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基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，属于集成电路设计领域。当采样时间失配表征量|Bi|≥Bs时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，当|Bi|<Bs时...
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