基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法技术

基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，属于集成电路设计领域。当采样时间失配表征量|Bi|≥Bs时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，当|Bi|<Bs时，采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，然后将调节后Tcali(n+1)反馈到时间交织ADC中的时钟单元，调整对应的第i个时间交织ADC通道的时钟相位，使采样时间的失配不断减小，完成该校正周期中采样时间失配的校正，其中Bs为无采样时间失配时|Bi|的最大范围，称为采样时间失配阈值。本发明专利技术采用二分查找法极大的缩短了校正周期；采用固定校正步长的校正算法保证了校正精度。

【技术实现步骤摘要】
基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法
本专利技术涉及集成电路设计领域，具体的说是涉及时间交织模数转换器，特别是涉及一种用于时间交织模数转换器采样时间失配的校正算法。
技术介绍
模数转换器(ADC)是连接模拟世界和数字世界的桥梁，它能将模拟信号量化成易于用各种数字处理技术处理的数字信号。随着数字信号处理技术和集成电路制造工艺的发展，数字电路的速度越来越快，相应的，对模数转换器转换速率的要求也越来越高。时间交织模数转换器是一种能实现高采样率的模数转换器，它采用了时间交织架构，包含M个并行工作的子通道模数转换器，每个子通道的时钟频率均为fs/M，但是相位相互错开，如图1所示，所以系统整体的采样率能达到fs。相对于单通道而言，采样率得到了成倍的增长。但是，通道间的失调失配、增益失配、采样时间失配会使时间交织模数转换器的动态性能恶化，所以，必须采取相应的校正算法来校正上述失配。已知的一些校正算法主要分两个阶段来校正上述失配，首先是失配检测，即需要检测出存在的失配的大小；然后是失配校正，即根据检测出的失配对数据进行相应的处理，使失配值最终趋近于零。对于采样时间失配的校正，专利CN1本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，其特征在于，包括以下步骤：a：时间交织ADC采样输入信号，并将其量化为数字信号；b：定义第i个时间交织ADC通道的第n个校正周期的采样时间失配校正系数为Tcali(n)，Tcali(1)＝0，每个校正周期中处理步骤a得到的数字信号获得时间交织ADC各通道采样时间失配表征量Bi，(i＝1，2，…，M)，其中M为时间交织ADC的通道总数；c：在每个校正周期中，当|Bi|≥Bs时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，当|Bi|<Bs时，采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期...

【技术特征摘要】
1.基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，其特征在于，包括以下步骤：a：时间交织ADC采样输入信号，并将其量化为数字信号；b：定义第i个时间交织ADC通道的第n个校正周期的采样时间失配校正系数为Tcali(n)，Tcali(1)＝0，每个校正周期中处理步骤a得到的数字信号获得时间交织ADC各通道采样时间失配表征量Bi，(i＝1，2，…，M)，其中M为时间交织ADC的通道总数；c：在每个校正周期中，当|Bi|≥Bs时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，当|Bi|<Bs时，采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，然后将调节后的下一个校正周期的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)反馈到时间交织ADC中的时钟单元，调整对应的第i个时间交织ADC通道的时钟相位，使采样时间的失配不断减小，完成该校正周期中采样时间失配的校正，其中Bs为无采样时间失配时|Bi|的最大范围，称为采样时间失配阈值；所述采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)的具体步骤为：c1.1：Bi>BS时，令其中ut(n)为本次校正周期的校正步长；ut(1)＝tmax，tmax表示时钟单元能够调节的最大时间延迟；c1.2：Bi<-BS时，令c1.3：对于步骤c1.1和c1.2，当校正步长ut(n)达到最小精度步长utmin时，保持最小精度步长utmin的值不再改变，最小精度步长utmin＝tmin，tmin表示时钟单元能够调节的最小时间延迟，所述最小精度步长utmin即为固定校正步长；所述采用固定校正步长的方式调节下一个校正周期中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李靖，王朝驰，李成泽，叶欣，宁宁，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51