链路校准方法、装置、系统及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种链路校准方法、装置、系统及存储介质。其中，该方法包括：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个测试探头的损耗差异数据，其中，损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制校准天线对准基准探头，得到每一个基准探头对应的基准校准数据；根据基准校准数据和归一化数据，确定每一个测试探头对应的校准数据。本发明专利技术解决了传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。线校准频段不完整的技术问题。线校准频段不完整的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
链路校准方法、装置、系统及存储介质


[0001]本专利技术涉及校准测试
，具体而言，涉及一种链路校准方法、装置、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]在多探头单天线空中下载技术SISO OTA测试中，链路校准的准确性直接关系整体系统测试的准确性。由于多探头SISO OTA自身系统构造的特点，整个系统内部链路数量较多，传统链路校准方法存在时间长、步骤繁琐、天线价格昂贵以及天线频段不完整等多种问题，使得很多多探头SISO OTA实验室无法做到全频段测试支持，制约了实验室的测试能力。
[0003]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种链路校准方法、装置、系统及存储介质，以至少解决传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。
[0005]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种链路校准方法，包括：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。
[0006]可选的，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括：计算任意两个上述损耗差异数据之间的第一差值；若存在上述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。
[0007]可选的，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括:获取同一频段下的多组上述归一化数据；基于多组上述归一化数据计算得到多组上述损耗差异数据；计算任意两组上述损耗差异数据之间的第二差值；若存在上述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。
[0008]可选的，在得到上述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。
[0009]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种链路校准系统，包括：归一化校准工装设备，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；主控设备，与上述归一化校准工装设备连接，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基
准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。
[0010]可选的，上述归一化校准工装设备，包括：安装基座，与上述测试环的安装基座连接，用于调整上述安装基座的水平度；塔式升降架，与上述安装基座连接，用于调节水平旋转轴的垂直高度，以确保上述水平旋转轴与上述测试环的圆心重合；上述水平旋转轴，与上述塔式升降架连接，用于带动上述校准天线旋转。
[0011]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种链路校准装置，包括：第一获取模块，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；第二获取模块，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；第三获取模块，用于控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；确定模块，用于根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。
[0012]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，上述非易失性存储介质存储有多条指令，上述指令适于由处理器加载并执行任意一项上述的链路校准方法。
[0013]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为运行上述计算机程序以执行任意一项上述的链路校准方法。
[0014]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行任意一项上述的链路校准方法。
[0015]在本专利技术实施例中，采用校准测试的方式，通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据，达到了通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，确定每一个测试探头对应的校准数据的目的，从而实现了简化链路校准步骤，提升校准效率，降低校准成本的技术效果，进而解决了传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。
附图说明
[0016]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0017]图1是根据现有技术的一种可选的多探头OTA暗室示意图；
[0018]图2是根据现有技术的一种可选的标准偶极子天线的示意图；
[0019]图3是根据本专利技术实施例的一种链路校准方法的流程图；
[0020]图4是根据本专利技术实施例的一种可选的归一化校准示意图；
[0021]图5是根据本专利技术实施例的一种可选的损耗差异数据图像；
[0022]图6是根据本专利技术实施例的一种可选的链路校准方法的流程图；
[0023]图7是根据本专利技术实施例的一种链路校准系统的结构示意图；
[0024]图8是根据本专利技术实施例的一种可选的归一化校准工装设备的结构示意图；
[0025]图9是根据本专利技术实施例的一种可选的归一化校准工装设备余测试环的连接结构示意图；
[0026]图10是根据本专利技术实施例的一种链路校准装置的结构示意图。
具体实施方式
[0027]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种链路校准方法，其特征在于，包括：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个所述测试探头的损耗差异数据，其中，所述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，所述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制所述校准天线对准所述基准探头，得到所述基准探头对应的基准校准数据；根据所述基准校准数据和所述归一化数据，确定每一个所述测试探头对应的校准数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理之前，所述方法还包括：计算任意两个所述损耗差异数据之间的第一差值；若存在所述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理之前，所述方法还包括:获取同一频段下的多组所述归一化数据；基于多组所述归一化数据计算得到多组所述损耗差异数据；计算任意两组所述损耗差异数据之间的第二差值；若存在所述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在得到所述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。5.一种链路校准系统，其特征在于，包括：归一化校准工装设备，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个所述测试探头的损耗差异数据，其中，所述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；主控设备，与所述归一化校准工装设备连接，用于采用基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：张楠，李哲，张志华，
申请(专利权)人：北京中科国技信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：