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本发明公开了一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法，包括如下步骤：将固体核径迹探测器制备成方形探测器，并将该方形探测器的四边磨平抛光，并标识观测边；利用粒子束流对方形探测器进行垂直辐照从而形成辐照后的探测器，并且粒子束流的辐...
该专利属于北京市化工职业病防治院所有，仅供学习研究参考，未经过北京市化工职业病防治院授权不得商用。

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