The invention discloses a alignment method and alignment of the spectrometer system, including: calculate the relevant changes in optical spectrometer caused by low temperature and normal temperature change in the amount of each other; under normal temperature on optical alignment, and according to the variation of optical alignment, good correction. The application of computer aided technology through the calculated changes at different temperatures of optical elements, the ideal state can be at room temperature under precise alignment of optical elements to low temperature, low temperature makes the spectrometer ideal for imaging quality, and because without increasing the alignment of optical components and assembly of cryogenic system the alignment method, more concise and efficient.
【技术实现步骤摘要】
一种光谱仪的装调方法及装调系统
本专利技术涉及光谱
,特别是涉及一种光谱仪的装调方法及装调系统。
技术介绍
近红外至短波红外波段超高分辨率光谱仪系统工作0.7μm-2.5μm波段之间,光谱分辨率、辐射分辨率和信噪比等指标具有较高的要求,因此对系统的设计和装调提出较高的要求。受到红外背景辐射效应的影响,近红外波段超高分辨率光谱仪系统的暗场信号水平较高,通常采用滤光片冷光阑和仪器本体制冷结合的方式降低这种影响。但是短波红外波段光谱仪一般工作在0℃以下的低温,从而带来低温装调的技术难题。短波红外光学系统工作在低温下,光学元件折射率、曲率半径、相对位置关系与常温下差异较大,将引起光学成像质量下降和焦面离焦的现象。低温装调技术就是要解决低温引起的负面效应。因此,常温下的装调方法均不适用于低温装调。为了获得高成像质量的低温光学系统,常采用在低温下主动位移机构调节的方式实现装调。低温主动机构的工作环境较为恶劣,机构的设计实现较为复杂,同时装调过程需要一直处于低温,需要专门的低温设备做支撑,因此此种方法装调复杂,装调周期和经费要求较高。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的 ...
【技术保护点】
一种光谱仪的装调方法,其特征在于,包括:计算出在低温与常温相互转变时引起的所述光谱仪中光学元件的相关变化量;在常温下对所述光学元件进行装调,并根据所述相关变化量,对装调好的所述光学元件进行修正。
【技术特征摘要】
1.一种光谱仪的装调方法,其特征在于,包括:计算出在低温与常温相互转变时引起的所述光谱仪中光学元件的相关变化量;在常温下对所述光学元件进行装调,并根据所述相关变化量,对装调好的所述光学元件进行修正。2.根据权利要求1所述的光谱仪的装调方法,其特征在于,计算出在低温与常温相互转变时引起的所述光谱仪中光学元件的相关变化量,具体包括:通过光学软件计算出在低温与常温相互转变时引起的所述光谱仪中光学元件的光学离焦量;通过工程分析软件计算出在低温与常温相互转变时引起的所述光谱仪中光学元件的机械补偿量。3.根据权利要求2所述的光谱仪的装调方法,其特征在于,在常温下对所述光学元件进行装调,并根据所述相关变化量,对装调好的所述光学元件进行修正,具体包括:根据所述光学离焦量和机械补偿量,确定在低温下所述光谱仪焦面的理论位置;在常温下将所述光学元件主动进行装调,根据所述焦面的理论位置,对装调好的所述光学元件进行修正。4.根据权利要求3所述的光谱仪的装调方法,其特征在于,所述光学元件包括:狭缝组件、准直镜组件、分光组件、成像镜组件和焦面组件;所述狭缝组件为N阶阵列狭缝,用于对入射光线进行空间滤波,使所述入射光线入射到所述准直镜组件上;所述入射光线依次经过所述准直镜组件准直、所述分光组件分光、所述成像镜组件聚焦后成像在所述焦面组件上。5.根据权利要求4所述的光谱仪的装调方法,其特征在于,在常...
【专利技术属性】
技术研发人员:王龙,郑玉权,纪振华,蔺超,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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