去除电子显微照相机图像异常点的方法技术

本发明专利技术公开一种去除透射式电子显微照相机图像中的异常点像素的方法。一种示范方法包括建立n个电子/像素的预期曝光量；将所述照相机暴露在一系列子帧曝光量下，生成一系列子帧图像；计算所述系列中所有子帧曝光量的平均值图像信号；建立选作获得预期误测数量的阈值；对比所述阈值离平均值更远的像素的所述各子帧曝光量进行评估；使用所述平均值替换超出所述阈值的所述各子帧图像中的像素，以形成修正的子帧图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】去除电子显微照相机图像异常点的方法相关申请的交叉引用本PCT申请要求获得于2014年8月2日申请的标题为“去除电子显微照相机图像异常点的方法”的第60/032,535号临时申请案按照《美国法典》第35卷第119条(e)项规定所享有的权利。所述临时申请案的全部公开内容均以引用的方式并入本文。
本专利技术涉及电子显微镜图像处理领域。
技术介绍
直到近年以来，电子显微镜的照相机还一直采用一种间接成像法制造，这种间接成像法使用闪烁体将电子图像转换成光图像，通过某种光学装置捕捉光图像，并将光图像转移到与闪烁体偏移的一个平面上，再使用硅传感器来捕捉光图像。所述光学装置由熔融光纤板或透镜组成。除了转移光图像的主要功能外，光学装置还可保护硅传感器免受电子束直接照射以及闪烁体上或更高处电子显微镜镜筒上电子束轫致辐射产生的X射线带来的伤害。该次要功能用于保护传感器不受损坏，并防止X射线射中传感器造成图像劣化。所述光学装置在实现次要功能时仅能起到部分作用。闪烁体上或更高处电子显微镜镜筒上产生的X射线，一部分穿过光学装置，一部分在硅传感器的外延层中被直接检测到，在其入口点生成小亮点，覆盖在电子束形成的图像上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种去除透射式电子显微照相机图像中的异常点像素的方法，包括：a.建立n个电子/像素的预期曝光量；b.将所述照相机暴露在一系列子帧曝光量下，生成一系列子帧图像；c.计算所述系列中所有子帧曝光量的平均值图像信号；d.建立选作获得预期误测数量的阈值；e.对比所述阈值离平均值更远的像素的所述各子帧曝光量进行评估；f.使用所述平均值替换超出所述阈值的所述各子帧图像中的像素，以形成修正的子帧图像。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.08.02 US 62/032,5351.一种去除透射式电子显微照相机图像中的异常点像素的方法，包括：a.建立n个电子/像素的预期曝光量；b.将所述照相机暴露在一系列子帧曝光量下，生成一系列子帧图像；c.计算所述系列中所有子帧曝光量的平均值图像信号；d.建立选作获得预期误测数量的阈值；e.对比所述阈值离平均值更远的像素的所述各子帧曝光量进行评估；f.使用所述平均值替换超出所述阈值的所述各子帧图像中的像素，以形成修正的子帧图像。2.根据权利要求1所述的方法进一步包括：g.为所述曝光量系列中各像素的位置计算曝光量系列的标准偏差；其中，所述阈值通过阈值系数与所述计算出的标准偏差相关。3.根据权利要求1所述的方法进一步包括以下步骤：h.合并所述修正的子帧图像，以形成修正的曝光量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在进行步骤h前，重复步骤c-f。5.根据权利要求1所述的方法，特征在于，所述平均值为移动平均值。6.根据权利要求5所述的方法进一步包括：g.根据曝光量系列和所述平均值计算移动方差，并根据所述移动方差计算所述曝光量系列中各像素位置的所述曝光量系列的移动平均值标准偏差；其中，所述阈值通过阈值系数与所述计算出的标准偏差相关。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述子帧曝光量具有相等强度。8.根据权利要求1所述的方法进一步包括：g.为所述曝光量系列中各像素的位置计算曝光量系列的标准偏差；其中，所述阈值通过阈值系数与所述计算出的标准偏差相关。9.根据权利要求8所述的方法进一步包括以下步骤：h.合并所述修正的子帧图像，以形成修正的曝光量。10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，该标准偏差是通过使用一种线性关系从所述平均值信号水平计算获...

【专利技术属性】
技术研发人员：保罗·穆尼，
申请(专利权)人：加坦公司，
类型：发明
国别省市：美国,US