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本发明提供一种双频相移三维测量方法及系统，所述测量方法包括使用计算机生成两组频率不同的相移投影条纹，其条纹周期满足...
该专利属于华南师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学授权不得商用。

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