针座的改良结构，其特征在于：该探针座包括下基板、上基板、绝缘材料及复数探针，其中：该下基板表面上穿设有复数下通孔；该上基板位于下基板上方处，并在上基板表面上穿设有组装后会与复数下通孔形成错位状态的复数上通孔；该绝缘材料定位于下基板及上基板之间，并在绝缘材料内部形成有复数孔隙；该复数探针为导电材质所制成，并在各探针一侧设有插入至下基板的下通孔内的第一端部，而另一侧则设有插入至上基板的上通孔内的第二端部，再在第一端部与第二端部之间形成有限位于绝缘材料的孔隙中的倾斜部。

【技术特征摘要】
1.一种探针座的改良结构，其特征在于：该探针座包括下基板、上基板、绝缘材料及复数探针，其中：该下基板表面上穿设有复数下通孔；该上基板位于下基板上方处，并在上基板表面上穿设有组装后会与复数下通孔形成错位状态的复数上通孔；该绝缘材料定位于下基板及上基板之间，并在绝缘材料内部形成有复数孔隙；该复数探针为导电材质所制成，并在各探针一侧设有插入至下基板的下通孔内的第一端部，而另一侧则设有插入至上基板的上通孔内的第二端部，再在第一端部与第二端部之间形成有限位于绝缘材料的孔隙中的倾斜部。2.根据权利要求1所述探针座的改良结构，其特征在于：该下基板的下通孔周围处凹设有下容置槽，并在上基板的复数上通孔周围处凹设有上容置槽，而绝缘材料为软性材质制成且收容于下容置槽及上容置槽内。3.根据权利要求2所述探针座的改良结构，其特征在于：该下基板的下容置槽周围处穿设有至少一个下定位孔及至少一个下锁孔，而该上基板的上容置槽周围处穿设有对正于至少一个下定位孔及下锁孔处且供预设固定组件穿过以使下基板与上基板固定的至少一个上定位孔及上锁孔。4.根据权利要求1所述探针座的改良结构，其特征在于：该绝缘材料为发泡材或编织布，且绝缘材料的各孔隙为供插入一根探针。5.根据权利要求1所述的探针座的改良结构，其特征在于：该绝缘材料中穿设有利用复数玻璃纤维以编织方式制成的玻纤布，其玻纤布内部具有供限位复数探针的倾斜部的复数孔洞。6.一种探针座的改良结构，其特征在于：包括检测仪器及探针座，其中：该检测仪器具有测试平台，并在测试平台内穿设有缆线部的复数导线一端，而缆线部的复数导线另一端则电性连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：李嘉昇，
申请(专利权)人：李嘉昇，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71