一种电致发光显示面板及其检测方法、显示装置制造方法及图纸
Electroluminescent display panel, detection method thereof and display device
The invention provides an electroluminescent display panel, a detecting method and a display device thereof, relating to the display technology field and detecting the signal wire in the pixel circuit of the self luminous display panel. The electroluminescent display panel includes a plurality of pixel circuits arranged in array and a plurality of pixel circuits used in the same row in the array and / or in the same row of the pixel array circuit shared by the detected signal line detection unit detects the signal to be detected; the source line and the far end are respectively connected with a detection unit; the detection unit comprises a control module and a light emitting module; the control module is connected with the detected signal line, the control voltage input end and a light emitting module, used for switching on or off the light emitting module and the detected signal line in the control voltage control voltage input end of the light emitting module is also connected to the first level; end, used to drive voltage in the voltage detecting signal line and the first level end of the light.
【技术实现步骤摘要】
一种电致发光显示面板及其检测方法、显示装置
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种电致发光显示面板及其检测方法、显示装置。
技术介绍
有机电致发光显示(英文名称：OrganicLight-EmittingDiode,英文简称：OLED)产品具有对比度高、响应速度快、体积小、重量轻等优点，已开始逐渐取代传统的液晶显示(英文名称：LiquidCrystalDisplay，英文简称：LCD)，越来越受到本领域研究人员的关注。相比于传统液晶显示显示装置OLED的像素电路结构更加复杂，内部信号走线也更加密集繁多，因此在OLED制造过程中也更加可能出现数据线、栅线等信号线具有开路(英文名称：Open)、短路(英文名称：Short)等不良。虽然在OLED制造过程的前段可以通过工程调试(英文全称：EngineeringTrial，英文缩写：ET)对OLED的像素电路出现的信号线不良进行检测，但现有技术中缺乏对在模组段产生的信号线不良的解析方法。若具有信号线不良的OLED模组进入后续的生产制造工艺，则会造成大量材料和人力的浪费，增加OLED产品的制造成本。此外，由于无法及时、准确...
【技术保护点】
一种电致发光显示面板，其特征在于，包括：多个阵列排布的像素电路和多个用于对位于所述阵列的同一行的像素电路和/或位于所述阵列的同一列的像素电路所共用的待检测信号线进行检测的检测单元；所述待检测信号线的源端和远端分别连接一个所述检测单元；所述检测单元包括：控制模块和发光模块；所述控制模块连接所述待检测信号线、控制电压输入端以及所述发光模块，用于在所述控制电压输入端的电压的控制下导通或关断所述发光模块和所述待检测信号线；所述发光模块还连接第一电平端，用于在所述待检测信号线的电压和所述第一电平端的电压的驱动下发光。
【技术特征摘要】
1.一种电致发光显示面板，其特征在于，包括：多个阵列排布的像素电路和多个用于对位于所述阵列的同一行的像素电路和/或位于所述阵列的同一列的像素电路所共用的待检测信号线进行检测的检测单元；所述待检测信号线的源端和远端分别连接一个所述检测单元；所述检测单元包括：控制模块和发光模块；所述控制模块连接所述待检测信号线、控制电压输入端以及所述发光模块，用于在所述控制电压输入端的电压的控制下导通或关断所述发光模块和所述待检测信号线；所述发光模块还连接第一电平端，用于在所述待检测信号线的电压和所述第一电平端的电压的驱动下发光。2.根据权利要求1所述的电致发光显示面板，其特征在于，所述控制模块包括：第一晶体管；所述第一晶体管的第一极连接所述待检测信号线，所述第一晶体管的第二极连接所述发光模块，所述第一晶体管的栅极连接所述控制电压输入端；所述发光模块包括：发光二极管；所述发光二极管的阳极连接所述控制模块；所述发光二极管的阴极连接所述第一电平端。3.根据权利要求2所述的电致发光显示面板，其特征在于，所述像素电路包括：第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第一电容以及电致发光二极管；所述第二晶体管的第一极连接第二电平端、所述第二晶体管的第二极连接所述电致发光二极管的阳极、所述第一电容的第一极、所述第四晶体管的第一极，所述第二晶体管的栅极连接所述第一电容的第二极和所述第三晶体管的第二极；所述第三晶体管的第一极连接数据线、所述第三晶体管的栅极连接第一扫描信号线；所述第四晶体管的第二极连接检测线、所述第四晶体管的栅极连接第二扫描信号线；所述电致发光二极管的阴极连接第一电平端。4.一种电致发光显示面板的检测方法，其特征在于，用于对权利要求3所述的电致发光显示面板的数据线进行检测；所述方法包括：在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、在所述数据线上施加预设电压、在所述第一扫描信号线的电压的控制下使各所述像素电路的第三晶体管导通以及使所述检测线浮空；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均发光，则确定该数据线没有开路；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均不发光，则确定该数据线的源端具有开路；若与任一数据线的源端连接的检测单元的发光模块发光且与该数据线的远端连接的检测单元的发光模块不发光，则根据共用该数据线的像素电路中电致发光二极管不发光且距离该数据线的源端最近的像素电路的位置确定该数据线的开路位置。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、在所述数据线上施加预设电压以及控制所述第一扫描信号线、所述第二扫描信号线以及所述检测线的电压均为低电平；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度等于预设亮度，则确定该数据线没有短路；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度大于预设亮度，则确定该数据线与第二电平端短路；在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述第一扫描信号线的电压为低电平、所述第二扫描信号线和所述检测线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端连接和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与第一扫描信号线短路；在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述第二扫描信号线的电压为低电平、所述第一扫描信号线和所述检测线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与第二扫描信号线短路；在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述数据线、控制所述检测线的电压为低电平、所述第一扫描信号线和所述第二扫描信号线的电压均为高电平；若与任一数据线的源端连接和远端连接的检测单元的发光模块的发光亮度小于预设亮度,则确定该数据线与检测线短路；其中，所述预设亮度为在发光模块在所述预设电压和第一电平端的电压的驱动下的发光亮度。6.一种电致发光显示面板的检测方法，其特征在于，用于对权利要求3所述的电致发光显示面板的第一扫描信号线进行检测；所述方法包括：在控制电压输入端的电压的控制下导通所述发光模块和所述第一扫描信号、在所述第一扫描信号线上施加可使第三晶体管导通的电压、在所述数据线上施加预设电压以及使所述检测线浮空；若与任一第一扫描信号线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均发光，则确定该第一扫描信号线没有开路；若与任一第一扫描信号线的源端和远端连接的检测单元的发光模块均不发光，则确定该第一扫描信号线的源端具有开路；若与任一第一扫描信号线的源端连接的检测单元的发光模块发光且与该第一扫描信号线的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王迎，李蒙，陶健，李红敏，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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