一种贴片电容老化测试器及装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种贴片电容老化测试器及装置，贴片电容老化测试器包括导电板、绝缘板和导电探针，其中：绝缘板上设有通孔；绝缘板下方设有导电板；测试时，导电探针插入通孔内。本实用新型专利技术提供的贴片电容老化测试器及装置，贴片电容老化测试器通过在绝缘板上设置通孔，通孔一侧固定导电板，另一侧设置导电探针，测试时，将导电探针插入通孔内，从而给贴片电容两端加电压，将传统焊接式老化测试方式转变为接触式测试方式，解决了传统焊接式老化方式的焊接板无法重复利用的问题。采用上述贴片电容老化测试器的贴片电容老化测试装置，可多次重复使用，实现同时对大批量贴片电容进行老化测试，节省手动焊锡的时间，提高了老化测试效率。

Chip capacitance aging tester and device

The utility model provides a patch capacitor ageing tester and device, chip capacitor ageing tester comprises a conductive plate, an insulating plate and a conductive probe, wherein the insulating plate is provided with a through hole; an insulating plate is arranged below the conductive plate; when the test probe is inserted into the through hole of the conductive. The utility model provides a patch capacitor ageing tester and device, SMD capacitor ageing tester via through holes in the insulating board, a through hole is fixed on one side of the conductive plate, the other side is provided with conductive probe test, the conductive probe is inserted into the through hole to the chip capacitor two end voltage, the traditional welding type aging test the transformation of the mode of the contact testing method, to solve the traditional welding plate type aging method cannot reuse problem. Using the patch patch capacitor ageing tester capacitance aging test device, which can be used repeatedly and at the same time to achieve high-volume chip capacitor aging test, save manual solder time, improve the efficiency of the aging test.

【技术实现步骤摘要】
一种贴片电容老化测试器及装置
本技术涉及贴片电容测试领域，特别涉及一种贴片电容老化测试器及装置。
技术介绍
贴片电容全称为多层片式陶瓷电容器，也称为贴片电容或片容。贴片电容由于具有高精度的自动装配性、良好的频率特性、优良的强度和可靠性、寿命长、稳定性高等优点被广泛应用于电子产品制造领域。老化测试是检测贴片电容可靠性重要步骤，老化效果不佳将会影响贴片电容产品的使用寿命，因此老化测试的准确性尤为重要。现有的贴片电容老化测试采用手动贴片将贴片电容焊接在载板上，然后连接到测试设备上测试。手动焊接效率较低，若需要进行大批量产品的老化测试，则需要先进行长时间的焊接，然后才能进行测试，浪费测试时间和人力资源；并且，手动焊锡常出现焊接不良的现象，容易造成测试结果不准确，误将良好的产品判为不良品，降低生产效率。
技术实现思路
为解决上述
技术介绍
中提到的问题，本技术提供一种贴片电容老化测试器及装置。本技术提供的一种贴片电容老化测试器，包括导电板、绝缘板和导电探针，其中：所述绝缘板上设有通孔；所述绝缘板下方设有所述导电板；测试时，所述导电探针插入所述通孔内。进一步地，所述导电探针为弹簧探针。进一步地，所述导电板为覆铜板。本技术还提供一种贴片电容老化测试装置，采用如上任意项所述的贴片电容老化测试器；所述导电探针设置在压板上；所述压板上设置至少两个所述导电探针；所述绝缘板上设有至少两个所述通孔；所述压板上的各个所述导电探针并联导电连接。进一步地，所述绝缘板上的通孔与所述压板上的导电探针的位置相对应。进一步地，所述绝缘板上设有螺纹孔；所述压板与所述绝缘板通过螺栓连接；所述压板上设有与所述螺栓尺寸相适配的螺栓孔。进一步地，所述螺纹孔呈十字形分布。本技术提供的贴片电容老化测试器及装置，贴片电容老化测试器通过在绝缘板上设置通孔，通孔一侧固定导电板，另一侧设置导电探针，测试时，将导电探针插入通孔内，通过导电探针和导电板给贴片电容两端加电压，将传统焊接式老化测试方式转变为接触式测试方式，解决了传统焊接式老化方式的焊接板无法重复利用的问题，避免了资源浪费，节省了老化前的准备时间，提高了效率。采用上述贴片电容老化测试器的贴片电容老化测试装置，结构简单，可多次重复使用，节约了自然资源，实现同时对大批量贴片电容进行老化测试，节省大批量贴片电容测试时手动焊锡的时间，提高了老化测试效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的贴片电容老化测试器剖面图；图2为贴片电容老化测试器测试状态示意图；图3为本技术提供的贴片电容老化测试装置的压板和绝缘板爆炸示意图。附图标记：10导电板20绝缘板21通孔22螺纹孔30压板40导电探针50贴片电容51导电区域具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。如图1所示，本技术实施例提供的贴片电容老化测试器，包括导电板10、绝缘板20和导电探针40，其中：所述绝缘板20上设有通孔21；所述绝缘板20下方设有所述导电板10；测试时，所述导电探针40插入所述通孔21内。具体实施时，如图2所示，将贴片电容50竖直放入通孔21内，贴片电容50的一端导电区域51与导电板10表面接触，将导电探针40下压，使导电探针40与贴片电容50另一端导电区域51接触，导电板10与导电探针40分别连接电源的正极和负极，从而贴片电容50两端加电压，进行老化测试；绝缘板20由陶瓷、玻璃或塑料等绝缘材质制成，能够将绝缘导电探针40和导电板10，同时避免测试时贴片电容50的导电区域51与绝缘板20侧壁接触，使贴片电容50短路。本技术提供的贴片电容老化测试器，通过在通孔的一侧固定导电板，另一侧设置导电探针，测试时，将导电探针插入通孔内，通过导电探针和导电板给贴片电容两端加电压，将传统焊接式老化测试方式转变为接触式老化测试方式，解决了传统焊接式老化测试方式的焊接板无法重复利用的问题，避免了资源浪费，节省了老化前的准备时间，提高了效率。优选地，所述导电探针40为弹簧探针。具体实施时，导电探针40由铁、铜等金属材料制成，将导电探针40的探头设置为弹簧型探头，能够适用于不同类型、薄厚、长度的贴片电容50的测试。优选地，所述导电板10为覆铜板。如图3所示，本技术实施例提供的贴片电容老化测试装置，采用如上任意项所述的贴片电容老化测试器；所述导电探针40设置在压板30上；所述压板30上设置至少两个所述导电探针40；所述绝缘板20上设有至少两个所述通孔21；所述压板30上的各个所述导电探针40并联导电连接。具体实施时，按照国家标准，不同电压值下并联的贴片电容50数量不同，电压值越高，并联的贴片电容50数量越多；压板30上设置至少两个导电探针40，绝缘板20上设有与导电探针40数量一致的通孔21；老化测试时，压板30下压，使各个导电探针40分别插入放置有贴片电容50的各个通孔21内，实现同时对大批量贴片电容进行老化测试；各个导电探针40之间通过焊锡或在压板30内设置并联电路，将压板30上的各个导电探针40并联连接，使每个贴片电容50两端的电压一致，实现了同时对大批量贴片电容50的老化测试，保证测试结果的准确性。本技术通过的贴片电容老化测试装置，结构简单，可多次重复使用，节约了自然资源，实现了同时对大批量贴片电容的老化测试，节省大批量贴片电容测试时手动焊锡的时间，提高了老化测试效率。优选地，所述绝缘板20上的通孔21与所述压板30上的导电探针40的位置相对应。优选地，所述绝缘板20上设有螺纹孔22；所述压板30与所述绝缘板20通过螺栓连接；所述压板30上设有与所述螺栓尺寸相适配的螺栓孔。优选地，所述螺纹孔22呈十字形分布。具体实施时，螺纹孔22呈十字形分布于绝缘板20上，压板30上设有与所述螺栓尺寸相适配的螺栓孔，压板30与绝缘板20螺栓连接时，螺栓孔采用十字形分布，能够使压板30上不同区域的各个导电探针40下压时，压板30上的各个区域的受力均匀，保证各个导电探针40能够与贴片电容50充分接触，避免出现接触不良的现象。尽管本文中较多的使用了诸如导电板、绝缘板、通孔、螺纹孔、压板、螺栓、导电探针、贴片电容、导电区域等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种贴片电容老化测试器，其特征在于：包括导电板(10)、绝缘板(20)和导电探针(40)，其中：所述绝缘板(20)上设有通孔(21)；所述绝缘板(20)下方设有所述导电板(10)；测试时，所述导电探针(40)插入所述通孔(21)内。

【技术特征摘要】
1.一种贴片电容老化测试器，其特征在于：包括导电板(10)、绝缘板(20)和导电探针(40)，其中：所述绝缘板(20)上设有通孔(21)；所述绝缘板(20)下方设有所述导电板(10)；测试时，所述导电探针(40)插入所述通孔(21)内。2.根据权利要求1所述的贴片电容老化测试器，其特征在于：所述导电探针(40)为弹簧探针。3.根据权利要求1所述的贴片电容老化测试器，其特征在于：所述导电板(10)为覆铜板。4.一种贴片电容老化测试装置，其特征在于：采用如权利要求1-3任一项所述的贴片电容老化测试器；所述导电探针(40)设置在压板(30)上；所述压板(30)上设置至...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐长春，陈辉，
申请(专利权)人：厦门华信安电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35