一种光收发芯片的自动测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光收发芯片的自动测试装置及方法，装置包括上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器；MCU控制模块与光收发芯片相连；USB转I2C模块连接于上位机测试模块和MCU控制模块之间；上位机测试模块用于通过MCU控制模块控制继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，完成参数测试和存储测试结果；EEPROM模块与光收发芯片相连用于将EEPROM的数据导入光收发芯片；稳压电源模块与光收发芯片和继电器开关分别相连用于提供直流电源。本发明专利技术通过将硬件电路与上位机测试软件进行结合，能快速、准确地对光收发芯片进行自动化测试，并对测试结果进行存储。

【技术实现步骤摘要】
一种光收发芯片的自动测试装置及方法
本专利技术涉及光收发芯片测试
，具体涉及一种光收发芯片的自动测试装置及方法。
技术介绍
光通信中光模块有着不可或缺的重要地位，光收发芯片是光收发模块中的集成电路，它是指光纤宽带网络物理层的主要基础芯片，包括跨阻放大器(TIA)、限幅放大器(LA)、激光驱动器(LDD)三种。它们被用于光纤传输的前端，来实现高速传输信号的光电、电光转换，这些功能被集成在光纤收发模块中。光收发芯片是光纤宽带网物理层的重要芯片，关系到光信号的传输质量。因此光网络设备、光收发模块都对这些IC芯片提出了苛刻的要求。因此，如何快速准确地测量光收发芯片的相关参数的测试并直观显示测试结果是非常重要的。现有测试中，大部分采用手动测试，首先需要手动进行输入控制参数，并手动导入测试数据配置表，然后依次对待测试项进行测试并进行人工判断测试结果是否符合要求，测试完成手动记录测试结果，待测试芯片多时，需消耗大量的人力和时间资源，而且长时间测试时容易导致出现错误。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种光收发芯片的自动测试装置及方法，主要用于测试光收发合一芯片，即限幅放大器(LA)和激光驱动器(LDD)集成一体化芯片，通过将硬件电路与上位机测试软件进行结合，能快速、准确地对光收发芯片进行自动化测试，并直观地显示测试结果及对测试结果进行存储。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种光收发芯片的自动测试装置，包括：上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器；所述MCU控制模块与所述光收发芯片相连；所述USB转I2C模块连接于所述上位机测试模块和MCU控制模块之间用于实现上位机测试模块的USB总线与MCU控制模块的I2C总线之间的通信；所述上位机测试模块用于进行复位测试和光收发芯片的RAM测试，并对光收发芯片进行数据初始化及导入测试数据配置表，通过所述MCU控制模块控制所述继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，检测正确后进入预设参数测试，测试完成输出测试结果；所述EEPROM模块与所述光收发芯片相连用于在数据初始化时EEPROM的数据通过数据线和时钟线正常导入所述光收发芯片；所述上位机测试模块与所述稳压电源模块相连用于监控稳压电源模块输出的直流电压值；所述稳压电源模块与所述光收发芯片和所述继电器开关分别相连用于提供稳压直流电源；所述继电器开关用于控制所述信号发生器的输出信号是否连接到光所述收发芯片上。优选的，所述稳压电源模块与所述光收发芯片相连用于提供+3.3V电源。优选的，所述稳压电源模块与所述继电器开关相连用于提供+5V电源。优选的，所述USB转I2C模块包括一USB接口和一CH341T芯片，所述USB接口通过USB数据线与上位机测试模块通信，并与所述CH341T芯片电连接；所述CH341T芯片通过其SDA引脚和SCL引脚与所述MCU控制模块相连。优选的，所述MCU控制模块包括一F330芯片，所述F330芯片的P0.4引脚与继电器开关K1的输入相连；其P0.1引脚与继电器开关K2的输入相连；其P0.2引脚与继电器开关K3的输入相连。优选的，所述光收发芯片包括与所述MCU控制模块相连的引脚RESET、SDA、SCL、TX_DISABLE、BIAS_P、TSENSE、MD、TX_FAULT、IROP、RREF和LOS_SD；还包括与继电器开关K1输出相连的LAIN引脚和与继电器开关K2输出相连的LAIP引脚；所述继电器开关K3的输出与所述IROP引脚相连。优选的，所述上位机测试模块包括依次相连的复位测试单元、RAM测试单元、OMA(光调制幅度)告警测试单元、ROP告警测试单元、ADC测试单元、TX_FAULT(发射告警)测试单元、LOWPOWER(低电压/断电)测试单元、模拟量测试单元、TX_DISABLE(发射不使能)测试单元和限幅放大器LA失调测试单元；所述模拟量测试单元用于对RREF、TX_FAULT、MD、BIAS_P、TSENSE、LOS_SD和IROP引脚的输出电压进行测试，还用于对限幅放大器LA和激光驱动器LDD的输出幅度进行测试。优选的，所述EEPROM模块包括一AT24C08芯片，所述AT24C08芯片的WA引脚用于接收高低电平切换，使得数据可以进行读取或保护，并使得数据初始化时EEPROM的数据通过其SDA引脚和SCL引脚正常导入所述光收发芯片。优选的，所述自动测试装置还包括示波器，所述示波器与所述光收发芯片相连用于输出检测波形。一种光收发芯片的自动测试方法，包括：使用稳压电源模块为光收发芯片提供+3.3V电源，为各继电器开关提供+5V电源；上位机测试模块依次进行复位测试和光收发芯片的RAM测试，并对光收发芯片进行数据初始化及导入测试数据配置表，通过MCU控制模块控制继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，检测正确后进入预设参数测试，测试完成输出测试结果；所述预设参数测试包括OMA告警测试、ROP告警测试、ADC测试、TX_FAULT测试、低电压测试、模拟量测试、TX_DISABLE测试和限幅放大器LA失调测试；所述模拟量测试包括对光收发芯片的RREF、TX_FAULT、MD、BIAS_P、TSENSE、LOS_SD和IROP引脚的输出电压进行测试，还包括对限幅放大器LA和激光驱动器LDD的输出幅度进行测试。本专利技术提供的技术方案带来的有益效果是：本专利技术的一种光收发芯片的自动测试装置及方法，装置包括上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器，所述上位机测试模块通过软件实现，所述USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块和稳压电源模块通过硬件电路实现，通过上位机测试模块对硬件电路控制与测试，实现快速、准确地对光收发芯片进行自动化测试，并直观地显示测试结果及对测试结果进行存储。以下结合附图及实施例对本专利技术作进一步详细说明；但本专利技术的一种光收发芯片的自动测试装置及方法不局限于实施例。附图说明图1为本专利技术光收发芯片的自动测试装置的整体框架图；图2为本专利技术实施例的稳压电源模块的电路图；图3为本专利技术实施例的USB转I2C模块的电路图；图4为本专利技术实施例的MCU控制模块的电路图；图5为本专利技术实施例的待测光收发芯片的电路图；图6为本专利技术实施例的EEPROM模块的电路图；图7为本专利技术实施例的软件测试流程图；图8为本专利技术实施例的上位机测试模块的界面图。具体实施方式参见图1所示，一种光收发芯片的自动测试装置，用于测试光收发芯片7，所述光收发芯片7为限幅放大器(LA)和激光驱动器(LDD)集成一体化芯片，所述自动化测试装置包括：上位机测试模块1、USB转I2C模块2、MCU控制模块3、继电器开关4、EEPROM模块5、稳压电源模块6和信号发生器8；所述MCU控制模块3与所述光收发芯片7相连；所述USB转I2C模块2连接于所述上位机测试模块1和MCU控制模块3之间用于实现上位机测试模块1的USB总线与MCU控制模块3的I2C总线之间的通信；所述上位机测试模块1用于进行复位测试和光收发芯片7的RAM测试，并对光收发芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，包括：上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器；所述MCU控制模块与所述光收发芯片相连；所述USB转I2C模块连接于所述上位机测试模块和MCU控制模块之间用于实现USB总线与I2C总线之间的通信；所述上位机测试模块用于进行复位测试和光收发芯片的RAM测试，并对光收发芯片进行数据初始化及导入测试数据配置表，通过所述MCU控制模块控制所述继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，检测正确后进入预设参数测试，测试完成输出和存储测试结果；所述EEPROM模块与所述光收发芯片相连用于在数据初始化时EEPROM的数据通过数据线和时钟线正常导入所述光收发芯片；所述上位机测试模块与所述稳压电源模块相连用于监控稳压电源模块输出的直流电压值；所述稳压电源模块与所述光收发芯片和所述继电器开关分别相连用于提供稳压直流电源；所述继电器开关用于控制所述信号发生器的输出信号是否连接到光所述收发芯片上。

【技术特征摘要】
1.一种光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，包括：上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器；所述MCU控制模块与所述光收发芯片相连；所述USB转I2C模块连接于所述上位机测试模块和MCU控制模块之间用于实现USB总线与I2C总线之间的通信；所述上位机测试模块用于进行复位测试和光收发芯片的RAM测试，并对光收发芯片进行数据初始化及导入测试数据配置表，通过所述MCU控制模块控制所述继电器开关实现高低电平切换，对寄存器地址进行检测判断，检测正确后进入预设参数测试，测试完成输出和存储测试结果；所述EEPROM模块与所述光收发芯片相连用于在数据初始化时EEPROM的数据通过数据线和时钟线正常导入所述光收发芯片；所述上位机测试模块与所述稳压电源模块相连用于监控稳压电源模块输出的直流电压值；所述稳压电源模块与所述光收发芯片和所述继电器开关分别相连用于提供稳压直流电源；所述继电器开关用于控制所述信号发生器的输出信号是否连接到光所述收发芯片上。2.根据权利要求1所述的光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，所述稳压电源模块与所述光收发芯片相连用于提供+3.3V电源。3.根据权利要求1所述的光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，所述稳压电源模块与所述继电器开关相连用于提供+5V电源。4.根据权利要求1所述的光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，所述USB转I2C模块包括一USB接口和一CH341T芯片，所述USB接口通过USB数据线与上位机测试模块通信，并与所述CH341T芯片电连接；所述CH341T芯片通过其SDA引脚和SCL引脚与所述MCU控制模块相连。5.根据权利要求1所述的光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，所述MCU控制模块包括一F330芯片，所述F330芯片的P0.4引脚与继电器开关K1的输入相连；其P0.1引脚与继电器开关K2的输入相连；其P0.2引脚与继电器开关K3的输入相连。6.根据权利要求5所述的光收发芯片的自动测试装置，其特征在于，所述光收发芯片包括与所述MCU控制模块相连的引脚RESET、SDA、SCL、TX_DISABLE、BIAS_P、T...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄秋伟，
申请(专利权)人：厦门优迅高速芯片有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35