【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像捕获装置及图像捕获方法
本专利技术的实例性实施例涉及用于记录图像的设备及方法。具体来说,实例性实施例涉及那些有利于对光学像差进行计算校正的设备及方法。
技术介绍
现代光学系统应满足在图像品质方面越来越严格的要求。应通过对光学系统的配置保持为低的重要像差包括例如场曲率及像散性。在场曲率的情况下,视场点而定,图像是沿着光学轴在不同平面中出现。因此,场相关散焦像差是针对平面像场(例如,照相机芯片)而出现。可使用高精度及高品质光学单元来减轻此类像差。此常常会产生复杂、大型且昂贵的光学系统。此外,大量的透镜可能会提高系统的易反射性及/或降低透射性。对于许多应用来说,例如在昂贵专业器具的领域中,此可能是不利的。另一选择为或另外,可至少在专业应用中利用具有弯曲图像传感器表面的图像传感器,以进行场曲率校正。然而,此并非始终是可行的,且会导致成本增加。另一种用于减轻由场曲率引起的散焦像差的选项便是使用整体场深大于物场曲率的光学系统。然而,为达到此目的,需要减小整体系统的数值孔径,此会导致分辨率的损失。另一选择为,可利用更具成本效益的光学单元,并将此与随后进行的后处理相组合。将成 ...
【技术保护点】
一种图像记录设备,包括:照明装置(11、12;121),是可控的,以设定用于对物体进行照明的多个照明角度(4);检测器(14),包括图像传感器(15;123)(15;123),所述图像传感器(15;123)用以针对所述多个照明角度(4)而捕获所述物体的多个图像(41‑43);电子评估装置(20),用于处理所述多个图像(41‑43),且耦合至所述图像传感器(15;123),其中所述电子评估装置(20)用以对所述多个图像(41‑43)中的每一所述图像应用图像校正,所述图像校正包括纠正(T1、T2、T3),其中所述纠正(T1、T2、T3)取决于在记录相应的所述图像(41‑43)时 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.08.29 DE 102014112417.0;2014.09.03 DE 10201411.一种图像记录设备,包括:照明装置(11、12;121),是可控的,以设定用于对物体进行照明的多个照明角度(4);检测器(14),包括图像传感器(15;123)(15;123),所述图像传感器(15;123)用以针对所述多个照明角度(4)而捕获所述物体的多个图像(41-43);电子评估装置(20),用于处理所述多个图像(41-43),且耦合至所述图像传感器(15;123),其中所述电子评估装置(20)用以对所述多个图像(41-43)中的每一所述图像应用图像校正,所述图像校正包括纠正(T1、T2、T3),其中所述纠正(T1、T2、T3)取决于在记录相应的所述图像(41-43)时所使用的所述照明角度(4),以及将通过所述图像校正而校正的所述图像(44-46)相组合。2.如权利要求1所述的图像记录设备,其中所述电子评估装置(20)用以通过所述纠正(T1、T2、T3)来校正场点相关散焦。3.如权利要求2所述的图像记录设备,其中界定所述纠正(T1、T2、T3)的向量场(119)取决于以下两者:在记录被应用所述图像校正的所述图像(41-43)时的所述照明角度(4)、以及所述场点相关散焦。4.如前述权利要求中任一项所述的图像记录设备,其中所述电子评估装置(20)用以通过所述纠正(T1、T2、T3)来校正场曲率(54)。5.如权利要求4所述的图像记录设备,其中所述纠正(T1、T2、T3)取决(63)于指派给所述场曲率(54)的物场曲率。6.如权利要求4或权利要求5所述的图像记录设备,其中对图像应用的所述纠正(T1、T2、T3)取决于物体平面(70)的点(71-73)的场点相关偏移(77-79),在所述照明角度(4)下,所述点(71-73)在其被投影至弯曲表面(63)上时经历所述偏移...
【专利技术属性】
技术研发人员:L斯托普,T米尔德,M汉夫特,
申请(专利权)人:卡尔蔡司显微镜有限责任公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。