圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置，包括，底座，包括设置在中心的圆盘体以及与所述的圆盘体一体形成的侧挡环，所述的侧挡环上设置有多个与圆盘类工件的侧孔对应的检测孔，中轴柱，下端与所述的底座固定连接，中部形成有定位环，所述的定位环上部的头段与所述的圆盘类工件的中心孔间隙配合；压环，与所述的中轴柱的头段间隙配合并将所述的圆盘类工件夹持其中；活动检测销，包括至少端部与所述的侧孔间隙配合的穿柱和与所述的穿柱一体形成的柱帽。本发明专利技术通过合理的配合设计，将复杂的空间孔组形位误差检测转化为简单的销孔配合通过性验证，大大简化了检测流程，在保证测量精度的同时提高了检测效率。

Device and method for detecting hole position of annular ring array of disc workpiece

The invention discloses a space ring hole array position detection device, a disc type workpiece includes a base, including setting formed in the center of one disk body and a disk body side of the retaining ring, the edge detection hole ring is provided with a plurality of side hole workpiece and disc the corresponding column axis, and the lower end of the base is fixedly connected with a positioning ring, middle formation, center hole clearance head section of the positioning ring and the upper part of the disc type workpiece with pressure; ring, and the axial gap with the column head section and the circular disc the workpiece clamping pin; activity detection, including at least the end part and the side hole clearance and column wear and the wear column integrated column cap. The present invention with reasonable design, the space hole complex shape and position error detection into a pin hole with the simple verification, greatly simplifies the detection process, which ensures the measurement accuracy and improve the detection efficiency.

【技术实现步骤摘要】
圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置及检测方法
本专利技术涉及产品检测
，特别是涉及一种空间环形阵列孔位置度检测装置。
技术介绍
圆盘类工件是常见的机械零件，其具有平面式圆形主体和形成在圆形主体环周的弧形或斜面式侧边，在侧边上形成有侧孔，对于该设有中心孔，且中心孔的周向方向设计有轴线呈一定夹角的多个侧孔的圆盘类工件，中心孔和侧孔之间存在一定空间位置关系。侧孔以中心孔为基准通常有一定的位置度精度要求，在精密测量领域，普遍会采用坐标测量法或光学测量法进行测量，测量过程较为复杂，单件检测时间较长，很难适用于生产现场的在线检测。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术中存在的技术缺陷，而提供一种空间环形阵列孔位置度检测装置，可以将复杂的空间孔组形位误差检测转化为简单的销孔配合，从而简化对圆盘类工件环布空间孔组位置度的检测流程的位置度检测具。为实现本专利技术的目的所采用的技术方案是：一种圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置，包括，底座，包括设置在中心的圆盘体以及与所述的圆盘体一体形成的侧挡环，所述的侧挡环上设置有多个与圆盘类工件的侧孔对应的检测孔，中轴柱，下端与所述的底座固定连接，中部形成有定位环，所述的定位环上部的头段与所述的圆盘类工件的中心孔间隙配合；压环，与所述的中轴柱的头段间隙配合并将所述的圆盘类工件夹持其中；活动检测销，包括至少端部与所述的侧孔间隙配合的穿柱和与所述的穿柱一体形成的柱帽。所述的穿柱上形成有突出部以与柱帽配合将其定位在底座的检测孔处。所述的穿柱包括与检测孔匹配地连接部以及与所述的侧孔匹配的检测部，所述的检测部直径大于所述的连接部。所述的穿柱上套设有复位机构。至少其中一个所述的活动检测销的柱帽与侧挡环间设置有磁吸机构。所述的磁吸机构为设置在侧挡环上的磁铁和铁质柱帽。所述的圆盘体上设置有中心孔，所述的中轴柱下端与所述的圆盘体螺栓连接且在所述的定位环与底座间设置有垫片环。所述的底座的侧挡环与中心圆盘体的夹角与圆盘类工件的侧孔与轴线所成夹角相对应，所述的检测孔与所述的侧孔同轴设置。所述的压环与所述的定位环间设置有磁吸机构。所述的间隙配合的配合精度为0.005mm。一种所述的空间环形阵列孔位置度检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤，1)将中轴柱与底座固定连接并将使其头端穿过所述的圆盘类工件的中心孔，2)将压环与中轴柱头端间隙配合，若压环和定位环将圆盘类工件贴合夹持且该中心孔检测合格；3)翻转使以压环背离圆盘类工件的端面为止端放在水平工作台上；4)将活动检测销逐个穿插对应的侧孔，若能插入则该侧孔检测合格。活动检测销插入预定深度后释放由复位机构将穿柱自侧孔中抽出，若不能自主抽出则不合格。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术通过合理的配合设计，将复杂的空间孔组形位误差检测转化为简单的销孔配合通过性验证，检测人员无需具备大型计量仪器或复杂光学仪器操作技能也能顺利完成对圆盘类工件上设有的空间环形阵列孔组位置度的检测，大大简化了检测流程，在保证测量精度的同时提高了检测效率。附图说明图1所示为本专利技术的空间环形阵列孔位置度检测装置的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术所针对的圆盘类工件其具有平面式圆形主体和形成在圆形主体环周的弧形或斜面式侧边，在侧边上形成有多个对称设置侧孔，该侧孔呈空间阵列排布构成空间孔组，即该圆盘类工件设有中心孔，且中心孔的周向方向设计有轴线呈一定夹角的多个侧孔，中心孔和侧孔之间存在一定空间位置关系。为实现对上述侧孔及中心孔的加工精度、位置精度等的检测，本专利技术公开了一种圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置，包括，底座2，包括位于中心的圆盘体以及与所述的圆盘体一体形成的侧挡环，所述的侧挡环上设置有多个与圆盘类工件的侧孔对应的检测孔，中轴柱4，下端与所述的底座固定连接，中部形成有定位环，所述的定位环上部的头段与所述的圆盘类工件的中心孔间隙配合；压环3，与所述的中轴柱的头段间隙配合并将所述的圆盘类工件的中心圆盘体夹持其中；活动检测销1，包括至少端部与所述的侧孔间隙配合的穿柱和与所述的穿柱一体形成的柱帽。所述的底座的侧挡环与中心圆盘体的夹角与圆盘类工件的侧孔与轴线所成夹角相对应，所述的检测孔与所述的侧孔同轴设置。本专利技术通过合理的配合设计，将复杂的空间孔组形位误差检测转化为简单的销孔配合通过性验证，检测人员无需具备大型计量仪器或复杂光学仪器操作技能也能顺利完成对圆盘类工件上设有的空间环形阵列孔组位置度的检测，大大简化了检测流程，在保证测量精度的同时提高了检测效率。其中，中轴柱与中心孔及压环的间隙配合，以及穿柱端部与侧孔的间隙配合的配合精度为0.005mm，穿柱穿插活动部分与检测孔的间隙配合的配合精度为0.01mm。通过合理的设置配合精度，保证检测精度的前提下，有效提高了检测的顺畅性。作为一个具体实施例，所述的穿柱上形成有突出部以与柱帽配合将其定位在底座的检测孔处，或者，所述的穿柱包括与检测孔匹配地连接部以及与所述的侧孔匹配的检测部，所述的检测部直径大于所述的连接部，即连接部与检测部的断立面与柱帽配合将穿柱定位在所述的检测孔中，采用定位的方式，有效避免活动检测销脱离丢失，提高实用性，同时，为避免装配时发生干扰，所述的穿柱上套设有复位机构，如复位弹簧等，采用复位弹簧，可将活动检测销定位防止定位时发生干涉，而且通过合理设计复位弹簧的弹性系数，可实现检测时插入后利用复位弹簧复位拔出，这样为间隙配合的配合效果提供一个参考，减少人为误差。同时，对于多侧孔检测，为避免检测是出现转动引起检测误差，至少其中一个所述的活动检测销的柱帽与侧挡环间设置有磁吸机构，如所述的磁吸机构为设置在侧挡环上的磁铁和铁质柱帽。通过磁吸机构，在装载待检测的圆盘类工件时即借助该活动检测销将其定位，在压环压紧后以及翻转过程中避免发生位移，保证后续检测顺利进行。具体来说，所述的圆盘体上设置有中心孔，所述的中轴柱下端与所述的圆盘体螺栓连接且在所述的定位环与底座间设置有垫片环5。垫片环5用于调整中轴柱的轴向高度，其厚度设计以满足活动检测销与侧孔达到配合精度为标准，同时，为提高其实用性，还可在所述的底座的侧挡环上设置多组检测孔及活动检测销，多组上下间隔布列的活动检测销配合不同厚度的垫片环可实现对不同规格同类型的圆盘类工件的检测。提高使用范围。其中，为防止压环在翻转是脱离，所述的压环与所述的定位环间设置有磁吸机构，采用磁吸机构，如在压环上和定位环上设置对应的磁铁等能提高夹持定位效果。本专利技术还同时公开了一种空间环形阵列孔位置度检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤，1)将中轴柱与底座固定连接并将使其头端穿过所述的圆盘类工件的中心孔，此时，还可转动所述的圆盘类工件使具有磁吸机构的活动检测销的端部插入其中一个侧孔内，实现对圆盘类工件的周向定位；所述的具有磁吸机构的活动检测销至少为一个，优选为两个或三个；2)将压环与中轴柱头端间隙配合实现对圆盘类工件的轴向定位，若压环和定位环将圆盘类工件贴合夹持且该中心孔检测合格；3)翻转使以压环背离圆盘类工件的端面为止端放在水平工作台上；4)将活动检测销逐个穿插对应的侧孔，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，包括，底座，包括位于中心的圆盘体以及与所述的圆盘体一体形成的侧挡环，所述的侧挡环上设置有多个与圆盘类工件的侧孔对应的检测孔，中轴柱，下端与所述的底座固定连接，中部形成有定位环，所述的定位环上部的头段与所述的圆盘类工件的中心孔间隙配合；压环，与所述的中轴柱的头段间隙配合并将所述的圆盘类工件夹持其中；活动检测销，包括至少端部与所述的侧孔间隙配合的穿柱和与所述的穿柱一体形成的柱帽。

【技术特征摘要】
1.一种圆盘类工件的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，包括，底座，包括位于中心的圆盘体以及与所述的圆盘体一体形成的侧挡环，所述的侧挡环上设置有多个与圆盘类工件的侧孔对应的检测孔，中轴柱，下端与所述的底座固定连接，中部形成有定位环，所述的定位环上部的头段与所述的圆盘类工件的中心孔间隙配合；压环，与所述的中轴柱的头段间隙配合并将所述的圆盘类工件夹持其中；活动检测销，包括至少端部与所述的侧孔间隙配合的穿柱和与所述的穿柱一体形成的柱帽。2.如权利要求1所述的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，所述的穿柱上形成有突出部以与柱帽配合将其定位在底座的检测孔处。3.如权利要求1所述的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，所述的穿柱包括与检测孔匹配地连接部以及与所述的侧孔匹配的检测部，所述的检测部直径大于所述的连接部。4.如权利要求2或3所述的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，所述的穿柱上套设有复位机构。5.如权利要求2或3所述的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，至少其中一个所述的活动检测销的柱帽与侧挡环间设置有磁吸机构。6.如权利要求5所述的空间环形阵列孔位置度检测装置，其特征在于，所述的磁吸机构为设置在侧挡环上的磁铁和铁质柱帽。7...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐铁城，王斌，黄运忠，李超，
申请(专利权)人：中核天津科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12