测量和确定噪声参数的系统和方法技术方案

测量和确定噪声参数的系统和方法。一种示例性方法使用测试系统来测量噪声数据并且确定用于被测器件(DUT)的器件噪声模型的元件值，该测试系统包括用于向DUT呈现可控制的可变阻抗的耦合到DUT的输入的阻抗调谐器、以及耦合到DUT的输出的噪声接收器。噪声数据作为至少一个测量参数的函数被测量。所测量的数据包括从噪声接收器读取的原始噪声数据，并且被用来确定器件噪声模型的元件值。该系统可以包括器件模型的数据库。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测量和确定噪声参数的系统和方法相关申请的交叉引用本申请要求2014年11月3日提交的美国临时申请No.62/074,466的权益，其整个内容通过引用并入于此。
技术介绍
使器件的噪声贡献最小化在RF电路中是重要的。这从器件设计开始，并且以电路设计和系统设计而继续。被用来设计或评估器件和电路的噪声性能的参数被称为噪声参数。与s-参数一起使用的噪声参数向低噪声设计者提供他们需要的信息。噪声参数通常包括描述器件的噪声系数如何随着阻抗匹配而变化的值的集合。注意，在本文中，阻抗和伽马(gamma)可以可互换地被使用。如本领域中已知的，它们包含等效的信息。噪声参数一般随着与被测器件(DUT)相关联的测量参数(诸如频率、偏置或温度)而变化。测量参数是设置具体测量条件的独立激励值。器件参数包括噪声参数和s-参数，并且是通常针对测量参数的每个所期望集合而测量的值。增益参数从s-参数得出，所以也可以被考虑为是器件参数的一部分。存在不同数学形式的噪声参数，但是一般包括四(4)个标量值的集合。通常使用的集合是：1.Fmin＝最小噪声系数2.Gamma_opt大小＝将会产生Fmin的最优源伽马gamma_opt的大本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用测试系统来测量噪声数据并且确定用于被测器件(DUT)的器件噪声模型的元件值的方法，所述测试系统包括用于向所述DUT呈现可控制的可变阻抗的耦合到所述DUT的输入的阻抗调谐器、以及耦合到所述DUT的输出的噪声接收器，所述方法包括：使用所述测试系统来测量作为至少一个测量参数的函数的关于所述DUT的噪声数据；使用测量的所述噪声数据来确定所述器件噪声模型的元件值，并且其中测量的所述数据包括从所述噪声接收器读取的原始噪声数据，并且其中测量的所述数据不包括所述DUT的噪声参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.03 US 62/074,466;2015.10.23 US 14/921,7631.一种使用测试系统来测量噪声数据并且确定用于被测器件(DUT)的器件噪声模型的元件值的方法，所述测试系统包括用于向所述DUT呈现可控制的可变阻抗的耦合到所述DUT的输入的阻抗调谐器、以及耦合到所述DUT的输出的噪声接收器，所述方法包括：使用所述测试系统来测量作为至少一个测量参数的函数的关于所述DUT的噪声数据；使用测量的所述噪声数据来确定所述器件噪声模型的元件值，并且其中测量的所述数据包括从所述噪声接收器读取的原始噪声数据，并且其中测量的所述数据不包括所述DUT的噪声参数。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述器件噪声模型是器件响应模型。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述器件响应模型包括所述噪声参数作为测量参数值的函数应当平滑变化的知识或假设。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述响应模型进一步包括与所述噪声参数如何作为多个测量参数的函数而变化有关的信息。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是频率。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是偏置值。7.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少一个测量参数是温度。8.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：使用所述器件元件值从所述器件噪声模型来计算所述DUT的噪声参数。9.根据权利要求8所述的方法，其中测量的所述数据的子集被用于噪声参数确定。10.根据权利要求9所述的方法，其中测量的所述数据的所述子集被选择，以去除在所述器件不稳定或测量精度下降的阻抗处所测量的数据。11.根据权利要求9所述的方法，包括：执行所述噪声参数数据的多个计算，每个计算使用测量的所述数据的不同子集，并且其中最佳结果被保持作为最终计算的所述噪声参数。12.根据权利要求1所述的方法，其中测量的所述数据的子集被用于所述噪声模型元件值的确定。13.根据权利要求12所述的方法，其中测量的所述数据的所述子集被选择，以去除在所述器件不稳定或测量精度下降的阻抗处所测量的数据。14.根据权利要求12所述的方法，其中所述噪声元件值的多个确定被执行，每个确定包括使用测量的所述数据的不同子集的计算，并且其中最佳结果被保持作为最终计算的所述噪声模型。15.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量噪声数据包括：(i)将所述阻抗调谐器设定为第一状态；(ii)利用处于所述第一状态的所述阻抗调谐器针对所述至少一个测量参数的所有值来测量所述噪声数据；(iii)将所述阻抗调谐器设定为另一状态；(iv)利用处于所述另一状态的所述阻抗调谐器针对所述所有值来测量所述噪声数据；(v)重复步骤(iii)和(iv)直到所述噪声数据已经针对每个所期望的阻抗调谐器状态被测量。16.根据权利要求1所述的方法，其中所述测量噪声数据包括：(i)将所述阻抗调谐器设定为第一状态；(ii)利用处于所述第一状态的所述阻抗调谐器针对所述至少一个测量参数的第一值来测量所述噪声数据；(iii)将所述阻抗调谐器设定为另一状态；(iv)利用处于所述另一状态的所述阻抗调谐器针对所述至少一个测量参数的所述一个值来测量所述噪声数据；(v)重复步骤(iii)和(iv)直到所述噪声数据已经针对每个所期望的阻抗调谐器状态被测量；(vi)针对所述至少一个测量参数的每个所期望的值来重复步骤(i)至(v)。17.一种用于测量被测器件(DUT)的噪声参数的系统，包括：阻抗调谐器，耦合到所述DUT的输入以用于向所述DUT呈现可控制的可变阻抗；偏置系统，用于向所述DUT提供偏置信号；噪声接收器，耦合到所述DUT的输出；以及控制器，耦合到所述阻抗调谐器和所述噪声接收器以用于控制所述系统的测量参数，所述控制器包括：处理器；存储器，用于存储测量数据；器件模型类型数据库，存储至少一个器件模型类型；所述处理器被配置为控制所述测试系统以对所述DUT执行噪声数据测量，并且根据从对所述DUT的所述测量获得的原始数据来确定所述器件模型的元件值。18.根据权利要求17所述的系统，其中所述处理器进一步被配置为，利用确定的所述元件值从所述器件模型来确定噪声参数的集合。19.根据权利要求17所述的系统，其中所述至少一个器件模型类型包括响应模型类型或等效电路模型类型。20.根据权利要求17所述的系统，其中所述处理器进一步被配置为，控制所述测试系统以测量作为一个或多个所选择的测量参数的函数的DUTs-参数。21.一种使用具有设备的测试系统来...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·R·辛普森，
申请(专利权)人：莫里微波公司，
类型：发明
国别省市：美国,US