测试电连接器及其操作方法技术

本发明专利技术公开了一种测试电连接器，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一收容槽与插槽连通，每一收容槽具有一通道向下贯穿绝缘本体，通道具有相对的一第一面和一第二面，第一面从上往下朝第二面倾斜设置，一收容空间，收容空间与收容槽连通；多个端子，分别收容于多个收容槽，每一端子具有一连接部，自连接部分别延伸一接触部和一接脚，接触部显露于插槽，接脚收容于所述通道，接脚具有相对的一第三面和一第四面，第三面从上往下朝第四面倾斜设置，第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于收容空间，弹性体抵接所述连接部。本发明专利技术通过接脚和通道倾斜设置，可于插卡插拔过程中定位端子。

【技术实现步骤摘要】
测试电连接器及其操作方法
本专利技术涉及一种测试电连接器，尤指一种测试电连接器及其操作方法。
技术介绍
目前，在集成电路的存储卡元件制造完毕后，为了将制造过程中产生了缺陷的存储卡元件筛选出来，需要进行预烧测试。预烧测试通常借助测试电连接器将存储卡元件组接于测试电路板上，接通电源并提高其周围环境的温度，使存在缺陷的存储卡元件尽快失效，以将其筛选出来，避免将存在隐患的存储卡元件投入使用。现有的测试电连接器主要包括绝缘本体，所述绝缘本体固定于一电路板上，收容于绝缘本体内的多个端子和抵接所述多个端子的弹性体，多个所述端子与所述电路板上的接触区接触，所述绝缘本体凹设有一插槽，供所述存储卡插入测试，通过所述弹性体抵接所述端子对所述存储卡提供一个夹紧力，确保存储卡与所述测试电连接器的稳定连接，但是在存储卡的插拔过程中，所述端子由于弹性体的抵接在所述接触区上左右位移，对所述接触区造成磨损，使测试电连接器无法正常工作，如更换电路板则成本较高。因此，有必要设计一种改良的测试电连接器，以克服上述问题。
技术实现思路
针对
技术介绍
所面临的问题，本专利技术的目的在于提供一种测试电连接器及其操作方法，通过定位端子与电路板上接触区的接触位置，减少端子和接触区的磨损，确保测试电连接器与电路板的电性连接正常稳定。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术手段：一种测试电连接器，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，所述第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部。进一步，所述第二面从上往下朝第一面倾斜设置，所述第四面从上往下朝所述第三面倾斜设置。进一步，所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。进一步，所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。进一步，所述第一面和所述第二面以所述通道的中心线左右对称，所述第三面和所述第四面以所述接脚的中心线左右对称设置。进一步，所述间隙的宽度从上往下减小。进一步，所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘。进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。为了达到上述目的，本专利技术提供的另一方案为：一种测试电连接器，用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，包括：一绝缘本体，用以位于所述电路板上，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，所述插槽用以供所述插卡插接，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置，一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部；当所述插卡未进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，当所述插卡进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。进一步，所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线上。进一步，所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线的一侧。进一步，所述第三面侧向抵接所述第一面。进一步，所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。进一步，所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。为了达到上述目的，本专利技术还提供了另一方案为：一种测试电连接器的操作方法，所述测试电连接器用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置；一弹性体，收容于所述收容空间，所述绝缘本体用以置于所述电路板上,所述接脚用以与所述接触区最终接触时,所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，将所述插卡插入所述插槽时，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,藉由所述接触部使得所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加远离所述插槽方向的一反作用力。进一步，所述端子包括一初始状态、一锁紧状态和一工作状态，所述初始状态为所述绝缘本体未用以位于电路板上时，所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘，所述锁紧状态为所述绝缘本体用以位于所述电路板上时，所述端子沿所述通道向上位移，所述第三面侧向抵接所述第一面，所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，所述工作状态为所述插卡进入所述插槽时，所述第一面和所述第二面未与所述第三面和所述第四面抵接，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。进一步，当所述端子处于所述初始状态时和工作状态时，所述第一面和所述第二面分别与所述第三面和所述第四面之间具有间隙，当所述端子处于所述锁紧状态时，所述第二面与第四面之间具有间隙。进一步，当所述端子处于所述工作状态时，所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加，使所述弹性体受力发生弹性形变。进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术测试电连接器的所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置，当所述端子处于初始状态、锁紧状态或者工作状态时，所述接脚与所述接触区接触形成的接触位置始终保持不变，即所述接脚不会在所述接触区上左右位移，来减少所述端子和所述接触区的磨损，延长测试电连接器的使用寿命，确保所述测试电连接器与所述电路板稳定连接。【附图说明】图1为本专利技术测试电连接器的立体分解图；图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试电连接器，其特征在于，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置；一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，所述第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部。

【技术特征摘要】
1.一种测试电连接器，其特征在于，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置；一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，所述第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部。2.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第二面从上往下朝第一面倾斜设置，所述第四面从上往下朝所述第三面倾斜设置。3.如权利要求2所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。4.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。5.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面和所述第二面以所述通道的中心线左右对称，所述第三面和所述第四面以所述接脚的中心线左右对称设置。6.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述间隙的宽度从上往下减小。7.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘。8.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。9.一种测试电连接器，用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，其特征在于，包括：一绝缘本体，用以位于所述电路板上，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，所述插槽用以供所述插卡插接，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置，一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部；当所述插卡未进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，当所述插卡进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。10.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线上。11.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线的一侧。12...

【专利技术属性】
技术研发人员：金左锋，胡金科，
申请(专利权)人：番禺得意精密电子工业有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44