光检测电路及电子设备制造技术

一种光检测电路及电子设备，所述光检测电路包括：第一光检测器和第二光检测器，所述第一光检测器和第二光检测器具有相同的暗电流，其中，所述第二光检测器被遮盖；比较电路，所述比较电路的第一输入端连接所述第一光检测器的输出端，所述比较电路的第二输入端连接所述第二光检测器的输出端，所述比较电路的输出端输出检测信号。本发明专利技术方案的光检测电路在保证可靠性的同时，具有较低的静态功耗。

Optical detection circuit and electronic equipment

An optical detection circuit and electronic equipment, the light detecting circuit includes a first light detector and second light detector, the first optical detector and a second light detector with dark current, the same one, the second light detector is covered; the comparison circuit, the comparison circuit of the first input end is connected with the output the first light detector end, the comparison circuit second is connected with the input end of the output end of the optical detector second, the output signal of the comparison circuit. The optical detection circuit of the invention has low static power consumption while ensuring reliability.

【技术实现步骤摘要】
光检测电路及电子设备
本专利技术涉及光检测技术，特别涉及一种光检测电路及电子设备。
技术介绍
光检测电路是一种应用光检测器对光线进行检测的应用电路，其中，所述光检测器可以包括：光电倍增管、热电探测器、光电二极管等。其中，常见的半导体光检测器可以包括：PN光电二极管、PIN光电二极管和雪崩光电二极管(AvalanchePhotodiode，APD)等。光检测电路的应用较为广泛，例如，在各种金融卡类芯片中，光检测电路是安全保护电路的重要组成部分。当所述金融卡类芯片被盗窃并暴露于光线外时，光检测电路可以准确检测地光线照射并发出报警，且需要在检测到无光的情况避免误报警，同时所述金融卡类芯片可以进行自毁；那么，与此同时，对所述光检测电路的功耗和可靠性具有较高的要求。目前，主流的光检测电路主要有两种。其中一种光检测电路包括了光电二极管和比较电路，然而，所述光电二极管存在暗电流，使得在不受到光线照射时，光电二极管的电流增大，这容易触发误报警。为了克服所述暗电流对光检测电路可靠性的影响，另一种光检测电路采用了两个光电二极管进行检测的方案，并将其中一个光点二极管进行遮盖，并且设计了暗电流补偿电路，对光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光检测电路，其特征在于，包括：第一光检测器和第二光检测器，所述第一光检测器和第二光检测器具有相同的暗电流，其中，所述第二光检测器被遮盖；比较电路，所述比较电路的第一输入端连接所述第一光检测器的输出端，所述比较电路的第二输入端连接所述第二光检测器的输出端，所述比较电路的输出端输出检测信号。

【技术特征摘要】
1.一种光检测电路，其特征在于，包括：第一光检测器和第二光检测器，所述第一光检测器和第二光检测器具有相同的暗电流，其中，所述第二光检测器被遮盖；比较电路，所述比较电路的第一输入端连接所述第一光检测器的输出端，所述比较电路的第二输入端连接所述第二光检测器的输出端，所述比较电路的输出端输出检测信号。2.如权利要求1所述的光检测电路，其特征在于，所述比较电路的第三输入端连接电源，所述比较电路具有失调电压，当所述比较电路的第二输入端与其第一输入端之间的电压差超过所述失调电压时，所述检测信号的逻辑电平翻转。3.如权利要求1所述的光检测电路，其特征在于，还包括：第一开关和第二开关，所述第一开关的控制端输入有复位信号，所述第一开关的第一端连接所述第二开关的第一端并连接电源，所述第一开关的第二端连接所述第一光检测器的输出端，所述第二开关的第二端连接所述第二光检测器的输出端。4.如权利要求3所述的光检测电路，其特征在于，所述第一开关包括第一PMOS晶体管，所述第一PMOS晶体管的栅极连接所述第一开关的控制端，所述第一PMOS晶体管的源极连接所述第一开关的第一端，所述第一PMOS晶体管的漏极连接所述第一开关的第二端。5.如权利要求3所述的光检测电路，其特征在于，所述第二开关包括第二PMOS晶体管，所述第二PMOS晶体管的栅极连接所述第二开关的控制端，所述第二PMOS晶体管的源极连接所述第二开关的第一端，所述第二PMOS晶体管的漏极连接所述第二开关的第二端。6.如权利要求3所述的光检测电路，其特征在于，还包括：逻辑电路，适于对所述复位信号与所述检测信号进行逻辑运算以生成控制信号，所述控制信号传输至所述第二开关的控制端。7.如权利要求6所述的光检测电路，其特征在于，所述逻辑电路包括：与非门和反相器，其中，所述与非门的第一输入端连接所述逻辑电路的第一输入端，所述与非门的第二输入端连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐华，朱晓明，罗冬祥，方玉杰，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，中芯国际集成电路制造北京有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31