一种大豆物理检测系统技术方案

本发明专利技术给出了一种大豆物理检测系统，包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，输送带和电动筛选机均设置在支撑平台上，且电动筛选机位于输送带前方，在电动筛选机的前方设置一第一杂质漏孔，样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，在观察箱前方设置有第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔，质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方及输送带的右侧均相对应设置一自动称重装置。该系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重，并通过统计主机实现各项指标的自动计算，不仅提高了大豆检测效率，也降低了检测劳动强度。

A physical detection system for soybean

The invention provides a soybean physical detection system, including supporting platform, electric screening machine, conveyor belt, sample analysis device, quality statistical device and automatic weighing device, conveyor belt and electric screening machine are set on the support platform, and is located in front of the conveyor belt electric screening machine, a first impurity hole in the electric screen in front of the machine, sample analysis device including observation box, analysis of disc and tweezers in the observation box is arranged in front of the second and third impurity leak holes and impurities impurities fourth holes, quality statistics statistical device comprises a host, keyboard and mouse, at the bottom of the first impurity, second impurities, third leak leak leak leak of impurities and fourth impurities the right side of the conveyor belt and are arranged correspondingly to an automatic weighing device. This system can realize the automatic weighing out impurities by soybean and related substandard beans, and automatically calculate the indicators by statistical host, not only improves the detection efficiency of soybean, but also reduces the labor intensity detection.

【技术实现步骤摘要】
一种大豆物理检测系统
本专利技术涉及一种大豆物理检测系统。
技术介绍
大豆作为一种经济作物，在我国有着广泛的种植面积，大豆的质量决定了其价格与用途，因此质量的正确断定十分重要。大豆质量的物理检验指标主要有完整粒率、杂质含量、损伤粒率、热损伤粒率和色泽等，检验人员在检验大豆时，主要是依据GB/5494的规定进行检验。在检验时，为确定大豆样品的完整粒率、杂质含量、损伤粒率和热损伤粒率，需要检验人员对上述指标所涉及到的杂质及不合格大豆种类进行依次分拣及称重，然后进行数据统计，并通过计算得出相应的大豆指标，在上述检测过程中，检测人员需要进行多次称重操作，导致检验效率低下，且在长时间作业下，给检测人员带来的劳动强度也大，容易导致后期检测人员称重读数存在较大误差，从而影响大豆的质量标定。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种大豆物理检测系统，利用本系统进行大豆抽样检测时，系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重，并通过统计主机实现各项指标的自动计算，不仅提高了大豆检测效率，同时，也降低了检测劳动强度。本专利技术解决其技术问题所采取的技术方案是：一种大豆物理检测系统，包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。优选地，该系统还包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一杂质漏孔下方的称重斗内放出的杂质；所述第二收集盒用于收集位于所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔下方相对应的称重斗内放出的杂质；所述第三收集盒设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带左侧下方。进一步地，在所述分析盘上设置一分隔板，所述分隔板由三个竖板构成，三个所述竖板的末端相互连接在一起，且相邻的两个竖板之间的夹角为120°，在所述分析盘的外边缘上设置有与所述竖板的前端相对应的卡槽。进一步地，在所述支撑平台上设置一位于所述观察箱内的分析盘固定槽。进一步地，在所述支撑平台的下底平面上设置一与所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔相配合的第一挡板。优选地，在所述第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的一侧分别设置一位于所述支撑平台上的标签。优选地，在所述输送带的两侧各设置一第二挡板。优选地，在所述镊子的两个镊头的内侧均设置一橡皮垫。本专利技术的有益效果是：本专利技术结构简单，操作便利，利用本专利技术中的自动称重装置，可在检测人员依据检测标准将大豆内杂质及不合格的豆类拣出后，实现杂质及相关不合格豆粒的自动称重，称重传感器能够将称重结果传送到统计主机内，统计主机可依据称重信息实现大豆相关指标的计算与显示，上述过程避免了检测人员反复称重与数据计算，从而不仅降低了检测劳动强度，同时也提高了大豆指标计算准确率；在大豆大样进行小样分出时，将分检出大型杂质的剩余大样直接均匀的倒置在输送带上，这样仍存留在大豆大样内的杂质分布比较均匀，从而可保证小样内含有的杂质也较为均匀，继而为大豆指标的精确计算提供保障；在大豆小样进行分析时，通过分隔板可将分析盘内的大豆分割成几个区域，检测人员可分区域依次进行检测，从而可避免检测人员在整个分析盘区域内反复拣拾杂质和不合格豆类，有利于提高分拣效率；利用第一挡板可阻挡被拣出的杂质及不合格豆类掉入到相对应的称重斗内，检测人员在必要的情况下，可再次对位于第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔内的杂质及不合格豆类进行检测，以保证分类的正确性，从而有利于提高检测指标准确度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的部分优选实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的整体结构示意图；图2为本专利技术的整体结构侧视图；图3分析盘的第二种具体实施例结构示意图；图4为镊子的第二种具体实施例结构示意图；图5图2中A处放大图；图中：1支撑平台、11第一杂质漏孔、12分析盘固定槽、13第二杂质漏孔、14第三杂质漏孔、15第四杂质漏孔、16第一挡板、17标签、2电动筛选器、3输送带、31输送带支架、32第二挡板、41观察箱、42检测光源、43分析盘、431卡槽、432分隔板、4321竖板、44镊子、441橡皮垫、51统计主机、511显示屏、52鼠标、53键盘、自动称重装置6、61称重斗、62称重传感器、63电动推杆、64支撑板、65闸板、7第一收集盒、71支架、8第三收集盒、9第二收集盒、91支架、101支架、102支架。具体实施方式下面将结合具体实施例及附图1-5，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分优选实施例，而不是全部的实施例。本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似变形，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。本专利技术提供了一种大豆物理检测系统(如图1所示)，包括支撑平台1、电动筛选机2、输送带3、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置6，电动筛选机2为本领域内现有产品，其基本组成及工作方式，在本具体实施例内不再做详细描述，所述输送带3通过输送带支架31设置在所述支撑平台1一侧，对于输送带3的具体安装方式及利用驱动电机实现输送带3的运转方式均为本领域内成熟，在此，不再做详细描述。所述电动筛选机2设置在所述支撑平台1上且位于所述输送带3前方，电动筛选机2主要用于对大豆大样进行筛选，具体筛选标注可参照GB/5494规定，在所述支撑平台2上还设置一位于所述电动筛选机2前方的第一杂质漏孔11，第一杂质漏孔11主要用来收集通过电动筛选机2的筛网上拣出的大型杂质及从筛底上收集的其它杂质。所述样品分析装置包括观察箱41、分析盘43和镊子44，所述观察箱41为一前侧和底部没有侧板的方形箱体，所述观察箱41设置在所述支撑平台1上且位于所述输送带3右侧，在所述观察箱41的顶板底平面上设置有检测光源4本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大豆物理检测系统，包括支撑平台和电动筛选机，其特征是，该检测系统还包括输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。...

【技术特征摘要】
1.一种大豆物理检测系统，包括支撑平台和电动筛选机，其特征是，该检测系统还包括输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置，所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧，所述电动筛选机设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带前方，在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔；所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子，所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体，所述观察箱设置在所述支撑平台上，且位于所述输送带右侧，在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源，在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔；所述质量统计装置设置在所述支撑平台上，且位于所述观察箱右侧，所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标，在所述统计主机上设置一显示屏，所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接，统计主机控制输送带的开启与关闭；在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置，在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置，所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器，所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接，在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板，所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接，所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧，所述称重传感器、电动伸缩杆与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬元娟，滕晶，万春燕，王峰恩，李腾，王文正，
申请(专利权)人：山东省农业科学院农业质量标准与检测技术研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37