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本发明提供一种键盘装置及其按键状态的检测方法。此检测方法包括以下步骤：将键盘装置的按键模块的第一线驱动至第一电位，且检测对应于按键模块的每一条第二线的任一按键是否有被按压以作为第一检测结果。将第二线驱动至第一电位，且检测对应于每一条第一线的...
该专利属于联阳半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联阳半导体股份有限公司授权不得商用。

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