【技术实现步骤摘要】
一种应用于跨阻放大器的补偿结构
本专利技术属于模拟集成电路
,具体涉及一种应用于跨阻放大器的补偿结构。
技术介绍
在需要电流转电压的应用场合,如检测微弱光电流信号的场合,通常需要用到跨阻型放大器(Trans-ImpedanceAmplifier,TIA)。跨阻放大器TIA基本结构如图1所示,由运算放大器、反馈电阻RF和补偿电容CF构成;其中运算放大器可以提供一定的开环增益和带宽,而反馈电阻RF将输入的电流信号放大为电压信号,作为跨阻放大器TIA的关键指标,它主要用来反映跨阻放大器TIA对微弱电流信号的放大能力。如图1所示,设运算放大器的低频增益为A,其主极点位置为p,当跨阻放大器不加入补偿电容CF时,跨阻放大器TIA的开环传输函数为:其中,CD是跨阻放大器在输入端的电容,反馈因子那么闭环传输函数为在一般的二阶低通系统中,可以通过系统的Q值(品质因子)来判定系统的稳定性,Q值越小,系统越稳定。二阶低通系统的传输函数在频域中用电压变量表示为:其中,A0是系统的低频增益,w0是极点频率,那么可以计算出无CF时,跨阻放大器的Q值为:当跨阻放大器加入补偿电容CF后,系 ...
【技术保护点】
一种应用于跨阻放大器的补偿结构,其特征在于,包括第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2),所述补偿结构的输入信号分别连接所述第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2)的输入端,所述第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2)的输出端相连并作为所述补偿结构的输出端;所述第一运算放大器(A1)构成高增益、低带宽的慢通路,所述第二运算放大器(A2)构成低增益、高带宽的快通路。
【技术特征摘要】
1.一种应用于跨阻放大器的补偿结构,其特征在于,包括第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2),所述补偿结构的输入信号分别连接所述第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2)的输入端,所述第一运算放大器(A1)和第二运算放大器(A2)的输出端相连并作为所述补偿结构的输出端;所述第一运算放大器(A1)构成高增益、低带宽的慢通路,所述第二运算放大器(A2)构成低增益、高带宽的快通路。2.根据权利要求1所述的一种应用于跨阻放大器的补偿结构,其特征在于,所述第二运算放大器(A2)包括第三PMOS管(MP3),第三PMOS管(MP3)栅极作为所述第二运算放大器(A2)的输入端,其漏极作为所述第二运算放大器(A2)的输出端,其源极接电源电压。3.根据权利要求1或2所述的一种应用于跨阻放大器的补偿结构,其特征在于,所述第一运算放大器(A1)包括第一PMOS管(MP1)、第二PMOS管(MP2)和第四PMOS管(MP4),第一PMOS管(MP1)的栅极作为所述第一运算放大器(A1)的输入端,其漏极连接第二PMOS管(MP2)的源极,其源极接电源电压;第二PMOS管(MP2)...
【专利技术属性】
技术研发人员:甄少伟,杨磊,郑炯卫,刘增鑫,罗萍,张波,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:四川,51
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