利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法技术

本发明专利技术公开了一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法，包括如下步骤：将固体核径迹探测器制备成方形探测器，并将该方形探测器的四边磨平抛光，并标识观测边；利用粒子束流对方形探测器进行垂直辐照从而形成辐照后的探测器，并且粒子束流的辐照面积大于方形探测器的面积；将辐照后的探测器进行蚀刻，从而形成蚀刻后的探测器，然后将蚀刻后的探测器取出，经过后处理得到待观测的探测器；在取出过程中保证观测边不与硬物接触；将待观测的探测器置于光学显微镜的观测平台上，并使得所述观测边朝向所述光学显微镜的物镜，从而观测径迹形貌。本发明专利技术实现了借助光学显微镜实现对径迹形貌进行观测的目的。

【技术实现步骤摘要】
利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法
本专利技术涉及一种固体核径迹探测器的径迹形貌的观测方法，尤其是一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法。
技术介绍
固体核径迹探测器是一种重要的探测器。当带电粒子进入固体核径迹探测器材料时，在沿其射程轨迹周围造成辐射损伤，形成纳米级的潜径迹；将这些潜径迹经化学蚀刻处理，利用受损伤区域比未受损伤区域容易被腐蚀的原理，使得探测器材料中的潜径迹放大，以便记录径迹数目。固体核径迹探测器在辐射研究和放射防护剂量学方面有着广泛的应用前景。以CR39探测器为例，CR39探测器由于其具有优良的物理特性和对粒子辐射的高灵敏度而被广泛应用于空间重粒子辐射监测、中子辐射检测、环境科学、生物医学等领域。CR39探测器监测一般包括三个步骤：放射源的照射、探测器的蚀刻以及固体核径迹的观测分析(丽琴、屈喜梅等，CR-39固体核径迹探测器蚀刻技术新进展，核技术，2012，35(11):863-868)。受辐射后经化学蚀刻的探测器观测是研究其微观径迹结构特点和剂量特征的必要步骤。图1给出了垂直入射核粒子径迹蚀刻模型(曹磊、邓君等，CR39中子个人剂量计本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)制样步骤：将固体核径迹探测器制备成方形探测器，并将该方形探测器的四边磨平抛光，并标识观测边；(2)辐照步骤：利用粒子束流对所述方形探测器进行垂直辐照从而形成辐照后的探测器，并且所述粒子束流的辐照面积大于所述方形探测器的面积；(3)蚀刻步骤：将所述辐照后的探测器在蚀刻溶液中进行蚀刻，从而形成蚀刻后的探测器，然后将所述蚀刻后的探测器取出，经过后处理得到待观测的探测器；在取出过程中保证所述观测边不与硬物接触；(4)观测步骤：将所述待观测的探测器置于光学显微镜的观测平台上，并使得所述观测边朝向所述光学显微镜...

【技术特征摘要】
1.一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)制样步骤：将固体核径迹探测器制备成方形探测器，并将该方形探测器的四边磨平抛光，并标识观测边；(2)辐照步骤：利用粒子束流对所述方形探测器进行垂直辐照从而形成辐照后的探测器，并且所述粒子束流的辐照面积大于所述方形探测器的面积；(3)蚀刻步骤：将所述辐照后的探测器在蚀刻溶液中进行蚀刻，从而形成蚀刻后的探测器，然后将所述蚀刻后的探测器取出，经过后处理得到待观测的探测器；在取出过程中保证所述观测边不与硬物接触；(4)观测步骤：将所述待观测的探测器置于光学显微镜的观测平台上，并使得所述观测边朝向所述光学显微镜的物镜，从而观测径迹形貌。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤(1)中，使用塑料研磨石将所述方形探测器的四边磨平，并且使用塑料研磨粉将所述方形探测器的四边抛光。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤(2)中，所述粒子束流为重离子束流。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述重离子束流选自72Ge束流或126I束流。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在步骤(2)中，所述重离子束流的注量为102～1010/cm2。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在步骤(2)中，所述重离子束...

【专利技术属性】
技术研发人员：张贵英，惠宁，沈东军，郭泽钦，王志超，丁晓文，曹磊，王小春，牛东升，李珏，
申请(专利权)人：北京市化工职业病防治院，
类型：发明
国别省市：北京,11