双向扫描链结构及其制造方法技术

本发明专利技术实施例公开了一种双向扫描链，该双向扫描链包括多个单元结构，每个单元结构具有存储器件和至少一多路复用器，多个单元结构以串联的方式彼此连接，其中，第(K‑l)单元结构的输出端被设置为第K单元结构的输入端来提供向前数据移位操作，第K单元结构的输出端被设置为第(K‑l)单元结构的输入端来提供前后数据移位操作，其中，K为大于1的整数。本发明专利技术实施例涉及双向扫描链结构及其制造方法。

Bidirectional scanning chain structure and manufacturing method thereof

The embodiment of the invention discloses a bidirectional scan chain, the bidirectional scan chain includes a plurality of unit structure, each unit structure has a memory device and at least one multiplexer, a plurality of unit structure to serially connected to each other, wherein, the (K L) unit structure output is set to input the K terminal unit structure to provide forward data shift operation, the output end of the K cell structure is set to the (K L) input unit structure to provide data before and after the shift operation, among them, K is an integer greater than 1. The embodiment of the invention relates to a bidirectional scanning chain structure and a manufacturing method thereof.

【技术实现步骤摘要】
双向扫描链结构及其制造方法
本专利技术实施例涉及双向扫描链结构及其制造方法。
技术介绍
专用集成电路(ASIC)一般实现了每芯片数百万栅极的密度，其显示了一个极其困难的测试挑战。ASIC通常结合预定义、标准的、称为各种来源的核心单元的功能块和离散逻辑来设计以执行所需功能或一组功能。虽然标准测试矢量或测试策略可配有核心单元，它们在ASIC内部的互相之间的内部连接经常不能从ASIC的管脚中访问，使得标准测试不能使用且复杂化测试程序。访问ASIC内部核心单元的常用技术就是所谓的全扫描设计，在全扫描设计中，逻辑电路的每个触发器具有位于其数据输入端的多路复用器，从而使得，当将测试模式信号应用于多路复用器的控制输入端时，所有的触发器链接在一起形成移位寄存器或扫描链。通过将Q从触发器连接到下一触发器的SI来形成扫描链。多路复用器的测试模式信号/可扫描信号决定在触发器中捕获哪个信号(SI或D)并在Q处可获得，通过将测试模式计时输入移位寄存器和计时输出测试结果来执行扫描测试。超大规模集成(“VLSI”)电路包括用于检测集成电路一些或所有部件的扫描链。扫描链通常包括移位多个触发器以在给定状态中设置集成电路，并决定集成电路的每个部分是否正确运作。然后，扫描链只有其本身可运作且不包括缺陷的情况下才有效。扫描链中的缺陷可阻止集成电路中的适当的检测，因为其可阻止电路在给定的状态下被设定。
技术实现思路
根据本专利技术的一个实施例，提供了一种双向扫描链，包括：第一单元结构，位于所述双向扫描链的开端处，所述第一单元结构包括第一存储器件和第一多路复用器；最后单元结构，位于所述双向扫描链的末端处，所述最后单元结构包括最后存储器件、最后多路复用器和末端多路复用器；以及至少一个中间单元结构，设置在所述第一单元结构和所述最后单元结构之间并且连接至所述第一单元结构和所述最后单元结构以形成所述双向扫描链，所述至少一个中间单元结构包括中间存储器件和中间多路复用器，其中，所述第一多路复用器、所述中间多路复用器、所述最后多路复用器和所述末端多路复用器的每个均包括用于接收控制所述双向扫描链向前和向后数据移位操作的选择器信号的选择器信号输入端。根据本专利技术的另一实施例，还提供了一种双向扫描链，包括多个单元结构，每个所述单元结构包括存储器件和至少一个多路复用器，所述多个单元结构以串联配置彼此连接，其中，第(K-1)单元结构的输出端被提供为至第K单元结构的输入端以提供向前数据移位操作，以及第K单元结构的输出端被提供为至第(K-1)单元结构的输入端以提供向后数据移位操作，其中，K为大于1的整数。根据本专利技术的又一实施例，还提供了一种执行双向扫描链操作的方法，包括：在用于M个时钟周期的第一方向中，依序将数据位移进以串联配置彼此连接的多个存储器件内，其中，M为大于零的整数；以及在用于N个时钟周期的第二方向中，依序将数据位从所述多个存储器件移出，其中，N为大于零的整数，以及其中，所述第二方向与所述第一方向相反。附图说明结合附图阅读以下详细说明，可更好地理解本公开的各方面。应注意到，根据本行业中的标准惯例，各种功能件未按比例绘制。实际上，为论述清除，各功能件的尺寸可任意增加或减少。图1为示出传统单向扫描链结构的示意图。图2为根据一些实施例的示出双向扫描链结构的示意图。图3A为根据一些实施例的示出双向扫描链结构中“第一单元”结构的示意图。图3B为根据一些实施例的示出双向扫描链结构中“中间单元”结构的示意图。图3C为根据一些实施例的示出双向扫描链结构中“最后单元”结构的示意图。图4A为根据一些实施例的示出当BACKWARD＝0时的在双向扫描链结构上向前扫描的示意图。图4B为根据一些实施例的示出当BACKWARD＝1时的在双向扫描链结构上向后扫描的示意图。图5A为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向前移进和向前移出的示意图。图5B为根据一些实施例的示出对应于在双向扫描链结构上向前移进和向前移出的时钟周期示意图。图6A为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向前移进机制的示意图。图6B为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向后移出机制的示意图。图6C为根据一些实施例的示出对应于在双向扫描链结构上向前移进和向后移出的时钟周期的时序图。图7A为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向后移进的示意图。图7B为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向前移出的示意图。图7C为根据一些实施例的示出对应于在双向扫描链结构上向后移进和向前移出的时钟周期的时序图。图8A为根据一些实施例的示出在双向扫描链结构上向后移进和向后移出的示意图。图8B为根据一些实施例的示出对应于在双向扫描链结构上向后移进和向后移出的时钟周期的时序图。图9为根据一些实施例的示出对应于在双向扫描链结构上混序移进和混序移出的时钟周期的时序图。图10A到图10K示出了根据一些实施例使用双向扫描链的多个故障链的多个故障检测方法的步骤。具体实施方式以下公开内容提供了许多用于实现所提供主题的不同特征的不同实施例或实例。下面描述了组件和布置的具体实例以简化本专利技术。当然，这些仅仅是实例，而不旨在限制本专利技术。例如，在以下描述中，在第二部件上方或者上形成第一部件可以包括第一部件和第二部件形成为直接接触的实施例，并且也可以包括在第一部件和第二部件之间可以形成额外的部件，从而使得第一部件和第二部件可以不直接接触的实施例。此外，本专利技术可在各个实例中重复参考标号和/或字母。该重复是为了简单和清楚的目的，并且其本身不指示所讨论的各个实施例和/或配置之间的关系。而且，为便于描述，在此可以使用诸如“低于”、“下面”、“下方”、“上方”、“左”、“右”、“向后”、“先前”等的空间相对术语，以便于描述如图所示的一个元件或部件与另一个(或另一些)元件或部件的关系。除了图中所示的方位外，空间相对术语旨在包括器件在使用或操作中的不同方位。装置可以以其他方式定向(旋转90度或在其他方位上)，而在此使用的空间相对描述符可以同样地作相应的解释。此外，要了解当一元件被提及为“连接至”或“联接至”另一元件时，其可直接连接或联接至其他元件，或者也可存在一个或多个居间元件。图1为示出传统单向扫描链结构的示意图。在图1中的单向扫描链结构有N个触发器，第一触发器标记为1FF1，第二触发器标记为1FF2，第三触发器标记为1FF3，第N触发器标记为1FFn。标记中的第一个数字指定图形数字，例如，上面标记中的第一个数字“1”指定图1。每个触发器具有三个输入端。SI、D和SE，SI表示“移进(Shift-In)”，D表示“数据(Data)”，E表示“可移位(Shift-Enable)”触发器的SI、D和SE指定为1FF1SI、1FF1_D和1FF1SE。如以下进一步描述所讨论，每个触发器具有接收控制每个触发器的计时操作的时钟信号(1CLK)的时钟输入端。遵循同样的逻辑，输出端Q指定为1FF1_Q。图中的虚线指定功能连接，其跟扫描链结构中的描述不相关，且可在扫描链使用的地方出入该设计的功能逻辑。同样的命名惯例适用于其他附图。图1中的单向扫描链仅允许向前移位操作，其中扫描输入(SCAN-IN)数据连续地按序在每个时钟周期中从第一触发器移位到链下方的下一个触发器。图2为根据一些实施例的示出双向本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双向扫描链，包括：第一单元结构，位于所述双向扫描链的开端处，所述第一单元结构包括第一存储器件和第一多路复用器；最后单元结构，位于所述双向扫描链的末端处，所述最后单元结构包括最后存储器件、最后多路复用器和末端多路复用器；以及至少一个中间单元结构，设置在所述第一单元结构和所述最后单元结构之间并且连接至所述第一单元结构和所述最后单元结构以形成所述双向扫描链，所述至少一个中间单元结构包括中间存储器件和中间多路复用器，其中，所述第一多路复用器、所述中间多路复用器、所述最后多路复用器和所述末端多路复用器的每个均包括用于接收控制所述双向扫描链向前和向后数据移位操作的选择器信号的选择器信号输入端。

【技术特征摘要】
2016.04.21 US 15/135,0831.一种双向扫描链，包括：第一单元结构，位于所述双向扫描链的开端处，所述第一单元结构包括第一存储器件和第一多路复用器；最后单元结构，位于所述双向扫描链的末端处，所述最后单元结构包括最后存储器件、最后多路复用器和末端多路复用器；以及至少一个中间单元结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：桑迪·库马·戈埃尔，李云汉，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71