微流体颗粒分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种微流体颗粒分析装置，其包括入口，入口经由界定主流动方向的主通道与入口歧管流体连通，该入口歧管提供与具有流体动力学阻力R旁路的旁路通道和具有流体动力学阻力R测量的测量通道的并联的流体连通，该测量通道具有在1μm至50μm的范围内的横截面尺寸，并且还具有用于检测颗粒的传感器系统，其中流量分布参数X测量＝R测量

Micro fluid particle analysis device

The invention relates to a micro fluid particle analysis device, which includes entrance, entrance via the main channel to define the main flow direction and connected with the entrance of the entrance of fluid manifold, manifold provides fluid communication with the fluid dynamics of R parallel resistance bypass bypass channel and the hydrodynamic resistance measurement of R channel, the channel is measured the cross section is in the range of 1 m to 50 m in size, and also has a sensor system for detecting particles, wherein the flow distribution parameter measurement X = R measurement

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】微流体颗粒分析装置专利
本专利技术涉及一种微流体颗粒分析装置以及涉及使用该微流体颗粒分析装置检测流体中的颗粒的方法。该装置可用于检测和计量饮用水、工业生产液流和其它类似粘度的液体中的细菌。现有技术饮用水分析是一个这样的领域，即，在该领域中目前不存在允许检测饮用水中的有害细菌，以便防止污染供应给家庭的水的足够快的技术。当前的细菌测试通常需要孵育，这意味着最快的测试需要至少24小时才能提供结果。可以在几个小时内给出细菌水平指示的分析方法确实存在，但是它们不能提供准确的计量结果。在所有情况下，需要手动提取，并且所提取的样品必须送到实验室。由于与让人采集样本相关联的高成本，这严重限制了测试频率。在水公用事业方面，这意味着早在测试结果可获得之前，感染有危险细菌的水将被提供给民众。细菌污染可导致包含呕吐和流感样症状的感染，这通常需要住院治疗。由于分析慢，在民众生病之前，常常不会发现饮用水的污染。另外，在食品和制药行业的情况中，如果没有及时发现感染的水已被用于生产产品，则对于不得不收回成批产品的公司而言，浪费了大量资金。因此，针对细菌污染，非常需要实时监测饮用水。存在用于检测悬浮在液体中的诸如本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微流体颗粒分析装置，包括入口，所述入口经由界定主流动方向的主通道与入口歧管流体连通，所述入口歧管提供与以下部分的并联的流体连通：‑具有流体动力学阻力R旁路的旁路通道，和‑具有流体动力学阻力R测量的测量通道，所述测量通道具有在1μm至50μm的范围内的横截面尺寸，并且还具有用于检测颗粒的传感器系统，其中流量分布参数X测量＝R测量

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.01.21 EP 15151970.91.一种微流体颗粒分析装置，包括入口，所述入口经由界定主流动方向的主通道与入口歧管流体连通，所述入口歧管提供与以下部分的并联的流体连通：-具有流体动力学阻力R旁路的旁路通道，和-具有流体动力学阻力R测量的测量通道，所述测量通道具有在1μm至50μm的范围内的横截面尺寸，并且还具有用于检测颗粒的传感器系统，其中流量分布参数X测量＝R测量-1(R测量-1+R旁路-1)-1在从10-6至0.25的范围内，其中所述测量通道相对于所述主流动方向的角度在0°至60°的范围内，并且其中所述旁路通道相对于所述主流动方向的角度在0°至60°的范围内，并且所述微流体颗粒分析装置还包括与所述旁路通道和所述测量通道流体连通的出口。2.根据权利要求1所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述颗粒检测系统包括第一电极和第二电极，所述第一电极和所述第二电极界定所述第一电极和所述第二电极之间的操作空间，所述第一电极和所述第二电极经由包括交流(AC)或直流(DC)源和用于监测来自所述第一电极和/或所述第二电极的电信号的装置的电路电连接。3.根据权利要求2所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述测量通道的同一壁上的所述颗粒检测系统包括位于两个参考电极之间的激励电极，或者其中所述颗粒检测系统包括两组激励电极和参考电极，其中所述激励电极和所述参考电极定位在所述测量通道中的相对壁上。4.根据权利要求2或3中任一项所述的微流体颗粒分析装置，所述微流体颗粒分析装置不使用流体动力学聚集或所述微流体颗粒分析装置不使用介电泳聚集。5.根据权利要求1至4中任一项所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述旁路通道具有在50μm至300μm范围内的第一横截面尺寸和在50μm至300μm范围内的第二横截面尺寸。6.根据权利要求1至5中任一项所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述测量通道具有在5μm至20μm范围内的第一横截面尺寸和在5μm至20μm范围内的第二横截面尺寸。7.根据权利要求5和6所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述旁路通道的长度与所述测量通道的长度的比在10至200的范围内。8.根据权利要求5至7中任一项所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述测量通道的每通道长度的流体动力学阻力与所述旁路通道的每长度的流体动力学阻力的比为至少500，例如在0.5·105至2.0·105的范围内。9.根据权利要求1至4中任一项所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述测量通道和所述旁路通道具有在5μm至100μm范围内的横截面尺寸。10.根据权利要求9所述的微流体颗粒分析装置，其中，所述旁路通道具有在200μm至1000μm范围内...

【专利技术属性】
技术研发人员：古斯塔夫·埃里克·斯坎德斯，克里斯蒂安·温瑟尔·贝特尔森，
申请(专利权)人：斯博特水色公司，
类型：发明
国别省市：丹麦,DK