剂量率测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术的剂量率测定装置包括：使用第1补偿系数表求取对入射放射线的第1能量补偿系数的第1能量补偿系数运算部；使用第1能量补偿系数和G(E)函数来计算入射放射线的第1补偿剂量率的第1剂量率运算部；使用第2补偿系数表求取对入射放射线的第2能量补偿系数的第2能量补偿系数运算部；使用第2能量补偿系数来计算入射放射线的第2补偿剂量率的第2剂量率运算部；根据第1补偿剂量率与第2补偿剂量率的比的大小来选择输出的剂量率切换部；以及显示剂量率切换部输出的第1补偿剂量率或第2补偿剂量率的显示操作部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】剂量率测定装置
本专利技术涉及剂量率测定装置，尤其涉及剂量率的测定范围覆盖宽范围的剂量率测定装置。
技术介绍
在原子反应堆设施、已使用燃料再处理设施等的周边，设置有剂量率的测定范围覆盖宽范围的剂量率测定装置(例如，专利文献1～6)。通常，并行设置两台具备不同种类的放射线检测器的剂量率测定装置，由此来应对从平时的自然放射线水平到事故时的高放射线水平的剂量率的测定。该方式中，相对于空间放射线的入射，并行设置的剂量率测定装置彼此会成为对方的障碍，从而测定结果会受到不少并行设置的影响。从测定装置整体的小型化、成本降低及省空间化的观点出发，也希望能够利用一台剂量率测定装置来进行对应于宽范围的剂量率的测定。作为解决该问题的方法，专利文献1和专利文献2所涉及的剂量率测定装置在一个检测部内配置低量程用检测器和高量程用检测器。低量程用检测器和高量程用检测器分别使用闪烁检测器和半导体检测器，切换测定量程来输出测定结果。在两个专利文献中，低量程用检测器使用的是使用了铊活化碘化钠闪烁器的NaI(T1)闪烁检测器。若放射线检测器不同，则能量特性会产生差异，因此，在剂量率测定装置中，当切换低量程和高量程的剂量率进行输出时，会产生阶差。专利文献1所涉及的剂量率测定装置中，为了抑制因该量程切换而产生的阶差，至少测定一方的检测器输出脉冲的波高谱来推定入射放射线的能量。关于包含切换点的上下的剂量率区域，通过校准为任一方的能量特性来消除切换点处产生的较大的阶差。放射线检测器的灵敏度因放射线的入射方向不同而不同。专利文献2所涉及的剂量率测定装置中，在闪烁检测器的圆柱状闪烁器的头部表面配置一台半导体检测器，并且在该圆柱状闪烁器的侧面以180度的角度配置两台半导体检测器。通过采用该配置，使量程切换时因低量程用检测器和高量程用检测器的方向依赖性而产生的阶差得以抑制。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2002-022839号公报专利文献2：日本专利特开2002－168957号公报专利文献3：日本专利实开昭62-158375号公报专利文献4：日本专利特开平1-250885号公报专利文献5：日本专利特开2004－108796号公报专利文献6：日本专利特开2005－249580号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题专利文献1所涉及的剂量率测定装置中，即使能够抑制切换点处的阶差，合并低量程剂量率和高量程剂量率得到的全量程的能量特性(直线性)也无法充分地得到改善。此外，专利文献2所涉及的剂量率测定装置中，由于所有的半导体检测器相对于闪烁检测器的闪烁器(放射线传感器)变成阴影，因此会给测定结果带来影响。本专利技术是为了解决上述这样的问题而完成的。即，本专利技术的目的在于提供一种剂量率测定装置，能够使低量程剂量率和高量程剂量率两者的能量特性平坦化，从而改善全量程的能量特性(直线性)，能够在宽量程内进行高精度的测定。用于解决技术问题的技术方案本专利技术的剂量率测定装置包括：放射线检测器，该放射线检测器在有放射线输入的情况下输出模拟电压脉冲；第1脉冲放大器，该第1脉冲放大器对放射线检测器输出的模拟电压脉冲进行放大；第1模数转换部，该第1模数转换部将第1脉冲放大器的输出转换成数字信号；第1波高谱生成部，该第1波高谱生成部根据第1模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第1能量补偿系数运算部，若输入第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第1补偿系数表，求取对应于入射放射线的第1能量补偿系数；第1剂量率运算部，若输入第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1剂量率运算部使用G(E)函数，运算入射放射线的第1剂量率，并使用该运算得到的第1剂量率和第1能量补偿系数来计算入射放射线的第1补偿剂量率；放射线检测单元，该放射线检测单元在有放射线输入的情况下输出模拟电压脉冲；第2脉冲放大器，该第2脉冲放大器对放射线检测单元输出的模拟电压脉冲进行放大；第2模数转换部，该第2模数转换部将第2脉冲放大器的输出转换成数字信号；第2波高谱生成部，该第2波高谱生成部根据第2模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第2能量补偿系数运算部，若输入第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第2补偿系数表，求取对应于入射放射线的第2能量补偿系数；第2剂量率运算部，若输入第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2剂量率运算部运算入射放射线的第2剂量率，并使用该运算得到的第2剂量率和第2能量补偿系数来计算入射放射线的第2补偿剂量率；剂量率切换部，该剂量率切换部求取由第1剂量率运算部计算得到的第1补偿剂量率与由第2剂量率运算部计算得到的第2补偿剂量率的比，并根据该求取得到的比的大小来输出第1补偿剂量率或第2补偿剂量率；以及显示操作部，该显示操作部显示剂量率切换部输出的第1补偿剂量率或第2补偿剂量率。专利技术效果根据本专利技术的剂量率测定装置，在各个波高谱生成部中，根据入射放射线的平均波高值求取波高谱。利用平均波高值和入射放射线的平均能量的相关性来补偿能量特性的变形使其平坦化，并切换、输出经过能量补偿后的剂量率。其结果是，能够提供一种能够抑制伴随剂量率切换而产生的阶差，并在全剂量率量程中均具有良好的测定精度的剂量率测定装置。附图说明图1是表示实施方式1所涉及的剂量率测定装置的结构的图。图2是表示与低量程剂量率相关的补偿系数表的图。图3是表示与高量程剂量率相关的补偿系数表的图。图4是表示检测部的结构配置的图。图5是表示闪烁检测器的结构的图(图5A)、以及表示半导体检测器的结构的图(图5B)。图6是说明低量程剂量率的能量特性的图。图7是说明高量程剂量率的能量特性的图。图8是对剂量率切换部的切换动作进行说明的图。图9是表示实施方式2所涉及的剂量率测定装置的结构的图。图10是表示实施方式3所涉及的传感器元件的有效面积的图。图11是表示实施方式4所涉及的架台的结构的图。图12是表示实施方式5所涉及的架台的结构的图。图13是表示实施方式6所涉及的架台的结构的图。具体实施方式下面，基于附图，对本专利技术所涉及的剂量率测定装置的实施方式进行详细说明。另外，本专利技术并不限于下述记载，在不脱离本专利技术的要旨的范围内可适当进行变更。实施方式1.图1是表示实施方式1所涉及的剂量率测定装置的结构的图。如该图1所示那样，剂量率测定装置1由检测部2和测定部3构成。检测部2由闪烁检测器21和放射线检测单元28构成。闪烁检测器21(放射线检测器)吸收所入射的放射线的能量，在低剂量率区域中，输出具有与该吸收的能量成正比的波高值的离散的模拟电压脉冲(第1检测信号脉冲)。放射线检测单元28包括半导体检测器22～24及脉冲加运算电路29。半导体检测器22、半导体检测器23及半导体检测器24吸收入射放射线的能量，在高剂量率区域中，输出具有与该吸收的能量成正比的波高值的离散的模拟电压脉冲(第2检测信号脉冲)。脉冲加运算电路29输入从半导体检测器22～24输出的第2检测信号脉冲，并将三个脉冲列集合成一个脉冲列，并输出模拟电压脉冲(第3检出信号脉冲)。可以使用正比计数管、盖革-弥勒管(GM管)等放射线检测器来取代闪烁检测器21。具备多个或单个放射线检测器的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种剂量率测定装置，其特征在于，包括：放射线检测器，该放射线检测器在有放射线入射的情况下，输出模拟电压脉冲；第1脉冲放大器，该第1脉冲放大器对所述放射线检测器输出的模拟电压脉冲进行放大；第1模数转换部，该第1模数转换部将所述第1脉冲放大器的输出转换成数字信号；第1波高谱生成部，该第1波高谱生成部根据所述第1模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第1能量补偿系数运算部，若输入所述第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第1补偿系数表，求取对入射放射线的第1能量补偿系数；第1剂量率运算部，若输入所述第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1剂量率运算部使用G(E)函数表运算入射放射线的第1剂量率，并使用该运算得到的第1剂量率和所述第1能量补偿系数来计算入射放射线的第1补偿剂量率；放射线检测单元，该放射线检测单元在有放射线入射的情况下，输出模拟电压脉冲；第2脉冲放大器，该第2脉冲放大器对所述放射线检测单元输出的模拟电压脉冲进行放大；第2模数转换部，该第2模数转换部将所述第2脉冲放大器的输出转换成数字信号；第2波高谱生成部，该第2波高谱生成部根据所述第2模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第2能量补偿系数运算部，若输入所述第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第2补偿系数表，求取对入射放射线的第2能量补偿系数；第2剂量率运算部，若输入所述第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2剂量率运算部运算入射放射线的第2剂量率，并使用该运算得到的第2剂量率和所述第2能量补偿系数来计算入射放射线的第2补偿剂量率；剂量率切换部，该剂量率切换部求取由所述第1剂量率运算部计算得到的第1补偿剂量率与由所述第2剂量率运算部计算得到的第2补偿剂量率的比，并根据该求取得到的比的大小来输出所述第1补偿剂量率或所述第2补偿剂量率；以及显示操作部，该显示操作部显示所述剂量率切换部输出的第1补偿剂量率或第2补偿剂量率。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种剂量率测定装置，其特征在于，包括：放射线检测器，该放射线检测器在有放射线入射的情况下，输出模拟电压脉冲；第1脉冲放大器，该第1脉冲放大器对所述放射线检测器输出的模拟电压脉冲进行放大；第1模数转换部，该第1模数转换部将所述第1脉冲放大器的输出转换成数字信号；第1波高谱生成部，该第1波高谱生成部根据所述第1模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第1能量补偿系数运算部，若输入所述第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第1补偿系数表，求取对入射放射线的第1能量补偿系数；第1剂量率运算部，若输入所述第1波高谱生成部所生成的波高谱，则该第1剂量率运算部使用G(E)函数表运算入射放射线的第1剂量率，并使用该运算得到的第1剂量率和所述第1能量补偿系数来计算入射放射线的第1补偿剂量率；放射线检测单元，该放射线检测单元在有放射线入射的情况下，输出模拟电压脉冲；第2脉冲放大器，该第2脉冲放大器对所述放射线检测单元输出的模拟电压脉冲进行放大；第2模数转换部，该第2模数转换部将所述第2脉冲放大器的输出转换成数字信号；第2波高谱生成部，该第2波高谱生成部根据所述第2模数转换部的输出生成输入放射线的波高谱；第2能量补偿系数运算部，若输入所述第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2能量补偿系数运算部使用表示平均波高值与能量补偿系数的关系的第2补偿系数表，求取对入射放射线的第2能量补偿系数；第2剂量率运算部，若输入所述第2波高谱生成部所生成的波高谱，则该第2剂量率运算部运算入射放射线的第2剂量率，并使用该运算得到的第2剂量率和所述第2能量补偿系数来计算入射放射线的第2补偿剂量率；剂...

【专利技术属性】
技术研发人员：相场俊英，茂木健一，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP