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一种定时同步DAC静态参数测试方法技术

技术编号:15898641 阅读:44 留言:0更新日期:2017-07-28 21:29
本发明专利技术涉及一种定时同步DAC静态参数测试方法。该方法在数字输入模块与模拟采集模块无法共享时钟与触发信号的情况下,以运行于控制器上的软件程序依次调度数字输入模块与模拟采集模块,并控制相对时延,实现DAC静态参数测试过程中模拟采集模块的信号采集与数字输入模块的数字信号输入之间的同步。本发明专利技术在硬件设备无法共享时钟与触发信号的限制下,实现了DAC静态参数测试模拟采集与数字输入的同步,降低了DAC测试对硬件设备的功能要求,整个测试过程在控制器控制下完全自动化执行。以此测试方法可通过经济适用的小型设备实现DAC的静态参数自动化测试,为一些特殊场景的DAC静态参数测试如总剂量效应实验等提供小型化、经济适用测试方案。

【技术实现步骤摘要】
一种定时同步DAC静态参数测试方法
本专利技术属于半导体测试领域及辐射效应研究领域,具体涉及一种定时同步DAC静态参数测试方法。
技术介绍
数模转换器(DigitaltoAnalogConverter,DAC)静态参数测试方法复杂,传统的静态参数测试方法中要求:1)数字输入模块与模拟采集模块共享同一个时钟信号2)通过数字输入模块提供的触发信号触发控制模拟采集模块采样测量的开始和结束3)模拟采集模块需在共享时钟基础上进行一定的时间延迟后测量DAC模拟输出,即每次数字输入产生的模拟输出稳定之后及下一次数字输入导致的模拟输出状态改变前执行DAC模拟输出的信号测量。目前常用的测试方案有如下三种:方案一:大型半导体测试机台测试。这种方案测试全面可靠效率高,但是体积大设备不可携带,价格昂贵通常达到千万级别,主要适用于半导体厂商生产测试。如泰瑞达公司的UltraFlex与爱德万公司的V93000。方案二:手动测试或半自动测试方案方案,这种方案测试效率低,耗时长,并且只能进行部分码值测试(即只测试部分输入码值对应的模拟输出,根据这部分码值的测试结果计算静态参数)。如专利申请号200910048936本文档来自技高网...
一种定时同步DAC静态参数测试方法

【技术保护点】
一种定时同步DAC静态参数测试方法,其特征在于,所述测试方法的测试模块包括数字输入模块、模拟采集模块、电源模块及控制器;所述数字输入模块提供被测DAC所需控制信号和数字信号输入;所述模拟采集模块用于采集测量被测DAC模拟输出;所述电源模块用于为被测DAC供电;所述控制器用于控制数字输入模块、模拟采集模块,并执行数据处理,根据模拟采集模块采集的原始数据计算相关静态参数;采用上述测试模块的测试方法,包括以下步骤:1)电源模块给被测DAC供电;2)向控制器输入待测试码的个数;3)控制器向数字输入模块发送命令控制其将被测DAC的控制信号置为有效,并输出第一个测试码值;4)控制器延时控制,延迟一个设定的...

【技术特征摘要】
1.一种定时同步DAC静态参数测试方法,其特征在于,所述测试方法的测试模块包括数字输入模块、模拟采集模块、电源模块及控制器;所述数字输入模块提供被测DAC所需控制信号和数字信号输入;所述模拟采集模块用于采集测量被测DAC模拟输出;所述电源模块用于为被测DAC供电;所述控制器用于控制数字输入模块、模拟采集模块,并执行数据处理,根据模拟采集模块采集的原始数据计算相关静态参数;采用上述测试模块的测试方法,包括以下步骤:1)电源模块给被测DAC供电;2)向控制器输入待测试码的个数;3)控制器向数字输入模块发送命令控制其将被测DAC的控制信号置为有效,并输出第一个测试码值;4)控制器延时控制,延迟一个设定的时间T后控制器向模拟采集模块发送命令控制模拟采集模块采集DAC模拟输出端电压,并读回数据缓存;其中:T≥TPD+TSET;TPD为DAC的传输延迟时间,TSET为DAC建立时间;5)控制器向数字...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘玉辉邱孟通陈伟郭红霞郭晓强张凤祁丁李利
申请(专利权)人:湘潭大学西北核技术研究所
类型:发明
国别省市:湖南,43

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