检体测定装置制造方法及图纸

检体测定装置10含有对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管16a、从激光照射过的测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元120、向激光二极管16a供给直流驱动信号的驱动电路13、高频化电路14，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从驱动电路13输出的驱动信号在既定周期向与激光二极管16a连接的第一信号路径102不同的第二信号路径103引导，将供给给激光二极管16a的驱动信号高频化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检体测定装置
本专利技术涉及一种用于测定检体的检体测定装置。
技术介绍
已知一种对由检体制备的测定试样细流照射激光，并对检体进行测定的检体测定装置。在检体测定装置中，作为光源，使用了激光二极管。当连续供给一定电平的驱动电流，则激光二极管射出单一波长的激光。在这种单模振荡的状态下，由于激光二极管的温度变化等因素，激光的波长发生阶梯状变化。这种现象称为模跳。在专利文献1中所述的试样分析装置中，通过在激光二极管的驱动信号中重叠高频成分，从而使激光二极管为多模振荡的状态。如此一来，通过调整驱动信号，从而使激光二极管在短周期重复“开”／“关”，抑制了模跳的发生。现有技术文献专利文献1：特开（日本专利）2009-53020号公报。
技术实现思路
专利技术所要解决的问题激光二极管有时根据个体差异输出会发生变化。这种情况下，在专利文献1中所述的试样分析装置中，利用APC（AutomaticPowerControl）电路，调整了激光二极管的驱动信号的电流，以便激光二极管在既定的输出下发光。另外，在检体测定装置中，有时根据测定模式会切换激光二极管的输出。在专利文献1中所述的试样分析装置中，在DIFF测定模式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检体测定装置，其含有：对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管、从激光照射过的所述测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元、向所述激光二极管供给直流驱动信号的驱动电路、高频化电路，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从所述驱动电路输出的所述驱动信号在既定周期向与与所述激光二极管连接的第一信号路径不同的第二信号路径引导，将供给给所述激光二极管的所述驱动信号高频化。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.11.14 JP 2014-2322421.一种检体测定装置，其含有：对由检体制备的测定试样照射激光的激光二极管、从激光照射过的所述测定试样中的粒子获取光学信息的检测单元、向所述激光二极管供给直流驱动信号的驱动电路、高频化电路，通过产生在既定周期重复高电平和低电平的电位，从而将从所述驱动电路输出的所述驱动信号在既定周期向与与所述激光二极管连接的第一信号路径不同的第二信号路径引导，将供给给所述激光二极管的所述驱动信号高频化。2.根据权利要求1所述的检体测定装置，其特征在于：所述高频化电路从与所述第二信号路径连接的输出单元输出在所述既定周期重复所述高电平和所述低电平的电位的脉冲列信号。3.根据权利要求2所述的检体测定装置，其特征在于：所述高频化电路包括环形振荡器电路。4.根据权利要求2所述的检体测定装置，其特征在于：所述高频化电路在所述脉冲列信号处于所述低电平期间，将从所述驱动电路输出的所述驱动信号经由所述第二信号路径向接地引导。5.根据权利要求2所述的检体测定装置，其特征在于：所述高频化电路含有：在所述脉冲列信号处于所述低电平期间，将从所述驱动电路输出的所述驱动信号向接地引导的多段逻辑电路。6.根据权利要求2所述的检体测定装置，其特征在于：所述脉冲列信号的频率在85MHz以上。7.根据权利要求1至6的任意一项所述的检体测定装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：松井邦彦，田村晃子，
申请(专利权)人：希森美康株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP