存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端制造方法及图纸

一种存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，所述存储器的测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项。采用本发明专利技术技术方案可以有效地提高存储器的测试效率和可靠性。

Memory testing method and device, storage medium and test terminal

Apparatus and method for testing a memory storage medium and a test terminal, the memory array comprises a main and redundant array, including the test methods for the memory control: the memory will not be occupied redundant array of the address mapping to the main array in the address space of the address; the array in the address space, sending the test vector to the memory, so that the main array and redundant array of executing the test vectors in the test item. By adopting the technical proposal of the invention, the testing efficiency and reliability of the memory can be effectively improved.

【技术实现步骤摘要】
存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端
本专利技术涉及存储器测试领域，特别涉及一种存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端。
技术介绍
随着存储器的容量越来越大，在生产时很难保证存储器中的每一个存储位都是有效的，因此，在存储器中一般除设置有主阵列(MainArray)以外的冗余阵列(RedundancyArray)。当主阵列中出现失效时，所述冗余阵列可用于修复(也即替换掉)主阵列失效存储位，以获得更高的产品良率。因此，需要所述冗余阵列和主阵列具备一样的可靠性。测试过程中针对主阵列的每个测试项都应该覆盖到冗余阵列。目前，除少数的非自动测试外，在多数情况下采用测试终端发送测试向量(TestVectors)至存储器，对存储器中的主阵列和冗余阵列进行自动化测试，其中，测试向量中包括有配置信息和测试项。由于在存储器中，主阵列和冗余阵列隶属于不同的物理区域，因此，需要分配不同的配置信息，例如，在访问冗余阵列时，测试向量中的配置信息需要将某个寄存器标识位赋值，或者将某个硬件引脚配置为上拉或者下拉状态，而在访问主阵列时，对应的配置信息中的寄存器标识位或硬件引脚的状态则不完全相同。因此，在对主阵本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器的测试方法，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，其特征在于，所述测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项。

【技术特征摘要】
1.一种存储器的测试方法，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，其特征在于，所述测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项。2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述主阵列的行数为M，所述冗余阵列的行数为N，2i＜M＜2i+1，M+N≤2i+1，其中，M、N和i为正整数，且i＜N≤M。3.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址包括：在所述主阵列的地址空间中未被占用的地址指向的地址寄存器中，写入所述冗余阵列的地址。4.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试向量中的测试项包括：在所述主阵列的地址空间中，按照地址递增的顺序遍历所述主阵列和冗余阵列，以使得所述主阵列和冗余阵列执行所述测试项。5.根据权利要求1至4任一项所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述测试项包括以下一种或多种：读操作，编程操作，擦除操作。6.一种存储器的测试装置，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，其特征在于，所述测试装置包括：映射模块，适于控制所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张若成，钱亮，杨光军，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31