确定振动元件的振动响应参数制造技术

提供了一种确定振动元件（104）的振动响应参数的方法（900、1000）。方法（900、1000）包括用第一驱动信号以第一频率对振动元件（104）进行振动，从以第一频率振动的振动元件（104）接收第一振动信号，测量第一相位差，该第一相位差是第一驱动信号和第一振动信号之间的相位差。方法（900、1000）还包括用第二驱动信号以第二频率对振动元件（104）进行振动，从以第二频率振动的振动元件（104）接收第二振动信号，测量第二相位差，该第二相位差是第二驱动信号和第二振动信号之间的相位差。方法（900、1000）还包括使用第一相位差和第二相位差来确定振动元件（104）的相位差和频率中的至少一个。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】确定振动元件的振动响应参数
下面描述的实施例涉及振动传感器，并且更具体地涉及确定振动传感器中的振动元件的振动响应参数。
技术介绍
诸如振动密度计和振动粘度计之类的振动传感器通过检测在存在将被表征的流体的情况下振动的振动元件的运动而操作。振动元件具有振动响应，所述振动响应可以具有诸如谐振频率或品质因数Q之类的振动响应参数。振动元件的振动响应通常受到与流体相结合的振动元件的组合质量、刚度和阻尼特性的影响。可以通过处理从与振动元件相关联的一个或多个运动换能器接收的一个或多个振动信号来确定与流体相关联的属性（诸如密度、粘度、温度等）。振动信号的处理可以包括确定振动响应参数。图1示出了现有技术的振动传感器，其包括振动元件和与振动元件耦合的计量电子装置。现有技术的振动传感器包括用于对振动元件进行振动的驱动器以及响应于振动创建振动信号的敏感元件（pickoff）。振动信号通常是连续时间或模拟信号。计量电子装置接收振动信号，并处理振动信号以生成一个或多个流体特性或流体测量。计量电子装置确定振动信号的频率和振幅两者。振动信号的频率和振幅可以被进一步处理以确定流体的密度。现有技术的振动传感器使用闭环电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种确定振动元件（104）的振动响应参数的方法（900、1000），所述方法（900、1000）包括：用第一驱动信号以第一频率对振动元件（104）进行振动；从以所述第一频率振动的所述振动元件（104）接收第一振动信号；测量第一相位差，所述第一相位差是所述第一驱动信号和所述第一振动信号之间的相位差；用第二驱动信号以第二频率振动所述振动元件（104）；从以所述第二频率振动的所述振动元件（104）接收第二振动信号；测量第二相位差，所述第二相位差是所述第二驱动信号和所述第二振动信号之间的相位差；和使用所述第一相位差和所述第二相位差来确定以下各项中的至少一个：相位差；和所述振动元件（104）的频率。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.12.19 US 62/0942551.一种确定振动元件（104）的振动响应参数的方法（900、1000），所述方法（900、1000）包括：用第一驱动信号以第一频率对振动元件（104）进行振动；从以所述第一频率振动的所述振动元件（104）接收第一振动信号；测量第一相位差，所述第一相位差是所述第一驱动信号和所述第一振动信号之间的相位差；用第二驱动信号以第二频率振动所述振动元件（104）；从以所述第二频率振动的所述振动元件（104）接收第二振动信号；测量第二相位差，所述第二相位差是所述第二驱动信号和所述第二振动信号之间的相位差；和使用所述第一相位差和所述第二相位差来确定以下各项中的至少一个：相位差；和所述振动元件（104）的频率。2.根据权利要求1所述的方法（900、1000），其中所确定的所述振动元件（104）的频率和相位差中的至少一个是根据所述第一相位差和所述第二相位差计算的基本线性近似。3.根据权利要求1或权利要求2中的一个所述的方法（900、1000），其中所确定的所述振动元件（104）的至少一个频率是振动元件（104）的谐振频率ω0、第一非谐振频率ω1、和第二非谐振频率ω2中的一个。4.根据前述权利要求中任何权利要求的一项所述的方法（900、1000），其中所确定的至少一个相位差是谐振相位差φ0、第一非谐振相位差φ1和第二非谐振相位差φ2中的一个。5.根据前述权利要求中任何权利要求的一项所述的方法（900、1000），还包括：使用所述第一相位差和所述第二相位差来计算所述振动元件（104）的Q值的线性近似。6.根据前述权利要求中任何权利要求的一项所述的方法（900、1000），其中由线性内插和线性外推之一来确定所述振动元件（104）的相位差和频率中的至少一个的确定。7.根据前述权利要求中任何权利要求的一项所述的方法（900、1000），其中所确定的所述振动元件（104）的相位差和频率中的至少一个被用来计算由振动元件（104）测量的流体的粘度和密度中的至少一个。8.根据前述权利要求中任何权利要求的一项所述的方法（900、1000），还包括：确定所述第一测量相位差和所述第二测量相位差是否在所述振动元件（104）的相位响应的线性区域内。9.一种用于确定振动元件（104）的振动响应参数...

【专利技术属性】
技术研发人员：CB麦卡纳利，AS克拉维茨，
申请(专利权)人：高准公司，
类型：发明
国别省市：美国,US