一种射频器件的无引线老炼测试插座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成和底座；所述底座中间设置有通槽；所述上盖总成包括下盖、压块a和压块b；所述压块a和压块b的上半部可滑动设置在下盖上；所述压块a和压块b的下半部穿过通槽；所述压块a用于固定被试器件的壳体；所述压块b用于固定被试器件的引线；克服了现有技术中测试设备结构不合理容易对被试器件造成干涉以及测试过程中载流量小，测试频率低，测试准确性不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种射频器件的无引线老炼测试插座
本技术涉及测试工具
，尤其涉及一种射频器件的无引线老炼测试插座。
技术介绍
目前市面上的老炼测试插座，在测试一些引线较多的被试器件时候，对被试器件引线容易造成变形和损伤；同时被试器件在装夹过程中受力不均匀也容易被挤压变形受损。授权公告号为CN204439673U的一篇中国技术专利，其公开了一种活动定位老炼测试插座。其上盖总成和底座通过设置在一侧的轴和扭簧可翻转连接，底座上设置有与被试器件配合的空腔，空腔内设置有弹性接触件，底座中间设置有定位块，上盖总成上设置有活动压块，定位块保护了被试器件和弹性接触件，同时活动压块保护了被试器件。但是上述技术方案存在以下缺陷：1、上盖总成和底座翻转式的装配使得在压块较长时，上盖总成翻转过程中容易对被试器件造成干涉；2、弹性接触件的设置因其本身固有的载流量限制了老炼测试过程中的电流大小，同时其容易对测试信号产生干扰，测试的准确性不高。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足之处，克服了现有技术中测试设备结构不合理容易对被试器件造成干涉以及测试过程中载流量小，测试频率低，测试准确性不高的问题；提供了一种射频器件的无本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成(1)和底座(2)；其特征在于：所述底座(2)中间设置有通槽(21)；所述上盖总成(1)上可滑动设置有用于固定被试器件(10)壳体(101)的压块a(12)和用于固定被试器件(10)引线(102)的压块b(13)，该压块a(12)和压块b(13)的下半部均穿过所述通槽(21)。

【技术特征摘要】
1.一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成(1)和底座(2)；其特征在于：所述底座(2)中间设置有通槽(21)；所述上盖总成(1)上可滑动设置有用于固定被试器件(10)壳体(101)的压块a(12)和用于固定被试器件(10)引线(102)的压块b(13)，该压块a(12)和压块b(13)的下半部均穿过所述通槽(21)。2.根据权利要求1所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述上盖总成(1)包括上盖(14)和下盖(11)，该下盖(11)上设置有分别与所述压块a(12)和压块b(13)相对应的安装槽a(111)和安装槽b(112)，该压块a(12)和压块b(13)的上半部分别滑动设置在对应的安装槽a(111)和安装槽b(112)内。3.根据权利要求2所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述安装槽a(111)和安装槽b(112)内均安装有压缩弹簧(15)。4.根据权利要求3所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述压块a(12)和压块b(13)的上端部分别对应设置有用于放置压缩弹簧(15)的弹簧安装槽a(120)和弹簧...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗小庆，
申请(专利权)人：长兴思瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33