一种双频相移三维测量方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种双频相移三维测量方法及系统，所述测量方法包括使用计算机生成两组频率不同的相移投影条纹，其条纹周期满足

【技术实现步骤摘要】
一种双频相移三维测量方法及系统
本专利技术涉及光学三维测量领域，尤其涉及一种双频相移三维测量方法及系统。
技术介绍
目前，基于光栅投射的光学三维测量仪主要由投影系统、图像获取系统和信息处理系统组成：投影系统由白光光源、聚光镜组、投影透镜、正弦光栅模板和相移器组成，用于产生正弦光栅并将其投射在物体表面；图像获取系统主要由高分辨率CCD摄像机、摄像平台和摄像镜头组成，获取物体表面的光栅变形图像后传给信息处理系统；信息处理系统主要是计算机和相关的算法从变形条纹中获取包裹相位信息，再用解包裹技术获取代表待测物体高度信息的相位，进而映射物体高度，将待测物体三维重建和信息输出。双频相移三维测量仪采用的解包裹技术主要有双频外差法和查表法，双频外差法对相位误差要求严格，算法中包含除法项扩大了误差，不能保持相移技术所获得的包裹相位精度，在应用时误差容忍度小于查表法。查表法利用相位差与周期的关系制成“相位差”→“周期编号”映射表，通过查表直接求得该位置(像素)周期编号，加上包裹相位值后获得真实相位。然而，在判定周期编号时，由映射表各值的分布间距形成容差，由于不规则分布，通常容差总是太小，使得判定周期编号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双频相移三维测量方法，包括以下步骤：使用计算机生成两组频率不同的相移投影条纹，其条纹周期满足

【技术特征摘要】
2016.04.29 CN 20161028006741.一种双频相移三维测量方法，包括以下步骤：使用计算机生成两组频率不同的相移投影条纹，其条纹周期满足其中，T1为低频条纹周期，T2为高频条纹周期，表示向下取的最大整数，T2是C1的整数倍，C1为设定量程对低频周期T1的倍数，并分别将所述投影条纹投影在被测物体的表面；利用CCD相机采集相移条纹照片；利用MATLAB软件分析条纹的相移信息，通过四步相移求解得到包裹相位φ1，φ2；利用对两个包裹相位φ1，φ2归一化得到其中φ(x，y)是包裹相位值；利用“固有的条纹周期编号组合”这一关系，建立一个条纹周期编号组合表；查表得到包裹相位差的对应周期编号组合，获得条纹周期数；以及利用条纹周期与包裹相位之间的数学关系得到绝对相位，实现解包。2.如权利要求1所述的双频相...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘胜德，潘麦铭成，陈泽雄，陈观文，王妍，陈玉冰，
申请(专利权)人：华南师范大学，
类型：发明
国别省市：广东,44