触控侦测方法技术
Touch detection method
The invention discloses a touch detection method, including the output through the processing unit outputs a first signal through the processing unit; the input end receives the second signal, the second signal level values corresponding to the first signal level value, the first capacitance of the first capacitor and two capacitor value, the capacitance value of second to correct for the second parameters; the signal change amount of quasi value correction is performed to obtain the corrected operation, change; if the corrected variation is greater than the threshold value, judging the touch events.
【技术实现步骤摘要】
触控侦测方法
本专利技术涉及一种触控侦测方法，尤其涉及一种用于触控侦测装置且可执行校正运算的触控侦测方法。
技术介绍
目前的触控侦测装置中，是使用输出信号执行电容充电，再接收对应于电容放电的输入信号，判断是否发生触控事件。为了执行充电、放电的操作，只可使用例如是方波的数字信号，因此不利于滤除杂噪的操作，导致信噪比(signal-to-noiseratio；SNR)无法提高。此外，触控面板上的各部位的触控灵敏度的差异，也常导致触控手势的判读失败。举例来说，如果触控面板的各触控部位的面积相异，则对应的触控信号的变化量常会随之相异，因此造成各触控部位之间的触控效果不良，从而常导致触控手势的判读失败，不利于使用者体验与产品竞争力。因此，本领域实在须要一解决方案以提高触控的功效。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种用于触控侦测装置的触控侦测方法。该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容。该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端系耦接于地端。该触控侦测方法包括经由该处理单元的该输出端输...
【技术保护点】
一种用于触控侦测装置的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容，该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端耦接于地端，该触控侦测方法包括：经由该处理单元的该输出端输出第一信号；经由该处理单元的该输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、该第一电容的第一电容值、及该第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；及若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。
【技术特征摘要】
2016.03.02 TW 1051062661.一种用于触控侦测装置的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容，该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端耦接于地端，该触控侦测方法包括：经由该处理单元的该输出端输出第一信号；经由该处理单元的该输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、该第一电容的第一电容值、及该第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；及若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。2.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该第一信号是第一类比信号，且该第二信号是第二类比信号。3.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该触控事件对应于外部物体触碰该触控侦测装置，该外部物体具有第三电容值，该第二信号的位准值的变化量对应于该第一电容值、该第二电容值、该...
【专利技术属性】
技术研发人员：周宜群，蔡明衡，陈许民，
申请(专利权)人：联阳半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71
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