一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪制造技术

本发明专利技术涉及一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，其X射线源设置在检测仓底部，X射线源发射的X射线以垂直角度照射到样品上，提高了检测精度。同时，通过设置具有反射镜的准直部件，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过直线电机使准直块处于观察位置，此时可通过摄像头观察样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，再通过直线电机使准直块处于检测位置，此时通过X射线源发生X射线就可以进行X射线检测，不影响X射线检测的功能。设置显示屏方便使用者观察图像并得到分析结果。

X ray fluorescence spectrum analyzer with display function

The invention relates to a X ray fluorescence spectrum analyzer with display function, wherein the X ray source is arranged at the bottom of the detection storehouse, and the X ray emitted by the X ray source is irradiated to the sample at a vertical angle, thereby improving the detection accuracy. At the same time, by setting the collimation component having a mirror, in need through the camera observation sample position, through the linear motor the collimation block at the observation position, the samples can be observed by camera, image and film does not produce distortion products, imaging and position adjustment is more accurate, the position of the sample after adjustment, recollimation block in the detection position through the linear motor, this time through the X ray source ray X can X ray detection, does not affect the X ray detection function. The display screen is convenient for the user to observe the image and obtain the analysis result.

【技术实现步骤摘要】
一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪
本专利技术涉及一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，属于元素分析设备

技术介绍
任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量最低的能级状态称为基态能级，其余能级称为激发态能级，能量最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差△E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，形成原子吸收光谱。电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，经过一较短时间后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程形成原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。X-射线荧光光谱分析仪的分析原理是：光源发射出原级X-射线，该射线照射样品，待测元素的原子吸收相应的能量形成激发态，外层电子向低能级电子层跃迁，同时发射出次级X-射线，即X-射线荧光，以释放能量，通过探测器检测X-射线荧光的强度，进而求得待测元素的含量。现有技术中X射线荧光光谱分析仪，X射线源通常设置在底端，正对样品，此时，用于拍摄样品的摄像头就必须倾斜设置，倾斜设置的摄像头拍摄的样品图像必然会出现失真，如梯形失真等，导致无法正确识别出样品待检测部位的中心，也就无法给样品调整到正确位置提供正确的图像指示。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：为解决X射线荧光光谱分析仪中摄像头拍摄样品图像失真的技术问题，提供一种摄像头拍摄样品图像精确且不影响原有功能的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：本专利技术提供一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，包括：壳体；盖体，铰接地设置在壳体上，能够关上或者打开；样品台，设置在壳体顶部，中间设置有样品检测孔；检测仓，密封设置在样品台底部，一侧安装有观察窗；X射线源，设置在检测仓底部，X射线源的X射线发射管沿竖直方向布置；探测器，设置在检测仓另一侧，用于探测样品发出的二次X射线；摄像头，镜头对准观察窗；准直部件，包括，设置在检测仓外的电机；设置在检测仓底部的导轨；设置导轨上的准直块；准直块上设置有反射镜和至少一个竖直布置的准直孔，准直块能够在直线电机的驱动下沿导轨运动，准直块能够到达如下位置：1、摄像头经准直块上的反射镜透过检测孔拍到位于样品台上样品的观察位置；2、任一准直孔位于X射线源与检测孔之间的检测位置；显示屏，设置壳体前端，用于显示摄像头拍摄的图像及检测结果，显示屏成与水平面30°-60°角倾斜设置。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，准直孔孔径为0.1mm-5mm之间的任意值。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，准直孔为成一列排布的若干个。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，准直孔为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，相邻两个准直孔之间的距离为6-12mm。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，除其中一个5mm的准直孔外，准直孔内设置有滤光片。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，电机为直线电机。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，样品检测孔411可设置在一个能够拆卸的样品放置板上。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，摄像头水平设置，反射镜应与水平面成45°夹角设置。优选地，本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，检测孔处还设置有mylar膜。本专利技术的有益效果是：本专利技术的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪中X射线源设置在检测仓底部，X射线源发射的X射线以垂直角度照射到样品上，提高了检测精度。同时，通过设置具有反射镜的准直部件，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过直线电机使准直块处于观察位置，此时可通过摄像头观察样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，再通过直线电机使准直块处于检测位置，此时通过X射线源发生X射线就可以进行X射线检测，不影响X射线检测的功能。设置显示屏方便使用者观察图像并得到分析结果。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是具有本专利技术实施例的XRF样品检测装置的立体视图；图2是具有本专利技术实施例的无样品台时XRF样品检测装置的立体视图；图3是具有本专利技术实施例的XRF样品检测装置的侧视图；图4是本专利技术实施例的XRF准直部件的立体视图；图5是本专利技术实施例的准直块的立体视图；图6是本专利技术实施例的具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪的立体视图。图中的附图标记为：1-壳体；2-盖体；40-检测仓；401-观察窗；41-样品台；411-样品检测孔；42-X射线源；43-摄像头；44-探测器；45-准直部件；451-准直块；452-直线电机；453-前挡块；454-后挡块；4511-反射镜；4512-准直孔；9-显示屏。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。实施例本实施例提供一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，如图6所示，包括：壳体1；盖体2，铰接地设置在壳体1上，能够关上或者打开；样品台41，设置在壳体1顶部，中间设置有样品检测孔411，样品检测孔411可设置在一个能够拆卸的样品放置板上，以方便放置板的更换，检测孔411处还设置有mylar膜；检测仓40，位于样品台41底部、壳体1内，一侧安装有观察窗401；X射线源42，设置在检测仓40底部，X射线源42的X射线发射管沿竖直方向布置(也即能以竖直方向发射X射线)；探测器44，设置在检测仓40另一侧，用于探测样品发出的二次X射线；准直部件45，包括直线电机452，导轨453，设置导轨453上的准直块451，准直块451上设置有反射镜4511，若干竖直布置的准直孔4512，准直孔4512孔径从0.1mm-5mm之间的任意值，如可以有0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm等等，当然也可以更大或者更小，准直孔4512与准直孔4512之间的距离为6-12mm，如6mm、8mm、9mm、12mm等等，准直孔4512的底部设置有滤光片，图中有两个5mm的准直孔，其中一个未设置滤光片，另一个设置有滤光片，准直块451能够在直线电机452的驱动下，到达如下位置：1、摄像头43经准直块451上的反射镜4511透过检测孔411拍到位于样品台41上样品的观察位置；2、任一准直孔4512位于X射线源42与检测孔411之间的检测位置，X射线源42发出的X射线能够通过准直孔4512照射到位于样品台41上样品。检测仓40底部、导轨453一侧还设置有前挡块453与后挡块454，用于限制准直块451的运动行程。摄像头43，镜头对准观察窗401，当摄像头43位于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，其特征在于，包括：壳体(1)；盖体(2)，铰接地设置在壳体(1)上，能够关上或者打开；样品台(41)，设置在壳体(1)顶部，中间设置有样品检测孔(411)；检测仓(40)，密封设置在样品台(41)底部，一侧安装有观察窗(401)；X射线源(42)，设置在检测仓(40)底部，X射线源(42)的X射线发射管沿竖直方向布置；探测器(44)，设置在检测仓(40)另一侧，用于探测样品发出的二次X射线；摄像头(43)，镜头对准观察窗(401)；准直部件(45)，包括，设置在检测仓(40)外的电机；设置在检测仓(40)底部的导轨(453)；设置导轨(453)上的准直块(451)；准直块(451)上设置有反射镜(4511)和至少一个竖直布置的准直孔(4512)，准直块(451)能够在直线电机(452)的驱动下沿导轨(453)运动，准直块(451)能够到达如下位置：1、摄像头(43)经准直块(451)上的反射镜(4511)透过检测孔(411)拍到位于样品台(41)上样品的观察位置；2、任一准直孔(4512)位于X射线源(42)与检测孔(411)之间的检测位置；显示屏(9)，设置壳体(1)前端，用于显示摄像头(43)拍摄的图像及检测结果，显示屏(9)与水平面成30°‑60°角倾斜设置。...

【技术特征摘要】
1.一种具有显示功能的X射线荧光光谱分析仪，其特征在于，包括：壳体(1)；盖体(2)，铰接地设置在壳体(1)上，能够关上或者打开；样品台(41)，设置在壳体(1)顶部，中间设置有样品检测孔(411)；检测仓(40)，密封设置在样品台(41)底部，一侧安装有观察窗(401)；X射线源(42)，设置在检测仓(40)底部，X射线源(42)的X射线发射管沿竖直方向布置；探测器(44)，设置在检测仓(40)另一侧，用于探测样品发出的二次X射线；摄像头(43)，镜头对准观察窗(401)；准直部件(45)，包括，设置在检测仓(40)外的电机；设置在检测仓(40)底部的导轨(453)；设置导轨(453)上的准直块(451)；准直块(451)上设置有反射镜(4511)和至少一个竖直布置的准直孔(4512)，准直块(451)能够在直线电机(452)的驱动下沿导轨(453)运动，准直块(451)能够到达如下位置：1、摄像头(43)经准直块(451)上的反射镜(4511)透过检测孔(411)拍到位于样品台(41)上样品的观察位置；2、任一准直孔(4512)位于X射线源(42)与检测孔(411)之间的检测位置；显示屏(9)，设置壳体(1)前端，用于显示摄像头(43)拍摄的图像及检测结果，显示屏(9)与水平面成30°-60°角倾斜设置。2.根据权利要求1所述的具有显示功能的X...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜亚明，
申请(专利权)人：苏州浪声科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32