一种漏电流检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种漏电流检测方法及装置，其中方法包括：对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。本发明专利技术实施例解决了同时对多个待检测设备自动进行漏电流检测的问题，提高了漏电流检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种漏电流检测方法及装置
本专利技术实施例涉及电气检测技术，尤其涉及一种漏电流检测方法及装置。
技术介绍
目前，许多设备需要进行漏电流检测，例如时钟锁等。时钟锁保持时钟功能的装置中涉及mA级电池，为了减少时钟锁漏电流过大，需定期对时钟锁进行漏电流检测。目前的漏电流检测一般是通过uA级漏电流测试仪和uA级万用表对每个时钟锁进行逐一检测。上述漏电流检测方法的测试设备成本高，耗费时间长，效率低。
技术实现思路
本专利技术提供一种漏电流检测方法及装置，以实现快速进行漏电流检测，提高了检测效率。第一方面，本专利技术实施例提供了一种漏电流检测方法，该方法包括：对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。进一步的，所述将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容包括：当主控制器MCU处本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种漏电流检测方法，其特征在于，包括：对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种漏电流检测方法，其特征在于，包括：对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容包括：当主控制器MCU处于休眠状态时，将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；相应的，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：当所述主控制器MCU处于唤醒状态时，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：获取MCU存储单元的偏置电压值，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值和所述偏置电压值的差值作为采样电压，将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流，所述偏置电压值由对所述至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大时的偏置电流、偏置电阻和增益参数确定。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：获取MCU的参考源通道数值，将参考源恒定电压与所述参考源通道数值的比值作为所述MCU的供电电压；获取采样通道的ADC的转换值，将所述MCU的供电电压与所述ADC的转换值的积确定为采样电压；将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的检测结果包括：依据比对情况，通过LED灯显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果，其中，若所述采样电流大于预设电流值，则第一LED灯...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙吉平，张秀成，
申请(专利权)人：北京深思数盾科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11