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一种存储器的测试方法及装置、存储介质和测试终端，所述存储器包括主阵列和冗余阵列，所述存储器的测试方法包括：控制所述存储器将所述冗余阵列的地址映射至所述主阵列的地址空间中未被占用的地址；在所述主阵列的地址空间中，发送测试向量至所述存储器，以使...
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