键盘装置及其按键状态的检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种键盘装置及其按键状态的检测方法。此检测方法包括以下步骤：将键盘装置的按键模块的第一线驱动至第一电位，且检测对应于按键模块的每一条第二线的任一按键是否有被按压以作为第一检测结果。将第二线驱动至第一电位，且检测对应于每一条第一线的按键是否有被按压以作为第二检测结果。依序地选取其中一条第一线，并通过第二线来对所选取的第一线的每一按键的被按压状态进行扫描，从而产生粗略扫描结果。根据第一检测结果、第二检测结果与粗略扫描结果取得每一按键的被按压状态以及决定每一按键的被按压状态是否被误判。本发明专利技术可提升键盘装置的扫描速度，且可精确地判断每一个按键是否被按压。

Keyboard device and method for detecting key state thereof

The invention provides a keyboard device and a method for detecting the key state of the keyboard device. The detection method comprises the following steps: the first key module keyboard device driver to the first potential, and the detection corresponding to the key module of each one second if there is any key is pressed as a first test results. A second line is driven to a first potential, and a keystroke corresponding to each of the first lines is detected to be pressed to act as a second detection result. Sequentially select one of the first lines and scan the pressed state of each key of the selected first line by a second line to produce a rough scan result. According to the first detection result, the second detection result and the rough scanning result, the pressing state of each keystroke is obtained, and whether the pressing state determining whether each keystroke is wrongly determined is wrong. The invention can improve the scanning speed of the keyboard device, and can accurately judge whether each keystroke is pressed.

【技术实现步骤摘要】
键盘装置及其按键状态的检测方法
本专利技术涉及一种键盘装置，尤其涉及一种可避免按键误判情况的键盘装置及其按键状态的检测方法。
技术介绍
请参照图1，图1显示已知的键盘装置100。键盘装置100中可包括按键SW1～SW4以及比较器10、比较器20。按键SW1耦接在驱动线DL1与感测线SL1之间；按键SW2耦接在驱动线DL1与感测线SL2之间；按键SW3耦接在驱动线DL2与感测线SL1之间；按键SW4耦接在驱动线DL2与感测线SL2之间。比较器10耦接到感测线SL1以接收电压信号SV1，并将电压信号SV1与参考电压Vref进行比较。同样地，比较器20耦接到感测线SL2以接收电压信号SV2，并将电压信号SV2与参考电压Vref进行比较。在进行按键SW1～SW4的被按压状态的检测动作时，可将驱动线DL1驱动至一电压位准且将驱动线DL2驱动至另一电压位准。按键SW1及SW2可在驱动线DL1被驱动至上述电压位准时，依据其被按压的状态而分别通过感测线SL1、SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20，再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW1、按键SW2的被按压状态。同样地，按键SW3及SW4可在驱动线DL2被驱动至上述电压位准时，依据其被按压的状态而通过感测线SL1、感测线SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20，再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW3、按键SW4的被按压状态。可以理解的是，当键盘装置中的按键的数量越多而导致键盘装置中的感测线的数量增加时，将使耦接在感测线以进行电压比较的比较器的数量也需越多。然而，上述这些比较器会因为制程上的偏置而产生误差，可能会对按键的被按压状态产生误判。因此，上述的每一个比较器都必须进行校正(calibration)以取得其偏差值(offset)，如此方能精准地检测出相对应的按键的被按压状态。由于上述的按键状态的检测方式必须储存每一个比较器的偏差值，故会耗费较多的电路资源。另一方面，可以只采用一个校正精准的比较器，以使此一校正精准的比较器可依序地对多条感测线中的其中一条的电压信号进行比较。然而，如此的按键状态的检测方式无法同时并行地对所有的感测线的电压信号进行比较，故检测速度较慢。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种键盘装置及其按键状态的检测方法，可精准地且快速地判断出按键的被按压状态。本专利技术的键盘装置包括按键模块以及控制器。按键模块包括多个按键、至少一条第一线以及至少一条第二线，其中至少一条第一线与至少一条第二线耦接到此些按键以驱动此些按键或感测此些按键。控制器耦接到至少一条第一线与至少一条第二线。控制器于第一检测阶段并行驱动至少一条第一线至同一电位，且并行检测对应于各至少一条第二线的至少一个按键是否有被按压以作为第一检测结果。控制器于第一扫描阶段依序地选取至少一条第一线的其中一个，并通过至少一条第二线来对所选取的第一线的每一个按键的被按压状态进行并行扫描，从而产生粗略扫描结果。控制器于第一扫描阶段根据第一检测结果与粗略扫描结果而取得此些按键的每一个的被按压状态以及决定此些按键的每一个的被按压状态是否被误判。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器于第二检测阶段并行驱动至少一条第二线至同一电位，且并行检测对应于各至少一条第一线的至少一个按键是否有被按压以作为第二检测结果。控制器于第一扫描阶段以第二检测结果取代第一检测结果，并根据第二检测结果与粗略扫描结果而取得此些按键的每一个的被按压状态以及决定此些按键的每一个的被按压状态是否被误判。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器于第二检测阶段并行驱动至少一条第二线至同一电位，且并行检测对应于各至少一条第一线的至少一个按键是否有被按压以作为第二检测结果。控制器于第一扫描阶段根据第一检测结果、第二检测结果与粗略扫描结果而取得此些按键的每一个的被按压状态以及决定此些按键的每一个的被按压状态是否被误判。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器在第一检测阶段根据第一检测结果来判断此些按键的至少一个是否被按压，若判断结果为是，控制器进入第二检测阶段。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器于第二检测阶段根据第一检测结果或第二检测结果来判断此些按键的至少一个是否被按压，若判断结果为是，控制器进入第一扫描阶段。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器于第一扫描阶段还根据第二检测结果与预设参数值来判断此些按键的每一个的被按压状态是否被误判。控制器根据第二检测结果来计算计数值，当计数值小于预设参数值，控制器判断此些按键的每一个的被按压状态未被误判。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器包括至少一第一接口电路、至少一第二接口电路、至少一第一比较电路、处理电路以及驱动电路。此至少一第一接口电路耦接到至少一条第一线以驱动或感测此至少一条第一线。此至少一第二接口电路耦接到至少一条第二线以驱动或感测此至少一条第二线。至少一第一比较电路耦接到至少一条第二线。处理电路耦接到至少一第一比较电路。驱动电路耦接到至少一第一接口电路、至少一第二接口电路与处理电路。驱动电路于第一检测阶段通过至少一第一接口电路并行驱动至少一条第一线至第一电位，至少一第二接口电路将至少一条第二线的电压与参考电压进行比较以产生第一检测结果。驱动电路于第二检测阶段通过至少一第二接口电路并行驱动至少一条第二线至第一电位，至少一第一接口电路将至少一条第一线的电压与参考电压进行比较以产生第二检测结果。处理电路于第一扫描阶段依序地选取至少一条第一线的其中一个，处理电路通过驱动电路与至少一第一接口电路驱动所选取的至少一条第一线的其中该者至第一电位且驱动至少一条第一线的其余者至第二电位，至少一第一比较电路接收至少一条第二线的电压以作为至少一第一扫描电压，至少一第一比较电路将至少一第一扫描电压与比较电压进行比较以产生粗略扫描结果。在本专利技术的一实施例中，上述的控制器还包括第二比较电路。第二比较电路耦接到至少一条第二线与处理电路。当处理电路于第一扫描阶段判断此些按键的至少一个的被按压状态被误判时，处理电路进入第二扫描阶段并通过至少一第一接口电路的一对应者来将对应于被误判的按键的第一线驱动至第一电位且将至少一条第一线的其余者驱动至第二电位，处理电路启动第二比较电路使第二比较电路接收被误判的按键的第二线的电压以作为第二扫描电压，第二比较电路将第二扫描电压与比较电压进行比较以判断被误判的按键是否被按压。至少一第一比较电路为不具备校正机制的比较电路，且第二比较电路为具备校正机制的比较电路或是具备校正机制的模拟至数字转换器。在本专利技术的一实施例中，上述的至少一第一接口电路或至少一第二接口电路为至少一焊垫电路(padcircuit)或至少一通用输入输出(GeneralPurposeInputOutput，GPIO)电路。在本专利技术的一实施例中，上述的处理电路于第一扫描阶段根据第二检测结果而依序地选取至少一条第一线的其中该者，其中对应于所选取的第一线上的至少一个按键有被按压。在本专利技术的一实施例中，上述的各至少一条第二线的至少一个按键的被按压状态是否被误判与各至少一条第二线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘装置，其特征在于，包括：按键模块，包括多个按键、至少一条第一线以及至少一条第二线，其中所述至少一条第一线与所述至少一条第二线耦接到所述多个按键以驱动所述多个按键或感测所述多个按键；以及控制器，耦接到所述至少一条第一线与所述至少一条第二线，其中：所述控制器于第一检测阶段并行驱动所述至少一条第一线至同一电位，且并行检测对应于各所述至少一条第二线的至少一个按键是否有被按压以作为第一检测结果；所述控制器于第一扫描阶段依序地选取所述至少一条第一线的其中一个，并通过所述至少一条第二线来对所选取的所述第一线的每一个按键的被按压状态进行并行扫描，从而产生粗略扫描结果；以及所述控制器于所述第一扫描阶段根据所述第一检测结果与所述粗略扫描结果而取得所述多个按键的每一个的被按压状态以及决定所述多个按键的每一个的被按压状态是否被误判。

【技术特征摘要】
2015.12.14 TW 1041419781.一种键盘装置，其特征在于，包括：按键模块，包括多个按键、至少一条第一线以及至少一条第二线，其中所述至少一条第一线与所述至少一条第二线耦接到所述多个按键以驱动所述多个按键或感测所述多个按键；以及控制器，耦接到所述至少一条第一线与所述至少一条第二线，其中：所述控制器于第一检测阶段并行驱动所述至少一条第一线至同一电位，且并行检测对应于各所述至少一条第二线的至少一个按键是否有被按压以作为第一检测结果；所述控制器于第一扫描阶段依序地选取所述至少一条第一线的其中一个，并通过所述至少一条第二线来对所选取的所述第一线的每一个按键的被按压状态进行并行扫描，从而产生粗略扫描结果；以及所述控制器于所述第一扫描阶段根据所述第一检测结果与所述粗略扫描结果而取得所述多个按键的每一个的被按压状态以及决定所述多个按键的每一个的被按压状态是否被误判。2.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器于第二检测阶段并行驱动所述至少一条第二线至同一电位，且并行检测对应于各所述至少一条第一线的至少一个按键是否有被按压以作为第二检测结果；以及所述控制器于所述第一扫描阶段以所述第二检测结果取代所述第一检测结果，并根据所述第二检测结果与所述粗略扫描结果而取得所述多个按键的每一个的被按压状态以及决定所述多个按键的每一个的被按压状态是否被误判。3.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器于第二检测阶段并行驱动所述至少一条第二线至同一电位，且并行检测对应于各所述至少一条第一线的至少一个按键是否有被按压以作为第二检测结果；以及所述控制器于所述第一扫描阶段根据所述第一检测结果、所述第二检测结果与所述粗略扫描结果而取得所述多个按键的每一个的被按压状态以及决定所述多个按键的每一个的被按压状态是否被误判。4.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器在所述第一检测阶段根据所述第一检测结果来判断所述多个按键的至少一个是否被按压，若判断结果为是，所述控制器进入所述第二检测阶段。5.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器于所述第二检测阶段根据所述第一检测结果或所述第二检测结果来判断所述多个按键的至少一个是否被按压，若判断结果为是，所述控制器进入所述第一扫描阶段。6.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器于所述第一扫描阶段还根据所述第二检测结果与预设参数值来判断所述多个按键的每一个的被按压状态是否被误判，其中所述控制器根据所述第二检测结果来计算计数值，当所述计数值小于所述预设参数值，所述控制器判断所述多个按键的每一个的被按压状态未被误判。7.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器包括：至少一第一接口电路，耦接到所述至少一条第一线以驱动或感测所述至少一条第一线；至少一第二接口电路，耦接到所述至少一条第二线以驱动或感测所述至少一条第二线；至少一第一比较电路，耦接到所述至少一条第二线；处理电路，耦接到所述至少一第一比较电路；以及驱动电路，耦接到所述至少一第一接口电路、所述至少一第二接口电路与所述处理电路，其中：所述驱动电路于所述第一检测阶段通过所述至少一第一接口电路并行驱动所述至少一条第一线至第一电位，所述至少一第二接口电路将所述至少一条第二线的电压与参考电压进行比较以产生所述第一检测结果；所述驱动电路于所述第二检测阶段通过所述至少一第二接口电路并行驱动所述至少一条第二线至所述第一电位，所述至少一第一接口电路将所述至少一条第一线的电压与所述参考电压进行比较以产生所述第二检测结果；以及所述处理电路于所述第一扫描阶段依序地选取所述至少一条第一线的其中一个，所述处理电路通过所述驱动电路与所述至少一第一接口电路驱动所选取的所述至少一条第一线的其中所述者至所述第一电位且驱动所述至少一条第一线的其余者至第二电位，所述至少一第一比较电路接收所述至少一条第二线的电压以作为至少一第一扫描电压，所述至少一第一比较电路将所述至少一第一扫描电压与比较电压进行比较以产生所述粗略扫描结果。8.根据权利要求7所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器还包括：第二比较电路，耦接到所述至少一条第二线与所述处理电路，其中，当所述处理电路于所述第一扫描阶段判断所述多个按键的至少一个的被按压状态被误判时，所述处理电路进入第二扫描阶段并通过所述至少一第一接口电路的对应者来将对应于被误判的所述按键的所述第一线驱动至所述第一电位且将所述至少一条第一线的其余者驱动至所述第二电位，所述处理电路启动所述第二比较电路使所述第二比较电路接收被误判的所述按键的所述第二线的电压以作为第二扫描电压，所述第二比较电路将所述第二扫描电压与所述比较电压进行比较以判断被误判的所述按键是否被按压，其中所述至少一第一比较电路为不具备校正机制的比较电路，且所述第二比较电路为具备校正机制的比较电路或是具备校正机制的模拟数字转换器。9.根据权利要求7所述的键盘装置，其特征在于，所述至少一第一接口电路或所述至少一第二接口电路为至少一焊垫电路或至少一通用输入输出电路。10.根据权利要求7所述的键盘装置，其特征在于，所述处理电路于所述第一扫描阶段根据所述第二检测结果而依序地选取所述至少一条第一线的其中该者，其中对应于所选取的所述第一线上的至少一个按键有被按压。11.根据权利要求3所述的键盘装置，其特征在于，所述控制器包括：至少一第一接口电路，耦接到所述至少一条第一线以驱动或感测所述至少一条第一线；至少一第二接口电路，耦接到所述至少一条第二线以驱动或感测所述至少一条第二线；处理电路，耦接到所述至少一第一接口电路与所述至少一第二接口电路；以及驱动电路，耦接到所述至少一第一接口电路、所述至少一第二接口电路与所述处理电路，其中：所述驱动电路于所述第一检测阶段通过所述至少一第一接口电路并行驱动所述至少一条第一线至第一电位，所述至少一第二接口电路将所述至少一条第二线的电压与参考电压进行比较以产生所述第一检测结果；所述驱动电路于所述第二检测阶段通过所述至少一第二接口电路并行驱动所述至少一条第二线至所述第一电位，所述至少一第一接口电路将所述至少一条第一线的电压与所述参考电压进行比较以产生所述第二检测结果；以及所述处理电路于所述第一扫描阶段依序地选取所述至少一条第一线的其中一个，所述处理电路通过所述驱动电路与所述至少一第一接口电路驱动所选取的所述至少一条第一线的其中该者至所述第一电位且驱动所述至少一条第一线的其余...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡安绮，周家源，
申请(专利权)人：联阳半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71