一种用于CMOS传感器的测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种用于CMOS传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明专利技术通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定架固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。

A test system for CMOS sensors

The invention relates to a testing system for the CMOS sensor, which mainly solves the test function in the prior art, the test chip less number of technical problems, the invention comprises the parallel light lamp box; the number of non lens CMOS N sensor, CMOS sensor test without lens with the parallel light corresponding to the position; with no lens CMOS sensor connection test board, test board comprises an image sensor signal acquisition data; no lens CMOS sensor and test board are fixed on the test plate fixed plate, the test plate fixed bracket is fixedly connected with the lifting platform; the test board through the USB2.0 are connected with the control unit, the control unit it is connected with the lifting platform and the technical scheme of the control unit is connected via a USB cable and serial port and PC, a better solution to the problem, can be used for CMOS sensor Performance testing.

【技术实现步骤摘要】
一种用于CMOS传感器的测试系统
本专利技术涉及传感器测试领域，特别涉及到一种用于CMOS传感器的测试系统。
技术介绍
采用新工艺做的CMOS传感器一般需要对电路和像素性能进行评估，以便后续用该工艺进行批量生产。既然要对电路和像素性能进行评估测试，那么就需要进行数据采集，然后对数据进行换算得出想要的数据。评估电路和像素性能是一个很重要的环节，测试芯片数量比较多，可能几十颗甚至上百颗，且每颗芯片需要抓拍很多图片进行分析，工作量还是比较大的，每颗测试的条件要保持一致，测试环境需放置密封的光箱内，通过该控制系统对数据进行采集和运算。现有的测试系统通常只能对CMOS传感器的电路和像素性能单一进行测试，并且只能测试一个CMOS传感器芯片。其存在测试功能少、测试数量少的技术问题。因此，提供一种测试功能齐全、测试芯片数量多、使用方便的测试系统就很有必要。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题。提供一种新的用于CMOS传感器的测试系统，该测试系统具有测试功能齐全、能够一次进行多芯片测试的特点。为解决上述技术问题，采用的技术方案如下：一种用于CM本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于CMOS传感器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括密封暗箱，提供平行光的平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，所述无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与所述无镜头CMOS传感器连接的测试板，所述测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；所述无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定架，所述测试板固定架固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接；所述测试系统中上位机位于密封光箱外，测试系统其余部分放置于密封光箱内；所述上位机通过串口控制控制单元进行升降台位置、平行光灯箱及U...

【技术特征摘要】
1.一种用于CMOS传感器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括密封暗箱，提供平行光的平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，所述无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与所述无镜头CMOS传感器连接的测试板，所述测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；所述无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定架，所述测试板固定架固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接；所述测试系统中上位机位于密封光箱外，测试系统其余部分放置于密封光箱...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：张家港市欧微自动化研发有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32