本发明专利技术公开了一种轴外单键对称度测量装置及测量方法，包括测量装置本体和定位块，所述定位块设置在所述本体的横杆下部，一端测量时卡装在待测量工件的单键槽内，所述本体的竖杆中部连接有百分表，所述百分表的顶端连接有圆柱型结构的测头，所述测头与所述工件接触用于进行对称度测量。采用与所加工工件槽宽相配合的定位块，卡进单键槽内作为整个测量装置的定位基准，定位精准可靠，使用百分表和圆柱面的测头配合，便于测头能接触到工件此段外圆的最高点，可忽略此段外圆圆度及直线度误差的影响。
【技术实现步骤摘要】
一种轴外单键对称度测量装置及测量方法
本专利技术属于零件测量
，具体涉及一种轴外单键对称度测量装置及测量方法。
技术介绍
轴类产品的外单键槽对称度有两大类测量方式：一是利用对称度量规法，优点是可以实现加工现场的快速测量，缺点是不能得到具体数据，对机床的调整没有帮助；二是借助V型块用工件翻转法或用三坐标法取得键槽中心相对于轴中心线的偏离数值，再经过计算得出对称度数值，此法缺点是平均耗时4～6分钟，优点是能得到单键槽偏离中心轴线的方向及数值，便于及时进行机床加工数据的调整。第二类测量方法耗时较多，再加上排队、停机等待时间，班产量无法保证。另外在终检工序的全尺寸检验时，如果工件数量较多，用上述方法所暴露出来的矛盾更为突出，因此急需一种便于现场测量的方法及量具。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种轴外单键对称度测量装置及测量方法，及时并准确的得到所需数据，便于现场判定并调整机床参数。本专利技术采用以下技术方案：一种轴外单键对称度测量装置，包括测量装置本体和定位块，所述定位块设置在所述本体的横杆下部，一端测量时卡装在待测量工件的单键槽内，所述本体的竖杆中部连接有百分表，所述百分表的顶端连接有圆柱型结构的测头，所述测头与所述工件接触用于进行对称度测量。进一步的，所述定位块为条形结构，两端设置有圆弧。进一步的，所述定位块的宽度小于所述工件键槽宽度0.005～0.015mm。进一步的，所述定位块的长度小于所述工件键槽有效长度的5～8mm。进一步的，所述定位块上顶面与宽度方向两侧面的垂直度为0.005。进一步的，所述定位块宽度方向两侧面的平行度为0.005。进一步的，所述测头的一端为直径10mm的圆柱体，另一端设置为与所述百分表连接的M2.5外螺纹。本专利技术还公开了一种轴外单键对称度测量方法，包括以下步骤：S1、将定位块通过螺纹连接固定在测量装置本体上；S2、将测头通过螺纹连接安装到百分表上，并将百分表的轴套夹紧固定在测量装置本体上；S3、将本体上的定位块卡进待测工件的单键槽内，使百分表上的测头接触到待测工件的表面时，所述百分表显示值为1～2mm，然后旋转百分表上表圈将百分表对零；S4、从工件上取下整个测量装置并在平行于待测工件键槽底面的平面内旋转180°，再将定位块卡进工件的同一位置，然后从百分表上读出数据，此时数值的一半即是单键槽相对此轴中心线的偏离值，随即根据现有公式计算出对称度。进一步的，步骤S1中，所述定位块压入深度大于待测量工件键槽深度的四分之三。与现有技术相比，本专利技术至少具有以下有益效果：本专利技术轴外单键对称度测量装置采用与所加工工件槽宽相配合的定位块，卡进单键槽内作为整个测量装置的定位基准，定位精准可靠，使用百分表和圆柱面的测头配合，便于测头能接触到工件此段外圆的最高点，可忽略此段外圆圆度及直线度误差的影响。进一步的，定位块设计时考虑与待测工件键槽宽度能滑动配合，测量过程中轻松卡进待测的键槽内及结束后取出，又不失可靠的定位精度。进一步的，百分表示值直观，重复精度高，测量时仅仅替换原有的球形测头，换用大圆柱面测头能接触到更大的区域，使测量更灵敏、准确。本专利技术还公开了一种轴外单键对称度测量方法，即通过测头接触工件的外圆和定位块卡进工件的键槽后将百分表对零，然后取下测量装置并将整个测量装置旋转180°，再将定位块卡进工件的同一位置，然后读出百分表上的数据，此时数值的一半即是单键槽相对此轴中心线的偏离值，随即根据现有公式计算出对称度。下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明图1为本专利技术测量装置的工作时对零状态示意图，其中，(a)为主视图，(b)为俯视图；图2为本专利技术测量装置旋转180°的工作状态示意图，其中，(a)为主视图，(b)为俯视图；图3为本专利技术定位块的结构示意图，其中，(a)为主视图，(b)为俯视图；图4为本专利技术测头的侧视图；图5为本专利技术本体的结构示意图，其中，(a)为主视图，(b)为侧视图；图6为本专利技术测量装置结构示意图，其中，(a)为主视图，(b)为俯视图；图7为本专利技术V型块工件翻转法的示意图。其中：1.工件；2.本体；3.定位块；4.测头；5.百分表；6.螺钉。具体实施方式在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。请参阅图1、图3和图4，本专利技术提供了一种轴外单键对称度测量装置，采用特殊设计的定位块及测头，并用所连接的百分表上通过测量后旋转180°再测量，得到两者差值的一半，即偏离值，以此快速计算并得到对称度。请参阅图5，本体2的横杆底部开有浅槽，将定位块镶进后用螺钉连接在本体上，竖杆底部平行于浅槽的方向上有带沉孔的通孔可上螺钉，垂直于浅槽方向中部有容纳百分表轴套的通孔并开有部份通槽，此处在螺钉上紧后槽间距缩小可夹紧百分表的轴套，在完全装配后百分表垂直于定位块的宽度平面，并在工件的轴线中心位置附近。定位块3通过螺钉6固定在所述本体2上，的宽度与待测量工件1的外单键槽宽相配合，卡进单键槽内作为整个测量装置的定位基准。定位块宽度小于待测工件键槽宽度0.005～0.015mm，长度小于待测工件键槽有效长5-8mm，有效厚度不小于键槽深度8mm,，两端可用圆弧修整，不能干涉测量。宽度两侧面有0.005平行度、与本体相接触的厚度一平面与两侧面的0.005垂直度要求。中部有与本体相连接用的内螺纹孔。测头4的一端直径是10mm、长度可具体再定的圆柱体，另一端是与百分表连接用的M2.5外螺纹，可通过外螺纹安装到百分表上。百分表5和测头4组合，将原来小球形的测头换成前端具有较大圆柱面的测头，使能接触的可测量范围变得更大，这样便于测头能接触到工件此段外圆的最高点。以上本体、定位块、测头及百分表具体连接关系见图6。请参阅图1和图2，本专利技术还公开了一种轴外单键对称度测量方法，包括以下步骤：S1、将定位块3通过螺纹连接固定在本体2上；S2、将测头4通过螺纹连接安装到百分表5上，夹紧百分表5的轴套以使百分表固定连接在本体2上；S3、将本体2上的定位块3卡进工件1的单键槽内深度的四分之三以上，并调整测头4使百分表5接触到待测工件的表面，百分表显示值在1～2mm之间，然后旋转百分表的表圈将百分表对零。S4、从工件1上取下整个测量装置并在平行于待测工件键槽底面的平面内旋转180°，再将定位块3同样卡进工件1的键长方向的同一位置，然后读出数据，此时数值的一半即是单键槽相对此轴中心线的偏离值，随即根据现有公式可计算出对称度β如下：β＝2αh/(D-h)其中，α为键槽中心本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，包括测量装置本体(2)和定位块(3)，所述定位块(3)设置在所述本体(2)的横杆下部，一端测量时卡装在待测量工件(1)的单键槽内，所述本体(2)的竖杆中部连接有百分表(5)，所述百分表(5)的顶端连接有圆柱型结构的测头(4)，所述测头(4)与所述工件(1)接触用于进行对称度测量。
【技术特征摘要】
1.一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，包括测量装置本体(2)和定位块(3)，所述定位块(3)设置在所述本体(2)的横杆下部，一端测量时卡装在待测量工件(1)的单键槽内，所述本体(2)的竖杆中部连接有百分表(5)，所述百分表(5)的顶端连接有圆柱型结构的测头(4)，所述测头(4)与所述工件(1)接触用于进行对称度测量。2.根据权利要求1所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)为条形结构，两端设置有圆弧。3.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的宽度小于所述工件(1)键槽宽度0.005～0.015mm。4.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)的长度小于所述工件(1)键槽有效长度的5～8mm。5.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3)上顶面与宽度方向两侧面的垂直度为0.005。6.根据权利要求2所述的一种轴外单键对称度测量装置，其特征在于，所述定位块(3...
【专利技术属性】
技术研发人员：张权，林立，仵卉，
申请(专利权)人：西安法士特汽车传动有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61
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