一种射频器件的无引线老炼测试插座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成和底座；所述底座中间设置有通槽；所述上盖总成包括下盖、压块a和压块b；所述压块a和压块b的上半部可滑动设置在下盖上；所述压块a和压块b的下半部穿过通槽；所述压块a用于固定被试器件的壳体；所述压块b用于固定被试器件的引线；克服了现有技术中测试设备结构不合理容易对被试器件造成干涉以及测试过程中载流量小，测试频率低，测试准确性不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种射频器件的无引线老炼测试插座
本技术涉及测试工具
，尤其涉及一种射频器件的无引线老炼测试插座。
技术介绍
目前市面上的老炼测试插座，在测试一些引线较多的被试器件时候，对被试器件引线容易造成变形和损伤；同时被试器件在装夹过程中受力不均匀也容易被挤压变形受损。授权公告号为CN204439673U的一篇中国技术专利，其公开了一种活动定位老炼测试插座。其上盖总成和底座通过设置在一侧的轴和扭簧可翻转连接，底座上设置有与被试器件配合的空腔，空腔内设置有弹性接触件，底座中间设置有定位块，上盖总成上设置有活动压块，定位块保护了被试器件和弹性接触件，同时活动压块保护了被试器件。但是上述技术方案存在以下缺陷：1、上盖总成和底座翻转式的装配使得在压块较长时，上盖总成翻转过程中容易对被试器件造成干涉；2、弹性接触件的设置因其本身固有的载流量限制了老炼测试过程中的电流大小，同时其容易对测试信号产生干扰，测试的准确性不高。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足之处，克服了现有技术中测试设备结构不合理容易对被试器件造成干涉以及测试过程中载流量小，测试频率低，测试准确性不高的问题；提供了一种射频器件的无引线老炼测试插座。一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成和底座；所述底座中间设置有通槽；所述上盖总成上可滑动设置有用于固定被试器件壳体的压块a和用于固定被试器件引线的压块b，该压块a和压块b的下半部均穿过所述通槽。作为一种优选，所述上盖总成包括上盖和下盖，该下盖上设置有分别与所述压块a和压块b相对应的安装槽a和安装槽b，该压块a和压块b的上半部分别滑动设置在对应的安装槽a和安装槽b内。作为一种优选，所述安装槽a和安装槽b内均安装有压缩弹簧。作为一种优选，所述压块a和压块b的上端部分别对应设置有用于放置压缩弹簧的弹簧安装槽a和弹簧安装槽b。作为一种优选，所述压块a和压块b的数量均设置多个。作为一种优选，所述压块a前后对称设置，压块b左右对称设置在压块a的两侧。作为一种优选，所述底座上设置有用于将底座安装在被试器件上的螺丝固定孔。作为一种优选，还包括卡勾，所述卡勾左右对称设置在上盖总成的两侧，与卡勾配合在底座的两侧设置有勾角；所述上盖总成通过卡勾和勾角扣接在底座上。作为一种优选，所述卡勾包括钩子、轴和扭簧。作为又一种优选，所述上盖总成和底座均由添加玻璃纤维的工程塑料制成。本技术的有益效果：(1)本技术中在底座上设置通槽，使上盖总成上的压块a和压块b之间穿过底座，压块a压被试器件的壳体，压块b压被试器件的引线，省去了额外的接触件，没有了接触件降低了电阻，避免了由于接触件的固有载流量而限制了测试过程中的电流大小，增大了载流量提高了测试的频率，大大提高了测试的准确性。(2)本技术中前后对称设置两个压块a对被试器件壳体进行固定，左右对称设置六个压块b对引线进行固定，提高了被试器件的接粗可靠性，使固定更加牢靠稳定。(3)本技术中上盖总成通过设置在两侧的卡勾扣接在底座上，避免了由于压块较长，上盖总成在翻转过程中对被试器件造成干涉。(4)本技术中上盖总成和底座采用添加了玻璃纤维的工程塑料制成，机械强度、耐高低温、耐腐蚀性能好，使用寿命长。(5)本技术中通过在底座上设置四个螺丝固定孔，便于用户安装在被试器件上。附图说明为了更清楚的说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图1为射频器件的无引线老炼测试插座的结构示意图。图2为射频器件的无引线老炼测试插座底座的示意图。图3为射频器件的无引线老炼测试插座上盖总成的示意图。图4为射频器件的无引线老炼测试插座上盖总成的下盖俯视示意图。图5为射频器件的无引线老炼测试插座底座的俯视示意图。图6为被试器件的正视结构示意图。图7为被试器件的俯视结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明。实施例图1为射频器件的无引线老炼测试插座的结构示意图，图2为射频器件的无引线老炼测试插座底座的示意图，图3为射频器件的无引线老炼测试插座上盖总成的示意图，图4为射频器件的无引线老炼测试插座上盖总成的下盖俯视示意图，图5为射频器件的无引线老炼测试插座底座的俯视示意图，图6为被试器件的正视结构示意图，图7为被试器件的俯视结构示意图。如图1、图2、图3、图4、图5、图6和图7所示，一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成1和底座2；所述底座2中间设置有通槽21，省去了额外的接触件，没有了接触件降低了电阻，避免了由于接触件的固有载流量而限制了测试过程中的电流大小，增大了载流量提高了测试的频率，大大提高了测试的准确性；所述上盖总成1上可滑动设置有用于固定被试器件10壳体101的压块a12和用于固定被试器件10引线102的压块b13，该压块a12和压块b13的下半部均穿过所述通槽21，压块a12和压块b13的形状均为T型状；所述上盖总成1包括上盖14和下盖11，该下盖11上设置有分别与所述压块a12和压块b13相对应的安装槽a111和安装槽b112，该压块a12和压块b13的上半部分别滑动设置在对应的安装槽a111和安装槽b112内；所述安装槽a111和安装槽b112内均安装有压缩弹簧15，此处被试器件可以是电路板，电路板质地脚软，利用弹簧的缓冲性可以防止压块对电路板造成损伤；所述压块a12和压块b13的上端部分别对应设置有用于放置压缩弹簧15的弹簧安装槽a120和弹簧安装槽b(130)；所述压块a12和压块b13的数量均设置多个，此处优选设置两个压块a和六个压块b，对引线的固定单边三个分段固定的设计提高了被试器件的接粗可靠性；所述压块a12前后对称设置，压块b13左右对称设置在压块a12的两侧；所述底座2上设置有用于将底座2安装在被试器件10上的螺丝固定孔；还包括卡勾16，所述卡勾16左右对称设置在上盖总成1的两侧，与卡勾16配合在底座2的两侧设置有勾角22；所述上盖总成1通过卡勾16和勾角22扣接在底座2上，避免了由于压块较长，上盖总成在翻转过程中对被试器件造成干涉；所述卡勾16包括钩子161、轴162和扭簧163；所述上盖总成1和底座2均由添加玻璃纤维的工程塑料制成，机械强度、耐高低温、耐腐蚀性能好。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“前后”、“左右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或部件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对技术的限制。当然在本技术方案中，本领域的技术人员应当理解的是，术语“一”应理解为“至少一个”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成(1)和底座(2)；其特征在于：所述底座(2)中间设置有通槽(21)；所述上盖总成(1)上可滑动设置有用于固定被试器件(10)壳体(101)的压块a(12)和用于固定被试器件(10)引线(102)的压块b(13)，该压块a(12)和压块b(13)的下半部均穿过所述通槽(21)。

【技术特征摘要】
1.一种射频器件的无引线老炼测试插座，包括上盖总成(1)和底座(2)；其特征在于：所述底座(2)中间设置有通槽(21)；所述上盖总成(1)上可滑动设置有用于固定被试器件(10)壳体(101)的压块a(12)和用于固定被试器件(10)引线(102)的压块b(13)，该压块a(12)和压块b(13)的下半部均穿过所述通槽(21)。2.根据权利要求1所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述上盖总成(1)包括上盖(14)和下盖(11)，该下盖(11)上设置有分别与所述压块a(12)和压块b(13)相对应的安装槽a(111)和安装槽b(112)，该压块a(12)和压块b(13)的上半部分别滑动设置在对应的安装槽a(111)和安装槽b(112)内。3.根据权利要求2所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述安装槽a(111)和安装槽b(112)内均安装有压缩弹簧(15)。4.根据权利要求3所述的一种射频器件的无引线老炼测试插座，其特征在于，所述压块a(12)和压块b(13)的上端部分别对应设置有用于放置压缩弹簧(15)的弹簧安装槽a(120)和弹簧...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗小庆，
申请(专利权)人：长兴思瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33