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触控侦测方法技术
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文档序号:16187846
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本发明公开了一种触控侦测方法,包括经由处理单元的输出端输出第一信号;经由该处理单元的输入端接收第二信号,其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、第一电容的第一电容值、及第二电容的第二电容值;以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执...
该专利属于联阳半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联阳半导体股份有限公司授权不得商用。
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