光收发芯片制造技术

本发明专利技术公开了一种光收发芯片

【技术实现步骤摘要】
光收发芯片ATE测试装置


[0001]本专利技术涉及光通信领域，特别是指一种光收发芯片
ATE
测试装置
。

技术介绍

[0002]光收发芯片是光收发模块中的集成电路芯片，一般包括跨阻放大器
、
限幅放大器
、
激光驱动器和时钟与数据恢复器
。
光收发芯片是光纤宽带网络物理层的主要基础芯片，其性能关系到光信号的传输质量
。
[0003]光收发芯片在生产过程中，由于工艺偏差会发生电路失配，从而导致量产的光收发芯片出现指标偏移情况；因此需要通过
ATE
（
Automatic Test Equipment
）测试对晶圆上的每一片光收发芯片进行测试，把不良品标记筛选出来
。
目前对光收发芯片进行测试的
ATE
测试机一般只能提供
1GHz
以下的低速测试信号，低速测试信号只能满足光收发芯片的低速通道进行交流测试的测试需求而无法满足光收发芯片的高速通道进行交流测试的测试需求，造成现有的
ATE
测试机无法直接对光收发芯片的高速通道进行交流测试；现有的解决办法是，
ATE
测试机外挂高速测试仪器（如网络分析仪
、
误码仪和示波器；网络分析仪和误码仪可输出高速的模拟测试信号给光收发芯片，待测光收发芯片产生的高速模拟输出信号由网络分析仪
、
误码仪或示波器接收进行测试分析），高速测试仪器通过同轴线缆来连接与待测试光收发芯片配合的测试针卡
。
这种解决方式存在以下问题：
1、
高速测试仪器通过同轴线缆来连接测试针卡，同轴线缆会占据测试针卡很大的空间，这样就无法同时进行多个高速通道的测试；
2、
同轴线缆与测试针卡的连接不稳定，因而在对光收发芯片的高速通道进行交流测试时容易出现测试意外中断的问题；
3、
由于高速测试仪器与测试针卡的距离较大，导致同轴线缆的长度较长，这样高频信号通过同轴线缆传输会有很大衰减，影响对光收发芯片的高速通道进行交流测试的测试精度和测试准确性；
4、
不同的高速测试仪采用不同的通信接口，这样不方便
ATE
测试机与不同高速测试仪器进行通信管理
。
[0004]有鉴于上述问题的存在，有必要研究一种光收发芯片
ATE
测试装置，其能提高在对光收发芯片的高速通道进行交流测试时的测试效率
、
测试稳定性和测试准确性
。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种光收发芯片
ATE
测试装置，其能提高在对光收发芯片的高速通道进行交流测试时的测试效率
、
测试稳定性和测试准确性
。
[0006]为了达成上述目的，本专利技术的解决方案是：一种光收发芯片
ATE
测试装置，其包括测试针卡
、
以及集成于测试针卡的发射模块和接收模块；所述测试针卡包括针卡电路板
、
以及焊接在针卡电路板上的芯片外围电路
、
低
速接口以及探针模块，探针模块具有多根测试探针，探针模块与低速接口和芯片外围电路电连接；所述发射模块包括焊接在针卡电路板上的第一高速
DSP
处理器和数模转换阵列，第一高速
DSP
处理器通过数模转换阵列与芯片外围电路电连接；所述接收模块包括焊接在针卡电路板上的第二高速
DSP
处理器和模数转换阵列，第二高速
DSP
处理器通过模数转换阵列与芯片外围电路电连接
。
[0007]所述的光收发芯片
ATE
测试装置还包括集成于测试针卡的通信接口；所述通信接口焊接在针卡电路板上，通信接口与第一高速
DSP
处理器
、
第二高速
DSP
处理器和探针模块电连接
。
[0008]所述通信接口通过针卡电路板上的走线与第一高速
DSP
处理器
、
第二高速
DSP
处理器和探针模块电连接
。
[0009]所述第一高速
DSP
处理器通过针卡电路板上的走线与数模转换阵列的输入侧电连接，数模转换阵列的输出侧通过针卡电路板上的走线与芯片外围电路电连接；所述第二高速
DSP
处理器通过针卡电路板上的走线与模数转换阵列的输出侧电连接，模数转换阵列的输入侧通过针卡电路板上的走线与芯片外围电路电连接
。
[0010]所述芯片外围电路具有信号输入电路和信号输出电路，信号输入电路的输入侧与数模转换阵列的输出侧电连接，信号输出电路的输出侧与模数转换阵列的输入侧连接
。
[0011]所述芯片外围电路还具有芯片偏置电路
。
[0012]所述探针模块具有第一高速测试探针
、
第二高速测试探针和第三高速测试探针；所述信号输入电路包括信号衰减器和输入电容，信号衰减器的输入端电连接数模转换阵列的输出侧，信号衰减器的输出端通过输入电容电连接第一高速测试探针；所述信号输出电路包括第一输出电容和第二输出电容，第一输出电容的两端分别电连接第二高速测试探针和模数转换阵列的输入侧，第二输出电容的两端分别电连接第三高速测试探针和模数转换阵列的输入侧；所述芯片偏置电路包括电流源和电感，电流源通过电感电连接第一高速测试探针
。
[0013]所述的光收发芯片
ATE
测试装置还包括集成于测试针卡的通信接口；所述通信接口焊接在针卡电路板上，通信接口与第一高速
DSP
处理器
、
第二高速
DSP
处理器电连接；所述探针模块具有多根第一低速测试探针和多根第二低速测试探针，低速接口连接各根第一低速测试探针，通信接口连接各根第二低速测试探针
。
[0014]采用上述方案后，本专利技术的发射模块能给待测试的光收发芯片提供高速的模拟测试信号，光收发芯片接收到高速的模拟测试信号后产生相应的高速模拟输出信号给接收模块，接收模块对接收的高速模拟输出信号进行分析而获取光收发芯片的高速交流测试数据，高速交流测试数据发送到
ATE
测试机，由
ATE
测试机对高速交流测试数据进行判断而确认光收发芯片是否合格；这样本专利技术就能实现对光收发芯片的高速通道进行交流测试
。
[0015]本专利技术具有以下特点：
1、
一方面，由于发射模块和接收模块都是集成在测试针卡，这样设置，使得发射模块和接收模块与待测的光收发芯片的信号传输距离小，且发射模块和接收模块与待测的光收发芯片连接可靠；另一方面，本专利技术是由接收模块直接对光收发芯片输出的高速模拟输出信号进行分析而得到高速交流测试数据，这样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光收发芯片
ATE
测试装置，其特征在于：包括测试针卡
、
以及集成于测试针卡的发射模块和接收模块；所述测试针卡包括针卡电路板
、
以及焊接在针卡电路板上的芯片外围电路
、
低速接口以及探针模块，探针模块具有多根测试探针，探针模块与低速接口和芯片外围电路电连接；所述发射模块包括焊接在针卡电路板上的第一高速
DSP
处理器和数模转换阵列，第一高速
DSP
处理器通过数模转换阵列与芯片外围电路电连接；所述接收模块包括焊接在针卡电路板上的第二高速
DSP
处理器和模数转换阵列，第二高速
DSP
处理器通过模数转换阵列与芯片外围电路电连接
。2.
如权利要求1所述的光收发芯片
ATE
测试装置，其特征在于：还包括集成于测试针卡的通信接口；所述通信接口焊接在针卡电路板上，通信接口与第一高速
DSP
处理器
、
第二高速
DSP
处理器和探针模块电连接
。3.
如权利要求2所述的光收发芯片
ATE
测试装置，其特征在于：所述通信接口通过针卡电路板上的走线与第一高速
DSP
处理器
、
第二高速
DSP
处理器和探针模块电连接
。4.
如权利要求1所述的光收发芯片
ATE
测试装置，其特征在于：所述第一高速
DSP
处理器通过针卡电路板上的走线与数模转换阵列的输入侧电连接，数模转换阵列的输出侧通过针卡电路板上的走线与芯片外围电路电连接；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈哲，高泉川，黄秋伟，
申请(专利权)人：厦门优迅高速芯片有限公司，
类型：发明
国别省市：