RFID标签性能测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种RFID标签性能测试系统。其中，该系统包括：综测仪，通过数据接口与上位机通信，接收上位机发出的测试指令，综测仪响应测试指令发出测试信号，其中，测试信号用于指示对RFID标签性能进行测试；功率放大器，与综测仪连接，用于对测试信号的功率进行放大；射频开关单元，与上位机通信，响应上位机发出的选择指令在多条天线中选择目标天线，其中，多条天线环绕分布在RFID标签周围，通过目标天线发送放大后的测试信号至RFID标签，以对RFID标签进行性能测试。本发明专利技术解决了RFID标签的性能测试速度慢的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
RFID标签性能测试系统
本专利技术涉及测试
，具体而言，涉及一种RFID标签性能测试系统。
技术介绍
传统RFID标签性能测试方案一般是依据国际标准(如ISO18046-3或EPCglobalTagPerformance)所规定测试方法进行测试，为了能提高测试结果的准确性，测试标准要求对被测标签取多个样本进行逐一测试，然后对所有结果进行统计，从而得到最终的测试结果。在测量标签的方位容差时，由于需要测量的水平角度和垂直角度较多，总测试次数，而测试速度受限于机械转台的旋转速度和延迟，所以整个测试过程往往要持续几小时甚至十几小时。另外，原有RFID标签性能测试方法一般采用单一方向下的识读距离作为衡量标签性能的特征值，而在实际应用场景中，识读距离并不能体现出标签整体的信号接收能力。图1是根据相关技术的一种RFID标签性能测试的系统的结构图，如图1所示，该系统包括上位机(图1中的电脑)，RFID读写器，环形器，测试天线，被测件(RFID标签)，转台(转动被测件)，频谱分析仪，中间件(包括GPIBLANUSB)等，其中，GPIB为通用接口总线，LAN为局域网，USB为通用串行总线。RFI本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种RFID标签性能测试系统，其特征在于，包括：综测仪，通过数据接口与上位机通信，接收所述上位机发出的测试指令，所述综测仪响应所述测试指令发出测试信号，其中，所述测试信号用于指示对RFID标签性能进行测试；功率放大器，与所述综测仪连接，用于对所述测试信号的功率进行放大；射频开关单元，与所述上位机通信，响应所述上位机发出的选择指令在多条天线中选择目标天线，其中，多条所述天线环绕分布在所述RFID标签周围，通过所述目标天线发送放大后的测试信号至所述RFID标签，以对所述RFID标签进行性能测试。

【技术特征摘要】
1.一种RFID标签性能测试系统，其特征在于，包括：综测仪，通过数据接口与上位机通信，接收所述上位机发出的测试指令，所述综测仪响应所述测试指令发出测试信号，其中，所述测试信号用于指示对RFID标签性能进行测试；功率放大器，与所述综测仪连接，用于对所述测试信号的功率进行放大；射频开关单元，与所述上位机通信，响应所述上位机发出的选择指令在多条天线中选择目标天线，其中，多条所述天线环绕分布在所述RFID标签周围，通过所述目标天线发送放大后的测试信号至所述RFID标签，以对所述RFID标签进行性能测试。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：第一分析单元，设置在频谱分析仪上，在接收到反向信号的情况下，对所述反向信号进行分析，其中，所述反向信号为通过所述放大后的测试信号激活所述RFID标签后返回的信号。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：配置单元，用于在所述上位机发出测试指令之前，响应所述上位机发出的配置指令对所述综测仪的参数进行配置，其中，所述参数包括：发送所述测试信号的频率、所述测试信号的起始功率和功率步进值。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述综测仪还包括：信号触发单元，用于在所述放大后的测试信号未激活所述RFID标签的情况下，再次触发生成测试信号，并发送所述测试信号以激活所述RFID标签，其中，所述测试信号的功率为目标功率，所述目标功率是基于所述测试信号的功率按照预设算法进行调整后的功率。5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：张楠，金磊，陈彬，李雨翔，张志华，
申请(专利权)人：北京中科国技信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11