一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统技术方案

本发明专利技术涉及一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其结构由单机应用验证板、激励源、中心控制计算机组成。本发明专利技术单机应用验证板，在最大化设计应用验证母板的前提下只更换芯片子板就完成多种芯片的应用验证和针对单芯片的系统集成；对应用验证过程中所需的激励源进行标准化、最大化开发，不仅可以保证单机应用验证系统的重复使用及维护，极大程度的降低应用验证系统开发成本及周期，还能实现基于待验证芯片的系统集成设计和系统模拟；在中心控制计算机上集成成熟模块的应用验证示例，并控制整个验证流程，保证芯片应用验证的高效性和全面性，形成用户开发的通用平台，最大程度发挥验证系统的性能。

A stand-alone application verification system compatible with SPARC V8 architecture SOC

The invention relates to a single application verification system compatible with sparcV8 architecture SOC, which is composed of a single application verification board, an excitation source and a central control computer. The present invention stand-alone application verification board, integrated application verification in the premise of maximum design application verification motherboard only replace the chip on board to complete a variety of chip and system for single chip; the required application verification in the process of standardization, the largest source of development, not only can guarantee the maintenance and reuse of single application validation of the system, greatly reduce the application system development cost and cycle, but also can realize the simulation of system design and system integration to be verified based on the chip; in the center control computer module integrated mature application verification example, and control the validation process, to ensure efficient and comprehensive application of chip verification platform, the formation of the user the development, to maximize the performance of verification system.

【技术实现步骤摘要】
一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统
本专利技术涉及集成电路应用验证领域，具体涉及一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统。
技术介绍
单机应用验证是指针对芯片的设计指标和功能，在特定的背景下进行单机集成设计，以验证芯片设计功能的正确性和性能达到设计指标。单机应用验证是芯片研发设计的最后一个环节，是连接芯片设计和芯片使用之间的重要桥梁，其结果是用户使用和芯片改进设计的重要依据。但现有的针对sparcV8架构SOC芯片的单机应用验证一般以SOC为主控芯片集成最小系统，预留特定模块的测试接口以进行设计功能的测试和应用验证，采用插座或直接焊接的形式形成demo板，再通过测试线缆与主控计算机相连，功能模块接口与外围标准功能模块电路相连以完成对芯片的测试和应用验证。这种单机应用验证存在一定的局限性。首先，以特定的待测器件为基础集成最小系统，不同的芯片或同一种芯片的不同版本不能复用，只能重新设计新的一套单机应用验证板；其次，为了满足不同芯片的测试要求，需提供的应用验证激励源也不尽相同，需要针对不同待测芯片设计专门的激励源或准备特定的设备，应用验证准备工作繁多，且因设计的更新而面对陌生的功能模块应用验证，容易出错或应用验证不充分，设计问题不能充分暴露，导致在整机型号应用过程中出现问题，造成不可挽回的损失。最后，在应用验证过程中因各自为政而没有形成一套通用的应用验证流程和应用验证环境，导致针对特定芯片的应用验证软件开发不规范、不完善，以人工测试为主，不能验证不同功能组合和实现自动化应用验证，效率低下。
技术实现思路
针对以上单机应用验证存在的不足，本专利技术提供了一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，通过更换不同测试子板达到兼容不同芯片的目的，设计单机应用验证母板，满足芯片功能设计的更新和功能扩展的要求；最大化的标准激励源设计，可满足不同芯片、不同应用背景下的系统集成应用验证的需求；积累了标准功能模块的测试用例，基于系统集成架构的中心控制程序，保证了测试的覆盖性和测试流程的自动控制，提高了应用验证的效率。基于以上特点，可最大程度发挥单机应用验证系统的性能，提高验证效率和覆盖性。为达到上述目的，本专利技术采用的制备技术方案为：一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，包括单机应用验证平台，所述的单机应用验证平台由待验证子板、信号接插件和应用验证母板组成，待测芯片与待验证子板上的测试插座连接，应用验证母板通过信号接插件与待验证子板桥接，单机应用验证平台通过与中心控制计算机和激励源互联在中心控制计算机的控制下自动完成器件单机应用验证。所述的待验证子板上集成待应用验证芯片，除了对传输速度和传输距离有要求的信号接口模块设置在待验证子板上，其余待验证模块的信号接口全部经过信号接插件引至应用验证母板上。所述的应用验证母板上集成sparcV8架构SOC的功能模块，并预留需进行组网来进行应用验证的通信协议模块。所述的应用验证母板上的功能模块根据对待测模块进行分类，按类进行摆放，对需要外部激励或控制信号配合以进行验证的功能模块均预留测试接口，并设置与中心控制计算机的通信接口。所述的激励源的激励源机箱中设置有不同功能模块的标准应用验证单元和模拟不同应用背景下进行系统集成的模拟接口信号，用于sparcV8架构SOC集成的功能模块的应用验证对激励信号的需求，模拟芯片不同应用环境下的激励源输入，在中心控制计算机的调度下完成激励信号的激发和测试结果的回采工作。所述的激励源基于CPCI架构，针对不同功能模块设计标准的PCI测试子板，并预留了待扩展空间。所述的中心控制计算机上集成各种功能模块的标准测试示例，用于根据不同的应用情况设计不同功能模块并行运行的应用验证组合，且将激励源、应用验证母板及待测芯片纳入整个应用验证控制体系，在中心控制计算机的控制和调配下完成器件单机应用验证。所述的单机应用验证系统的DC/DC供电模块采用匹配待测芯片不同电源种类的供电和被测芯片单独供电的方式。相对于现有技术，本专利技术具有以下效益：本专利技术的兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，采用子板、母板的结构，待验证芯片通过子板上的测试插座完成子板与器件的连接，再通过高速信号接插件将子板与母板桥接，最后通过与中心控制计算机和激励源互联在中心控制计算机的控制下自动完成器件单机应用验证。利用本专利技术单机应用验证板，在最大化设计应用验证母板的前提下可只更换芯片子板就完成多种芯片的应用验证和针对单芯片的系统集成，解决了传统板级验证过程中每种芯片都重新设计应用验证板的问题；对应用验证过程中所需的激励源进行标准化、最大化开发，不仅可以保证单机应用验证系统的重复使用及维护，极大程度的降低应用验证系统开发成本及周期，还能实现基于待验证芯片的系统集成设计和系统模拟；在中心控制计算机上集成成熟模块的应用验证示例，并控制整个验证流程，保证芯片应用验证的高效性和全面性，形成用户开发的通用平台，最大程度发挥验证系统的性能。进一步，芯片子板通过高速信号接插件实现与单机应用验证母板的桥联，在芯片子板上集成SOC最小系统中的高速存储器和高速专用传输协议等接口模块，常用的低速通信接口模块则通过接插件引至应用验证母板上。在单机应用验证母板上集成涵盖现有sparcV8架构SOC的功能模块，可以实现验证能力的最大化，并预留了FPGA、接插件等扩展资源，满足未来一段时间内sparcV8架构SOC的发展和新增功能的验证，完成芯片验证接口的外引和系统集成模块资源的最大化，可最大程度降低开发专用高速信号连接器的研制成本，最大限度利用现有母板上的接口模块，减少重复开发的次数，提升系统设计的成熟度和验证程序的完备性。以正方形布局均匀分布高速信号接插件，引出的信号分通用模块和专用模块，不仅可以保证专用模块测试结果的权威性，还可以对后续设计芯片功能扩展，达到兼容多款同架构芯片的目的。进一步，单机应用验证激励源是基于CPCI并行控制总线设计最大化、标准化的功能模块PCI验证子板，满足sparcV8架构SOC集成的功能模块的应用验证对激励信号的需求，模拟芯片不同应用环境下的激励源输入，在中心控制计算机的调度下完成激励信号的激发和测试结果的回采工作。进一步，在中心控制计算机上集成不同功能模块应用验证示例程序、应用验证流程控制程序等，实现整个应用验证系统的开放性、可扩展性和流程控制的自动化。利用标准的特定模块应用验证示例，增加了应用验证的权威性；在各种不同激励源条件下对设计功能的全覆盖应用验证，为基于芯片的单机集成提供了系统设计的依据和保障，自动化的应用验证流程提高了芯片验证的效率、可维护性及鲁棒性。附图说明图1为现有sparcV8系列SOC单机应用验证板结构示意图；图2为本专利技术的待验证芯片子板与单机应用验证母板的结构示意图；图3为本专利技术的单机应用验证系统总体组成示意图；图4为本专利技术的母板供电实现示意图；图5为本专利技术的母板上SRAM模块实现示意图；图6为本专利技术的母板上PROM模块实现示意图；图7为本专利技术的母板上复位模块实现示意图；图8为本专利技术的激励源结构示意图；图9为本专利技术的激励源子板1的实现示意图；图10为本专利技术的激励源子板1的信息流示意图；图11为本专利技术的激励源子板2的实现示意图；图12本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统，其特征在于，包括单机应用验证平台，所述的单机应用验证平台由待验证子板、信号接插件和应用验证母板组成，待测芯片与待验证子板上的测试插座连接，应用验证母板通过信号接插件与待验证子板桥接，单机应用验证平台通过与中心控制计算机和激励源互联，在中心控制计算机的控制下自动完成器件单机应用验证。

【技术特征摘要】
1.一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其特征在于，包括单机应用验证平台，所述的单机应用验证平台由待验证子板、信号接插件和应用验证母板组成，待测芯片与待验证子板上的测试插座连接，应用验证母板通过信号接插件与待验证子板桥接，单机应用验证平台通过与中心控制计算机和激励源互联，在中心控制计算机的控制下自动完成器件单机应用验证。2.根据权利要求1所述的兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其特征在于，所述的待验证子板上集成待应用验证芯片，除了对传输速度和传输距离有要求的信号接口模块设置在待验证子板上，其余待验证模块的信号接口全部经过信号接插件引至应用验证母板上。3.根据权利要求1所述的兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其特征在于，所述的应用验证母板上集成sparcV8架构SOC的功能模块，并预留接口进行组网来进行应用验证的通信协议模块。4.根据权利要求3所述的兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其特征在于，所述的应用验证母板上的功能模块根据对待测模块进行分类，按类摆放，对需要外部激励或控制信号配合以进行验证的功能模块均预留测试接口，并设置与中心控制计算机的通信接口。5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：张群，
申请(专利权)人：西安微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：陕西,61