基于群延迟的平均制造技术

本发明专利技术涉及基于群延迟的平均。本发明专利技术的实施例提供用于通过找到信号之间的群延迟并且将其用于计算经平均的结果，来在平均两个或更多数据信号时改进信噪比（SNR）的技术和方法。在一个实施例中，计算信号的直接平均值并且针对直接平均值和每一个数据信号找到相位。在每一个信号与直接平均值之间找到相位差。相位差然后用于补偿信号。平均经补偿的信号提供比常规平均技术更精确的结果。所公开的技术可以用于改进仪器精度而同时最小化诸如较高频衰减之类的影响。例如，在一个实施例中，所公开的技术可以使得实时示波器能够进行更加精确的S参数测量。

【技术实现步骤摘要】
基于群延迟的平均
本专利技术涉及用于平均数据信号而同时最小化由诸如抖动之类的影响导致的失真的改进的方法。
技术介绍
直接平均通常用于改进诸如示波器之类的测量仪器中的测量精度。通过取多个信号的平均值（或者平均从单个信号获取的多个样本），结果的信噪比（SNR）可以增加，这是因为非重复的噪声和失真被平均掉。但是，当信号具有抖动时，经平均的结果可能失真。当信号被平均时，该抖动导致结果的较高频部分比结果的其余部分衰减得更多。这可以典型地被视为经平均的结果中的较缓慢的上升沿。通常，测量仪器可能将抖动引入到它们正在测量的信号中。例如，实时示波器中的触发抖动将抖动引入到通过示波器获取的样本中。因此，这些仪器可能甚至在使用平均时也不能够如更加昂贵的设备那样精确地做出测量。因此，存在对于最小化抖动对经平均的结果的影响的改进的平均技术的需要。改进的平均技术对于数个不同信号处理应用可以是有用的，并且可以允许具有获取抖动的仪器取代更加昂贵的仪器。例如，在一个实施例中，改进的平均技术可以允许实时示波器测量被测设备的S参数。在一个示例中，所公开的技术可以允许实时示波器测量S参数而不需要诸如矢量网络分析仪（VNA）本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量两个或更多被测信号的方法，包括：获取两个或更多被测信号；基于所述两个或更多被测信号来确定平均信号；确定针对所述平均信号的平均群延迟；确定针对所述两个或更多被测信号的个体群延迟；确定所述平均群延迟与所述个体群延迟之间的差值；通过补偿所述差值来创建经补偿的信号；平均所述经补偿的信号以产生经平均的结果；以及输出所述经平均的结果。

【技术特征摘要】
2015.12.09 US 62/265325;2016.04.29 US 15/1434291.一种用于测量两个或更多被测信号的方法，包括：获取两个或更多被测信号；基于所述两个或更多被测信号来确定平均信号；确定针对所述平均信号的平均群延迟；确定针对所述两个或更多被测信号的个体群延迟；确定所述平均群延迟与所述个体群延迟之间的差值；通过补偿所述差值来创建经补偿的信号；平均所述经补偿的信号以产生经平均的结果；以及输出所述经平均的结果。2.权利要求1所述的方法，其中：确定平均群延迟的步骤包括确定针对所述平均信号的相位；确定针对所述两个或更多被测信号的个体群延迟的步骤包括确定针对所述两个或更多被测信号的个体相位；并且确定所述平均群延迟与所述个体群延迟之间的差值的步骤包括确定所述平均信号相位与所述个体相位之间的差值。3.权利要求2所述的方法，其中确定所述平均信号的相位的步骤包括：对所述平均信号执行时间到频率变换；以及从所述时间到频率变换的结果获得相位；并且其中确定所述两个或更多数据信号的相位的步骤包括对所述两个或更多数据信号执行时间到频率变换，以及从所述时间到频率变换的结果获得相位。4.权利要求2所述的方法，其中确定针对所述平均信号的相位的步骤包括：计算所述平均信号的导数；对所述平均信号的导数执行时间到频率变换；以及从所述时间到频率变换的结果获得相位；并且其中确定所述两个或更多数据信号的相位的步骤包括：计算所述两个或更多数据信号的导数；对所述导数执行时间到频率变换；以及从所述时间到频率变换的结果获得相位。5.权利要求2所述的方法，其中确定相位差的步骤包括：展开所述平均信号的相位；展开所述被测信号的相位；以及通过从所述被测信号的展开相位减去所述平均信号的展开相位来确定相位差。6.权利要求2所述的方法，其中所述差值包括第一差值并且补偿所述差值的步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：JJ皮克德，K谭，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国,US