飞针测试机制造技术

本实用新型专利技术涉及一种飞针测试机。上述飞针测试机用于对电路板进行测试，飞针测试机包括基板、夹紧机构以及输送机构；基板用于放置电路板；夹紧机构设于基板上，夹紧机构用于将电路板夹紧于基板上；输送机构包括第一驱动组件、推板、第二驱动组件和传送组件；第一驱动组件设于基板上，推板滑动连接于基板上，推板连接于第一驱动组件的动力输出端，第一驱动组件驱动推板相对于基板沿第一方向运动；第二驱动组件设于推板上，第二驱动组件驱动传送组件相对于基板沿第二方向运动；上述的飞针测试机，使传送组件的动力输出端远离电路板，以防飞针测试机的测试机构与夹紧组件产生干涉，解决了飞针测试机的测试机构容易与夹紧组件产生干涉的问题。

Flying needle tester

The utility model relates to a flying needle tester. The flying probe tester is used to test the circuit board, flying probe tester comprises a substrate, a clamping mechanism and conveying mechanism; a substrate for placing the circuit board; the clamping mechanism is arranged on the base plate, a clamping mechanism for clamping the circuit board on the substrate; the conveying mechanism comprises a first driving component, a push plate, second drive assembly and transport components; the first driving component is arranged on the substrate, the push plate slidably connected to the substrate, the power output end of the push plate is connected to the first drive assembly, the first driving component driving the push plate relative to the substrate along a first direction; the second driving component is arranged on the push plate, second drive assembly drives the transmission assembly with respect to the substrate motion along the second direction to fly; the needle test machine, the power output end of the transmission components away from the circuit board, flying probe tester to prevent the testing mechanism and a clamping assembly production The interference of the testing mechanism of the flying pin tester is easy to interfere with the clamping component.

【技术实现步骤摘要】
飞针测试机
本技术涉及电路板测试的
，特别是涉及一种飞针测试机。
技术介绍
飞针测试机是用于对待测试的电路板的焊盘或电子元器件的引脚进行电性性能测试的设备。随着电路板向高密度化、多层化和微型化方向发展，电路板的线宽和线距不断缩小，电路板周边的工艺边也不断变窄，对飞针测试机的测试要求也越来越高。然而，在电路板的测试过程中时，飞针测试机上与输送装置连接的夹紧组件需对电路板的工艺边进行夹紧。当电路板的工艺边较窄时，飞针测试机的测试机构容易与夹紧组件产生干涉，影响了飞针测试机的使用寿命。
技术实现思路
基于此，有必要针对飞针测试机的测试机构容易与夹紧组件产生干涉的问题，提供一种飞针测试机。一种飞针测试机，用于对电路板进行测试，所述飞针测试机包括：基板，用于放置所述电路板；夹紧机构，设于所述基板上，所述夹紧机构用于将所述电路板夹紧于所述基板上；以及输送机构，包括第一驱动组件、推板、第二驱动组件和传送组件；所述第一驱动组件设于所述基板上，所述推板滑动连接于所述基板上，所述推板连接于所述第一驱动组件的动力输出端，所述第一驱动组件驱动所述推板相对于所述基板沿第一方向运动；所述第二驱动组件设于所述推板上，所述传送组件设于所述第二驱动组件的动力输出端上，所述第二驱动组件驱动所述传送组件相对于所述基板沿第二方向运动；所述传送组件的动力输出端用于抵接并带动所述电路板相对于所述基板滑动，使所述输送机构带动所述电路板离开所述基板。上述的飞针测试机，当飞针测试机对电路板测试完毕时，首先夹紧组件松开电路板；然后第一驱动组件驱动推板相对于基板沿与第一方向运动，使推板带动第二驱动组件运动；最后第二驱动组件驱动传送组件沿第二方向运动，直至传送组件的动力输出端抵接于电路板上，从而使传送组件的动力输出端抵接并带动电路板相对于基板滑动。当飞针测试机对电路板进行测试时，首先夹紧组件将电路板夹紧于基板上；然后第一驱动组件驱动推板相对于基板沿第一方向运动，使推板带动第二驱动组件运动；最后第二驱动组件驱动传送组件沿第二方向运动，使传送组件的动力输出端远离电路板，从而使测试机构测试电路板时与传送组件之间存在间隙，以防飞针测试机的测试机构与夹紧组件产生干涉，解决了飞针测试机的测试机构容易与夹紧组件产生干涉的问题。在其中一个实施例中，所述推板包括推板本体、安装座和导轨；所述推板本体连接于所述第一驱动组件的动力输出端，所述安装座与所述推板本体连接；所述第二驱动组件固定于所述安装座上；所述导轨连接于所述安装座上；所述基板包括滑块和基板本体，所述滑块固定于所述基板本体上，所述滑块与所述导轨滑动连接，使所述推板滑动连接于所述基板上。在其中一个实施例中，所述第二驱动组件包括第一气缸、连接块和固定板，所述第一气缸固定于所述安装座上远离所述导轨的一侧，所述连接块的相邻两侧分别与所述第一气缸的动力输出端和所述固定板连接，所述传送组件设于所述固定板上，使所述传送组件设于所述第二驱动组件的动力输出端上。在其中一个实施例中，所述安装座、所述第一气缸、所述连接块、所述导轨和所述滑块的数目均为两个；两个所述安装座分别固定于所述推板的两端；两个所述第一气缸一一对应连接于两个所述安装座上，两个所述导轨分别连接于两个所述安装座上；两个所述连接块一一对应连接于两个所述第一气缸的动力输出端上，且两个连接块均与所述固定板连接；两个所述滑块分别滑动连接于两个所述导轨上，且两个所述滑块分别固定于基板本体上，使第二驱动组件能够更好地驱动传送组件相对于基板运动。在其中一个实施例中，所述传送组件包括电机、第一带轮、第二带轮、第三带轮和第一传送带，所述电机设于所述基板上，所述第一带轮设于所述电机的动力输出端，所述第二带轮和所述第三带轮均转动连接于所述基板上，所述第一传送带分别缠绕于所述第一带轮、所述第二带轮和所述第三带轮上，所述第一传送带用于抵接并带动所述电路板相对于所述基板滑动，使传送组件的动力输出端抵接并带动电路板相对于基板滑动。在其中一个实施例中，所述夹紧机构包括第三驱动组件和夹具，所述第三驱动组件设于所述基板上，所述第三驱动组件的动力输出端与所述夹具连接，所述第三驱动组件驱动所述夹具沿所述第二方向运动，所述夹具用于将所述电路板夹紧于所述基板上。在其中一个实施例中，所述基板包括第一分板和第二分板，所述第一分板与所述第二分板相互平行；所述夹紧机构和所述输送机构的数目均为两个；其中一个所述夹紧机构设于所述第一分板上，另外一个所述夹紧机构设于所述第二分板上；两个所述输送机构相对设置，且分别位于所述第一分板和所述第二分板上。在其中一个实施例中，飞针测试机还包括座体和调节机构，所述调节机构设于所述座体上，所述第一分板和所述第二分板均滑动连接于所述座体上，所述第一分板和所述第二分板均连接于所述调节机构的动力输出端上，使调节机构能够带动第一分板和第二分板相对于座体滑动。在其中一个实施例中，所述调节机构包括手柄、第一转轴、第二转轴、第四带轮、第五带轮和第二传送带；所述手柄连接于所述第一转轴或所述第二转轴上，所述第一转轴和所述第二转轴均转动连接于所述座体上，所述第四带轮套接于所述第一转轴上，所述第五带轮套接于所述第二转轴上，所述第二传送带分别缠绕于所述第四带轮和所述第五带轮上；所述第一分板和所述第二分板均与所述第二传送带连接。在其中一个实施例中，飞针测试机还包括测试机构，所述测试机构包括移动组件和探针，所述移动组件设于所述座体上，所述探针固定于所述移动组件的动力输出端上，所述探针用于对所述电路板进行电性测试。附图说明图1为一实施例的飞针测试机的立体图；图1a为图1所示飞针测试机的另一立体图，不包括测试机构；图2为图1a所示飞针测试机的局部示意图；图2a为图2所示飞针测试机的另一局部示意图；图2b为图2a所示飞针测试机的局部放大图；图3为图1所示飞针测试机检测电路板时的示意图；图4为图1所示飞针测试机检测电路板后的运动状态图；及图5为图1所示飞针测试机检测电路板后的另一运动状态图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对飞针测试机进行更全面的描述。附图中给出了飞针测试机的首选实施例。但是，飞针测试机可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对飞针测试机的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在飞针测试机的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1、图1a所示，一实施例的飞针测试机10用于对电路板20进行测试。在本实施例中，电路板20为印刷电路板。飞针测试机10包括基板100、夹紧机构200、输送机构300。基板100用于放置电路板2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种飞针测试机，用于对电路板进行测试，其特征在于，所述飞针测试机包括：基板，用于放置所述电路板；夹紧机构，设于所述基板上，所述夹紧机构用于将所述电路板夹紧于所述基板上；以及输送机构，包括第一驱动组件、推板、第二驱动组件和传送组件；所述第一驱动组件设于所述基板上，所述推板滑动连接于所述基板上，所述推板连接于所述第一驱动组件的动力输出端，所述第一驱动组件驱动所述推板相对于所述基板沿第一方向运动；所述第二驱动组件设于所述推板上，所述传送组件设于所述第二驱动组件的动力输出端上，所述第二驱动组件驱动所述传送组件相对于所述基板沿第二方向运动；所述传送组件的动力输出端用于抵接并带动所述电路板相对于所述基板滑动，使所述输送机构带动所述电路板离开所述基板。

【技术特征摘要】
1.一种飞针测试机，用于对电路板进行测试，其特征在于，所述飞针测试机包括：基板，用于放置所述电路板；夹紧机构，设于所述基板上，所述夹紧机构用于将所述电路板夹紧于所述基板上；以及输送机构，包括第一驱动组件、推板、第二驱动组件和传送组件；所述第一驱动组件设于所述基板上，所述推板滑动连接于所述基板上，所述推板连接于所述第一驱动组件的动力输出端，所述第一驱动组件驱动所述推板相对于所述基板沿第一方向运动；所述第二驱动组件设于所述推板上，所述传送组件设于所述第二驱动组件的动力输出端上，所述第二驱动组件驱动所述传送组件相对于所述基板沿第二方向运动；所述传送组件的动力输出端用于抵接并带动所述电路板相对于所述基板滑动，使所述输送机构带动所述电路板离开所述基板。2.根据权利要求1所述的飞针测试机，其特征在于，所述推板包括推板本体、安装座和导轨；所述推板本体连接于所述第一驱动组件的动力输出端，所述安装座与所述推板本体连接；所述第二驱动组件固定于所述安装座上；所述导轨连接于所述安装座上；所述基板包括滑块和基板本体，所述滑块固定于所述基板本体上，所述滑块与所述导轨滑动连接，使所述推板滑动连接于所述基板上。3.根据权利要求2所述的飞针测试机，其特征在于，所述第二驱动组件包括第一气缸、连接块和固定板，所述第一气缸固定于所述安装座上远离所述导轨的一侧，所述连接块的相邻两侧分别与所述第一气缸的动力输出端和所述固定板连接，所述传送组件设于所述固定板上，使所述传送组件设于所述第二驱动组件的动力输出端上。4.根据权利要求3所述的飞针测试机，其特征在于，所述安装座、所述第一气缸、所述连接块、所述导轨和所述滑块的数目均为两个；两个所述安装座分别固定于所述推板的两端；两个所述第一气缸一一对应连接于两个所述安装座上，两个所述导轨分别连接于两个所述安装座上；两个所述连接块一一对应连接于两个所述第一气缸的动力输出端上，且两个连接块均与所述固定板连接；两个所述滑块分别滑动连接于两个所述导轨上，且两个所述滑块分别固定于所述基板本体上。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：廉成，李宁，王星，翟学涛，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，深圳市大族数控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44