用于探头或附件的动态输出钳位制造技术

本发明专利技术涉及用于探头或附件的动态输出钳位。用于与电测试和测量仪器一起使用的探头或附件可以包括：用于从被测试器件（DUT）接收输入信号的输入端；钳位控制单元或示波器，其用以将钳位/限制电平施加到输入信号以产生输出信号；和/或控制单元输出端口，其用以将钳位/限制的输出信号提供给示波器。

【技术实现步骤摘要】
用于探头或附件的动态输出钳位相关申请的交叉引用本申请要求于2016年2月26日提交的并且题为“DYNAMICOUTPUTCLAMPINGFORAPROBEORACCESSORY”的美国临时专利申请No.62/300,660的权益，据此通过引用使其公开完整并入本文。
本公开总体涉及测试和测量系统，并且更特别地涉及具有钳位/限制特征的测试和测量系统，该钳位/限制特征可以用来将测试和测量系统的输出电压摆动限制到示波器的输入中，并且从而在不过驱动（overdrive）和/或经受饱和的情况下允许用户增加示波器上的垂直灵敏度。
技术介绍
理想地，测试和测量系统将具有带宽和大的输入动态范围，这将允许用户测量具有宽电压摆动的信号并且然后能够对该信号的更精细的细节放大，以查看该信号的在1mV-100mV范围内的小电压分量。这种情况的一个很好的使用实例是尝试测量开关器件（诸如二极管、FET、IGBT等）的动态导通电阻。在Vds（导通）状态已经出现并且正在进入Vds（切断）状态（即高电压）之后尝试查看电压Vds（导通）和与Vds（导通）状态相关联的开关/传导损耗对用户而言已经是持续的挑战和关键的测量，特别本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于与电测试和测量仪器一起使用的探头，包括：输入端，所述输入端被配置为从被测试器件（DUT）接收输入信号；钳位控制单元，所述钳位控制单元被配置为向所述输入信号施加至少一个钳位/限制电平，以产生输出信号；以及输出端口，所述输出端口被配置为将钳位/限制的输出信号提供至示波器。

【技术特征摘要】
2016.02.26 US 62/300660;2016.09.16 US 15/2684331.一种用于与电测试和测量仪器一起使用的探头，包括：输入端，所述输入端被配置为从被测试器件（DUT）接收输入信号；钳位控制单元，所述钳位控制单元被配置为向所述输入信号施加至少一个钳位/限制电平，以产生输出信号；以及输出端口，所述输出端口被配置为将钳位/限制的输出信号提供至示波器。2.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位/限制电平包括正钳位/限制电平。3.根据权利要求2所述的探头，还包括以正钳位电平实施的二极管。4.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位/限制电平包括负钳位/限制电平。5.根据权利要求4所述的探头，还包括以负钳位电平实施的二极管。6.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位电平包括正钳位/限制电平和负钳位/限制电平。7.根据权利要求6所述的探头，还包括以正钳位电平实施的第一二极管和以负钳位电平实施的第二二极管。8.一种电测试和测量系统，包括：被测试器件（DUT）；示波器；以及探头，所述探头包括：输入端，所述输入端被配置为从所述DUT接收输入信号；钳位控制单元，所述钳位控制单元被配置为向所述输入信号施加至少一个钳位/限制电平，以产生输出信号；以及输出端口，所述输出端口被配置为将钳位/限制的输出信号提供至示波器。9.根据权利要求8所述的系统，还包括被配置为实施正钳位电平的第一二极管和被配置为实施负钳位电平的第二二极管。10.一种用于电...

【专利技术属性】
技术研发人员：MJ门德，RA布曼，WM维尔伯恩，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国,US